一种基于超构材料的表面增强红外基底及其分子检测方法

    公开(公告)号:CN110836860B

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN201911083632.8

    申请日:2019-11-07

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于超构材料的表面增强红外基底及其分子检测方法,红外基底依次设有支撑衬底、均匀表面等离激元薄膜和周期阵列;通过调控周期阵列的周期,该红外基底的均匀表面等离激元薄膜与电偶极子模式相互耦合,使得后者的谐振波长发生变化,近场电场强度发生增强;当待测分子吸附或制备于该红外基底时,通过外部红外光谱设备,即可测试得到该待测分子的表面增强红外吸收光谱。所述均匀表面等离激元薄膜采用介电常数实部为负值的金属材料或介电材料制备,其厚度为大于200nm。检测方法为:(1)实验测试光谱获取;(2)理论仿真光谱获取;(3)评价函数构建;(4)反演求解;(5)结果分析。

    一种基于石墨烯的反射型空间电光调制器

    公开(公告)号:CN107942539A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201711170004.4

    申请日:2017-11-17

    Applicant: 厦门大学

    CPC classification number: G02F1/0102 G02F1/011

    Abstract: 一种基于石墨烯的反射型空间电光调制器,涉及电光调制器件。设有空间光耦合模块和波导型电光调制模块;所述空间光耦合模块设有光学透明棱镜,所述波导型电光调制模块设有介质上包层、金属上外接电极、石墨烯上电极、电光介质芯层、金属下外接电极、石墨烯下电极和介质下衬底;当波导型电光调制模块在外加电压驱动下工作时,即可实现对空间光波的调制。采用全介质光波导,相较传统空间电光调制器的品质因子高,使得其谐振线宽窄,有望获得小的半波电压;相较传统的基于表面等离激元共振的空间电光调制器,可工作于横电波或横磁波,无偏振相关性。

    一种基于超材料红外光谱的纳米位移传感器及其检测方法

    公开(公告)号:CN105547158A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201510887387.1

    申请日:2015-12-04

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种基于超材料红外光谱的纳米位移传感器及其检测方法,涉及位移传感器件。所述基于超材料红外光谱的纳米位移传感器设有位移输入模块和超材料传感模块,所述超材料传感模块从下至上设有校准石墨烯层、支撑衬底层、周期阵列、中间介电层和传感石墨烯层;待测物体通过位移输入模块驱动传感石墨烯层上下移动,从而改变中间介电层的厚度;通过外部红外光谱设备观察传感谱线的移动方向和距离即可确定待测物体纳米量级位移。检测方法:(1)传感器校准;(2)状态归零;(3)位移输入;(4)信号读取;(5)结果分析,根据谱线-位置传感换算曲线得出待测物体纳米量级位移。

    一种基于超构材料的表面增强红外基底及其分子检测方法

    公开(公告)号:CN110836860A

    公开(公告)日:2020-02-25

    申请号:CN201911083632.8

    申请日:2019-11-07

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于超构材料的表面增强红外基底及其分子检测方法,红外基底依次设有支撑衬底、均匀表面等离激元薄膜和周期阵列;通过调控周期阵列的周期,该红外基底的均匀表面等离激元薄膜与电偶极子模式相互耦合,使得后者的谐振波长发生变化,近场电场强度发生增强;当待测分子吸附或制备于该红外基底时,通过外部红外光谱设备,即可测试得到该待测分子的表面增强红外吸收光谱。所述均匀表面等离激元薄膜采用介电常数实部为负值的金属材料或介电材料制备,其厚度为大于200nm。检测方法为:(1)实验测试光谱获取;(2)理论仿真光谱获取;(3)评价函数构建;(4)反演求解;(5)结果分析。

    一种基于超材料红外光谱的纳米位移传感器及其检测方法

    公开(公告)号:CN105547158B

    公开(公告)日:2018-02-27

    申请号:CN201510887387.1

    申请日:2015-12-04

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种基于超材料红外光谱的纳米位移传感器及其检测方法,涉及位移传感器件。所述基于超材料红外光谱的纳米位移传感器设有位移输入模块和超材料传感模块,所述超材料传感模块从下至上设有校准石墨烯层、支撑衬底层、周期阵列、中间介电层和传感石墨烯层;待测物体通过位移输入模块驱动传感石墨烯层上下移动,从而改变中间介电层的厚度;通过外部红外光谱设备观察传感谱线的移动方向和距离即可确定待测物体纳米量级位移。检测方法:(1)传感器校准;(2)状态归零;(3)位移输入;(4)信号读取;(5)结果分析,根据谱线‑位置传感换算曲线得出待测物体纳米量级位移。

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