半导体晶片的切割方法以及用于该方法的半导体加工用切割带

    公开(公告)号:CN103426743B

    公开(公告)日:2017-12-08

    申请号:CN201310170774.4

    申请日:2013-05-10

    Abstract: 本发明提供一种半导体晶片的切割方法以及半导体加工用切割带,所述切割方法包括:(a)通过接合剂将支撑部件贴合在半导体晶片的电路面侧的工序;(b)对与该晶片的电路面相反一侧的背面进行薄片化加工的工序;(c)在与该晶片的电路面相反一侧的背面上,贴合至少具有紫外线固化型粘合剂层的切割带的工序;(d)将该晶片从该接合剂层以及支撑部件上剥离的工序;(e)使用有机溶剂对该半导体晶片上的该接合剂的残渣进行清洗的工序;以及(f)对该半导体晶片进行切断和芯片化的工序,其中,在所述(e)工序之前,所述切割带上未贴合有所述半导体晶片的区域的粘合剂层经紫外线照射进行了固化。

    半导体加工用粘合带
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105684131B

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201480057866.4

    申请日:2014-03-03

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工用粘合带,其在使用支撑构件的半导体元件制造工序中,即使在用于清洗将支撑构件贴合于半导体晶片的粘接剂的残渣的清洗液淋到粘合剂的情况下,粘合剂亦不会溶解并污染半导体元件,且具备支撑构件的物理性、机械性剥离时所需的牢固的粘接性。本发明的半导体加工用粘合带为于基材树脂薄膜的至少一个面上形成有辐射线固化性的粘合剂层的半导体加工用粘合带,其特征在于,所述粘合剂层的紫外线照射前的凝胶百分数为65%以上且100%以下,且所述粘合剂层的紫外线照射前的探针粘性试验(probe tack test)的峰值为100~600kPa。

    半导体晶片加工用粘合片
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102714151A

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN201180005830.8

    申请日:2011-03-29

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种半导体晶片加工用粘合片,该半导体晶片加工用粘合片即使是在晶片背面直接贴合有切割片的装置中,也能够在切割工序结束后容易地进行剥离,并且可显著减少污染物质的附着。本发明的半导体晶片加工用粘合片为由放射线透过性的基材树脂膜与该基材树脂膜上的粘合剂层形成的半导体晶片加工用粘合片,其中,该粘合剂层是由使用了下述放射线固化性树脂组合物(I)或放射线固化性树脂组合物(II)中的任意之一的层而构成的,所述放射线固化性树脂组合物(I)中,相对于以聚合物(a)为主成分的基础树脂100质量份,含有由凝胶渗透色谱法测定并以聚苯乙烯为标准物质进行换算的重均分子量小于1000的光聚合引发剂(b)0.1质量份~10质量份,该聚合物(a)中,对于主链的重复单元结合了具有(甲基)丙烯酸系单体部分的残基,所述(甲基)丙烯酸系单体部分具有包含放射线固化性碳-碳双键的基团;所述放射线固化性树脂组合物(II)中,相对于基础树脂100质量份,含有在分子内至少具有2个光聚合性碳-碳双键且重均分子量为10,000以下的化合物1质量份~300质量份、由凝胶渗透色谱法测定并以聚苯乙烯为标准物质进行换算的重均分子量小于1000的光聚合引发剂0.1质量份~10质量份。

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