公开(公告)号：CN110836860B

公开(公告)日：2021-02-23

申请号：CN201911083632.8

申请日：2019-11-07

Applicant: 厦门大学

Inventor： 蔡国雄 ,  洪会青 ,  姚金 ,  叶龙芳 ,  柳清伙

IPC: G01N21/35

Abstract: 本发明公开了一种基于超构材料的表面增强红外基底及其分子检测方法，红外基底依次设有支撑衬底、均匀表面等离激元薄膜和周期阵列；通过调控周期阵列的周期，该红外基底的均匀表面等离激元薄膜与电偶极子模式相互耦合，使得后者的谐振波长发生变化，近场电场强度发生增强；当待测分子吸附或制备于该红外基底时，通过外部红外光谱设备，即可测试得到该待测分子的表面增强红外吸收光谱。所述均匀表面等离激元薄膜采用介电常数实部为负值的金属材料或介电材料制备，其厚度为大于200nm。检测方法为：(1)实验测试光谱获取；(2)理论仿真光谱获取；(3)评价函数构建；(4)反演求解；(5)结果分析。

公开(公告)号：CN110836860A

公开(公告)日：2020-02-25

申请号：CN201911083632.8

申请日：2019-11-07

Applicant: 厦门大学

Inventor： 蔡国雄 ,  洪会青 ,  姚金 ,  叶龙芳 ,  柳清伙

IPC: G01N21/35

Abstract: 本发明公开了一种基于超构材料的表面增强红外基底及其分子检测方法，红外基底依次设有支撑衬底、均匀表面等离激元薄膜和周期阵列；通过调控周期阵列的周期，该红外基底的均匀表面等离激元薄膜与电偶极子模式相互耦合，使得后者的谐振波长发生变化，近场电场强度发生增强；当待测分子吸附或制备于该红外基底时，通过外部红外光谱设备，即可测试得到该待测分子的表面增强红外吸收光谱。所述均匀表面等离激元薄膜采用介电常数实部为负值的金属材料或介电材料制备，其厚度为大于200nm。检测方法为：(1)实验测试光谱获取；(2)理论仿真光谱获取；(3)评价函数构建；(4)反演求解；(5)结果分析。