公开(公告)号：CN102175119A

公开(公告)日：2011-09-07

申请号：CN201110033771.7

申请日：2011-01-30

Applicant: 厦门大学

Inventor： 彭云峰 ,  郭隐彪 ,  王春景

IPC: G01B5/20

Abstract: 一种用于光学元件检测的三轴旋转工作平台，涉及一种旋转工作平台。提供一种可与三坐标测量机配用，实现复杂形状光学元件形面的精确测量的用于光学元件检测的三轴旋转工作平台。设有工作台、XY轴倾角调节平板、中轴、Z轴转角调节球面体、X轴倾角调节螺杆组、Y轴倾角调节螺杆组、Z轴转角调节螺杆组和底座。可直接作为三坐标测量机的工作平台，也可安装在三坐标测量机已有的工作台上。通过手动调整各个定位螺杆即可实现工作台平面的三维旋转，可使被测工件的测量盲区直接面对测量探头，从而在不改变三坐标测量机测头安装位置的前提下完成对被测工件的测量，实现对复杂形状光学元件异型面的精确测量。结构简单、操作方便、成本低。

公开(公告)号：CN102175119B

公开(公告)日：2012-05-23

申请号：CN201110033771.7

申请日：2011-01-30

Applicant: 厦门大学

Inventor： 彭云峰 ,  郭隐彪 ,  王春景

IPC: G01B5/20

Abstract: 一种用于光学元件检测的三轴旋转工作平台，涉及一种旋转工作平台。提供一种可与三坐标测量机配用，实现复杂形状光学元件形面的精确测量的用于光学元件检测的三轴旋转工作平台。设有工作台、XY轴倾角调节平板、中轴、Z轴转角调节球面体、X轴倾角调节螺杆组、Y轴倾角调节螺杆组、Z轴转角调节螺杆组和底座。可直接作为三坐标测量机的工作平台，也可安装在三坐标测量机已有的工作台上。通过手动调整各个定位螺杆即可实现工作台平面的三维旋转，可使被测工件的测量盲区直接面对测量探头，从而在不改变三坐标测量机测头安装位置的前提下完成对被测工件的测量，实现对复杂形状光学元件异型面的精确测量。结构简单、操作方便、成本低。