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公开(公告)号:CN103515417A
公开(公告)日:2014-01-15
申请号:CN201210414968.X
申请日:2012-10-25
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L29/06 , H01L21/314 , H01L21/02
CPC classification number: H01L21/02271 , H01L21/02164 , H01L21/0217 , H01L23/53295 , H01L2924/0002 , H01L21/76297 , H01L27/02 , H01L2924/00
Abstract: 一种集成电路包括衬底和钝化层。钝化层包括形成在衬底上方的用于钝化的底部介电层、形成在底部介电层上方的用于钝化的掺杂介电层、和形成在掺杂介电层上方的用于钝化的顶部介电层。本发明提供了一种钝化方案。
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公开(公告)号:CN103515417B
公开(公告)日:2016-08-17
申请号:CN201210414968.X
申请日:2012-10-25
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L29/06 , H01L21/314 , H01L21/02
CPC classification number: H01L21/02271 , H01L21/02164 , H01L21/0217 , H01L23/53295 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种集成电路包括衬底和钝化层。钝化层包括形成在衬底上方的用于钝化的底部介电层、形成在底部介电层上方的用于钝化的掺杂介电层、和形成在掺杂介电层上方的用于钝化的顶部介电层。本发明提供了一种钝化结构及其形成方法。
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