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公开(公告)号:CN106571290A
公开(公告)日:2017-04-19
申请号:CN201610868198.4
申请日:2016-09-30
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
Inventor: 瑞姆瓦尔·彼德
IPC: H01L21/02
CPC classification number: H01L21/0228 , C23C16/40 , C23C16/45531 , H01L21/02178 , H01L21/02205 , H01L21/02175
Abstract: 本发明的实施例提供一种含铝层的形成方法。上述方法包括:提供基材至原子层沉积室中;以及于原子层沉积室中,进行一或多次的包含第一步骤和第二步骤的一循环,以提供复合层,其中进行此循环的第一步骤包含:施加第一前驱物至基材上,第一前驱物包括具有第一分子量的非铝基成分;以及施加第二前驱物至基材上,第二前驱物包含具有第二分子量的含铝成分,其中第二分子量小于第一分子量,且进行此循环的第二步骤包含:施加第一前驱物至基材上。本发明的方法可制得厚度较薄且低铝原子百分比的含铝层。
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公开(公告)号:CN109860282A
公开(公告)日:2019-06-07
申请号:CN201811002450.9
申请日:2018-08-30
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L29/739 , H01L29/205 , H01L21/331 , H01L29/417 , B82Y10/00
Abstract: 一种穿隧式场效晶体管包含第一源极/漏极层、第二源极/漏极层以及半导体中间层。第一源极/漏极层包含第一极性侧壁。第二源极/漏极层围绕第一源极/漏极层,第二源极/漏极层与第一源极/漏极层具相反导电类型,半导体中间层位于第二源极/漏极层与第一源极/漏极层的第一极性侧壁之间。
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