光学微纳天线探针、探针组件、纳米红外光谱仪及散射型扫描近场光学显微镜

    公开(公告)号:CN115728261B

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202110996148.5

    申请日:2021-08-27

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本公开提供一种光学微纳天线探针、探针组件、纳米红外光谱仪及散射型扫描近场光学显微镜。该光学微纳天线探针包括针体和复合层,针体的至少部分表面被复合层覆盖;复合层包括层叠的第一针体覆盖层和第二针体覆盖层,第一针体覆盖层位于针体和第二针体覆盖层之间;第一针体覆盖层的材料包括光学介电材料;第二针体覆盖层的材料包括石墨烯。本公开的光学微纳天线探针可作为纳米红外光谱探针,用于纳米红外光谱仪;亦可作为散射型近场光学显微镜探针,用于近场光学成像。本公开的光学微纳天线探针可以是增强纳米红外光谱和近场光学成像检测灵敏度的扫描探针显微镜探针。

    物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法

    公开(公告)号:CN114200636A

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202010879955.4

    申请日:2020-08-27

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法,涉及光学检测领域,用以优化物镜的结构。物镜包括壳体以及光学聚焦组件。壳体具有内腔,内腔具有第一开口和第二开口。光学聚焦组件,安装于内腔中,光学聚焦组件的焦点位于第二开口处,光学聚焦组件被构造为使得经由第一开口进入到壳体内的光线聚焦于焦点处。上述技术方案提供的物镜,其具有壳体和光学聚焦组件,光学聚焦组件基于反射原理、折射原理中的一种实现光线聚焦,激发角度的范围可以很大,以满足不同需求样品的激发需求。

    光学微纳天线探针、探针组件、纳米红外光谱仪及散射型扫描近场光学显微镜

    公开(公告)号:CN115728261A

    公开(公告)日:2023-03-03

    申请号:CN202110996148.5

    申请日:2021-08-27

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本公开提供一种光学微纳天线探针、探针组件、纳米红外光谱仪及散射型扫描近场光学显微镜。该光学微纳天线探针包括针体和复合层,针体的至少部分表面被复合层覆盖;复合层包括层叠的第一针体覆盖层和第二针体覆盖层,第一针体覆盖层位于针体和第二针体覆盖层之间;第一针体覆盖层的材料包括光学介电材料;第二针体覆盖层的材料包括石墨烯。本公开的光学微纳天线探针可作为纳米红外光谱探针,用于纳米红外光谱仪;亦可作为散射型近场光学显微镜探针,用于近场光学成像。本公开的光学微纳天线探针可以是增强纳米红外光谱和近场光学成像检测灵敏度的扫描探针显微镜探针。

    一种在基体上形成石墨烯的方法

    公开(公告)号:CN114314569A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202210021236.8

    申请日:2022-01-10

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明提供一种在基体上形成石墨烯膜的方法,所述基体包括碳化硅部分;所述方法包括:在真空、惰性气氛或还原性气氛中,对所述碳化硅部分的至少部分区域进行加热,所述加热具有以下温度程序:(i)以500℃/s以上的升温速率,将被加热区域从第一温度加热到1400‑2700℃的目标温度;(ii)在所述目标温度下的保持0‑60s;(iii)以500℃/s以上的降温速率,将被加热区域从所述目标温度冷却至第二温度。

    一种在基体上形成石墨烯的方法

    公开(公告)号:CN114314569B

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202210021236.8

    申请日:2022-01-10

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明提供一种在基体上形成石墨烯膜的方法,所述基体包括碳化硅部分;所述方法包括:在真空、惰性气氛或还原性气氛中,对所述碳化硅部分的至少部分区域进行加热,所述加热具有以下温度程序:(i)以500℃/s以上的升温速率,将被加热区域从第一温度加热到1400‑2700℃的目标温度;(ii)在所述目标温度下的保持0‑60s;(iii)以500℃/s以上的降温速率,将被加热区域从所述目标温度冷却至第二温度。

    物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法

    公开(公告)号:CN114200636B

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202010879955.4

    申请日:2020-08-27

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种物镜、光学成像设备、光学系统以及光学系统检测方法,涉及光学检测领域,用以优化物镜的结构。物镜包括壳体以及光学聚焦组件。壳体具有内腔,内腔具有第一开口和第二开口。光学聚焦组件,安装于内腔中,光学聚焦组件的焦点位于第二开口处,光学聚焦组件被构造为使得经由第一开口进入到壳体内的光线聚焦于焦点处。上述技术方案提供的物镜,其具有壳体和光学聚焦组件,光学聚焦组件基于反射原理、折射原理中的一种实现光线聚焦,激发角度的范围可以很大,以满足不同需求样品的激发需求。

    响应数据全色锐化方法和装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116091324A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202111281935.8

    申请日:2021-11-01

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本公开提出一种响应数据全色锐化方法和装置,涉及图像处理技术领域。获取具有第一空间分辨率的第一响应数据和具有第二空间分辨率的响应分布数据,配对构建响应分布数据的子图像块与子图像块的中心像素点对应的第二响应数据之间的数据映射关系,调用该数据映射关系,遍历响应分布数据的所有子图像块,输出所有子图像块的中心像素点对应的第二响应数据,按照各个子图像块在响应分布数据的空间位置关系,对所有子图像块的中心像素点对应的第二响应数据与响应分布数据进行空间配准,并重构出具有第二空间分辨率的第三响应数据。从而,在不牺牲图像空间分辨率和图像真实性的前提下,提高响应数据(如高光谱数据)的采集速度。

    光谱分析方法、分析装置和计算机存储介质

    公开(公告)号:CN113933251B

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202111150998.X

    申请日:2021-09-29

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明涉及一种光谱分析方法、分析装置和计算机存储介质。光谱分析方法包括:获取光谱,光谱是通过电磁波与所述多相体的多个相相互作用而获得;获取多相体的多个被辐射的相的受辐射量;将拟合函数拟合到光谱,拟合函数包括一个或多个待拟合参数;其中,拟合函数包括多个分量函数的线性叠加,每个分量函数分别对应多相体中的一个被辐射的相;其中,各分量函数的积分面积与各分量函数所对应的被辐射的相的受辐射量或受辐射量的修正值正相关。

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