半导体基板
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111146212B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202010013803.6

    申请日:2020-01-07

    Abstract: 一种半导体基板,包括基板、第一金属氧化物半导体层、第一绝缘层、第一导电层、第二绝缘层、第二导电层及第二金属氧化物半导体层。第一晶体管包括第一金属氧化物半导体层的第一金属氧化物半导体图案、第一导电层的第一栅极、第二导电层的第一源极和第二导电层的第一漏极。第二晶体管包括第一金属氧化物半导体层的第二金属氧化物半导体图案、第一导电层的第二栅极、第二导电层的第二源极、第二导电层的第二漏极和第二金属氧化物半导体层的第三金属氧化物半导体图案。

    半导体元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN102097324B

    公开(公告)日:2012-12-12

    申请号:CN201010529260.X

    申请日:2010-10-22

    Abstract: 一种半导体元件及其制造方法,该半导体元件包括栅极、覆盖栅极的绝缘层、位于绝缘层上方的源极以及漏极、位于栅极以及源极与漏极之间的金属氧化物半导体通道层、以及覆盖金属氧化物半导体通道层以及源极与漏极的保护层。特别是,保护层包括主体材料以及含氧化物官能基成份,所述含氧官能基成份与主体材料产生键结,且含氧官能基成份与金属氧化物半导体通道层产生键结。由于本发明的半导体元件中的保护层的含氧官能基成份会与金属氧化物半导体通道层产生键结,使得金属氧化物半导体通道层的载子浓度降低。因此使用上述金属氧化物半导体通道层之薄膜晶体管之元件特性便转变成增强型,因而可使其栅极启始电压等于0(Vg=0)时的漏电流变小。

    可挠式显示面板
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112331711A

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN202011209810.X

    申请日:2020-11-03

    Inventor: 林威廷 郑君丞

    Abstract: 提供一种可挠式显示面板,包括:可挠曲基板、驱动元件、发光元件、导电层以及导电通孔,可挠曲基板具有第一表面以及相对于第一表面的第二表面;驱动元件配置于可挠曲基板的第一表面上;发光元件配置于可挠曲基板的第一表面上,且电性连接驱动元件;导电层配置于可挠曲基板的第二表面上,导电层包括保护区,且保护区重叠于驱动元件以及发光元件;导电通孔至少贯穿可挠曲基板,且导电层的保护区通过导电通孔电性连接驱动元件或发光元件。

    薄膜晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN102403365B

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201110335122.2

    申请日:2011-10-26

    CPC classification number: H01L29/4908 H01L29/7869

    Abstract: 本发明公开了一种薄膜晶体管及其制造方法。该薄膜晶体管包括一基板、一栅极、一栅绝缘层、一源极与一漏极、一通道层、一第一图案化保护层以及一第二图案化保护层。栅极配置于基板上。栅绝缘层配置于栅极上。源极与漏极配置于栅绝缘层上。通道层位于源极与漏极上方或下方,其中通道层的一部分暴露于源极与漏极之间。第一图案化保护层配置于通道层的部分上,其中第一图案化保护层的材料包括一金属氧化物,且第一图案化保护层的厚度为50埃至300埃。第二图案化保护层覆盖第一图案化保护层、栅绝缘层以及源极与漏极。

    氧化物半导体薄膜晶体管结构与其制作方法

    公开(公告)号:CN102122673A

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:CN201110009623.1

    申请日:2011-01-12

    CPC classification number: H01L29/45 H01L29/66969 H01L29/78618 H01L29/7869

    Abstract: 本发明公开了一种氧化物半导体薄膜晶体管结构与其制作方法,该氧化物薄膜晶体管结构包含一基板、一栅极设置于基板上、一半导体绝缘层设置于基板与栅极上、一氧化物半导体层设置于半导体绝缘层上、一图案化半导体层设置于氧化物半导体层上、一源极与一漏极分别设置于图案化半导体层上,且源极与漏极为一金属层所构成。本发明所提供的氧化物半导体薄膜晶体管结构与其制作方法,是于氧化物半导体层与金属层之间添加一图案化半导体层,借此保护氧化物半导体层免于受到蚀刻液的破坏,同时可获得较低的电阻抗以形成欧姆接触,以得到较佳的电性。此外,更可减少工艺所需的光掩膜数目,同时搭配一湿式与一干式蚀刻工艺以达到降低生产成本的效果。

    半导体元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN102097324A

    公开(公告)日:2011-06-15

    申请号:CN201010529260.X

    申请日:2010-10-22

    Abstract: 一种半导体元件及其制造方法,该半导体元件包括栅极、覆盖栅极的绝缘层、位于绝缘层上方的源极以及漏极、位于栅极以及源极与漏极之间的金属氧化物半导体通道层、以及覆盖金属氧化物半导体通道层以及源极与漏极的保护层。特别是,保护层包括主体材料以及含氧化物官能基成份,所述含氧官能基成份与主体材料产生键结,且含氧官能基成份与金属氧化物半导体通道层产生键结。由于本发明的半导体元件中的保护层的含氧官能基成份会与金属氧化物半导体通道层产生键结,使得金属氧化物半导体通道层的载子浓度降低。因此使用上述金属氧化物半导体通道层之薄膜晶体管之元件特性便转变成增强型,因而可使其栅极启始电压等于0(Vg=0)时的漏电流变小。

    半导体基板
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111146212A

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN202010013803.6

    申请日:2020-01-07

    Abstract: 一种半导体基板,包括基板、第一金属氧化物半导体层、第一绝缘层、第一导电层、第二绝缘层、第二导电层及第二金属氧化物半导体层。第一晶体管包括第一金属氧化物半导体层的第一金属氧化物半导体图案、第一导电层的第一栅极、第二导电层的第一源极和第二导电层的第一漏极。第二晶体管包括第一金属氧化物半导体层的第二金属氧化物半导体图案、第一导电层的第二栅极、第二导电层的第二源极、第二导电层的第二漏极和第二金属氧化物半导体层的第三金属氧化物半导体图案。

    薄膜晶体管的制造方法
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101964309B

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:CN201010271305.8

    申请日:2010-09-01

    Abstract: 本发明公开一种薄膜晶体管的制造方法,包括:于基板上形成栅极;于基板上依序形成栅绝缘层、氧化物半导体层及紫外光遮蔽材料层以覆盖栅极;于栅极上方的紫外光遮蔽材料层上形成第一图案化光刻胶层;以第一图案化光刻胶层为掩模,图案化氧化物半导体层及紫外光遮蔽材料层以形成氧化物通道层;移除部分第一图案化光刻胶层以形成第二图案化光刻胶层,其中第二图案化光刻胶层暴露出部分紫外光遮蔽材料层;以第二图案化光刻胶层为掩模,图案化紫外光遮蔽材料层以形成紫外光遮蔽图案;移除第二图案化光刻胶层;以及形成彼此电性绝缘的源极与漏极。本发明由于紫外光遮蔽图案并未全面性覆盖于基板上,因此紫外光遮蔽图案不会导致紫外光完全无法穿透基板。

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