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公开(公告)号：CN114139620A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111416863.3
申请日：2021-11-25
Applicant: 厦门华联电子股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于模板的图像相似匹配方法，其中方法包括：获取观察图像，并根据预设旋转参数计算得到对应的多个旋转角度，以及根据所述旋转角度对观察图像对应的模板图像进行旋转；以滑动窗口的方式将每次旋转后的模板图像与观察图像进行相似度匹配，以得到每个窗口对应的相似度，并将相似度最高的窗口所对应的旋转角度作为粗略偏转角度；根据所述粗略偏转角度进行迭代计算，以确定精准偏转角度，并计算精准偏转角度下窗口对应的位置坐标和该窗口下观察图像与模板图像的相似度；能够在图像发生旋转时，对图像进行有效地相似匹配，提高匹配准确率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114139620B
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202111416863.3
申请日：2021-11-25
Applicant: 厦门华联电子股份有限公司
IPC: G06V10/75 , G06V10/74 , G06T3/60 , G06T3/4023
Abstract: 本发明公开了一种基于模板的图像相似匹配方法，其中方法包括：获取观察图像，并根据预设旋转参数计算得到对应的多个旋转角度，以及根据所述旋转角度对观察图像对应的模板图像进行旋转；以滑动窗口的方式将每次旋转后的模板图像与观察图像进行相似度匹配，以得到每个窗口对应的相似度，并将相似度最高的窗口所对应的旋转角度作为粗略偏转角度；根据所述粗略偏转角度进行迭代计算，以确定精准偏转角度，并计算精准偏转角度下窗口对应的位置坐标和该窗口下观察图像与模板图像的相似度；能够在图像发生旋转时，对图像进行有效地相似匹配，提高匹配准确率。
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公开(公告)号：CN114627194B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202210157889.9
申请日：2022-02-21
Applicant: 厦门华联电子股份有限公司
Abstract: 本发明提出了一种LED灯发光状态检测方法及装置，其中该方法包括：获取多个样本图像；对多个样本图像进行处理以得到每个样本图像对应的各个通道的变化区域特征图，以及根据每个样本图像对应的各个通道的变化区域特征图得到每个样本图像对应的未变换特征值；对每个样本图像对应的未变换特征值进行计算以得到均值，并根据均值构建旋转矩阵；采用旋转矩阵对均值进行旋转变换得到样本基准特征值；获取待检测样本的未变换特征值，并采用旋转矩阵对未变换特征值进行旋转变换得到待检测样本特征值；最后计算样本基准特征值与待检测样本特征值之间的颜色差和亮度差，以便根据颜色差和亮度差检测待检测样本对应的LED灯是否异常，从而准确检测LED灯的发光状态。
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公开(公告)号：CN117011509A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202310749565.9
申请日：2023-06-25
Applicant: 厦门华联电子股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种机器视觉系统检测区域自动生成方法、装置及设备，其中，该方法包括：获取目标图片中团块图像外接矩形形成的第一候选区域以得到第一候选区域集合；将相邻区域的第一候选区域加入第二候选区域集合，利用填充参数对不相邻的第一候选区域填充以得到第二候选区域，并加入第二候选区域集合；在任意第二候选区域作为当前候选区域时与剩余第二候选区域存在重叠区域时进行融合，以将当前候选区域更新为融合区域。通过本发明，能够实现自动生成检测区域，提高检测区域绘制效率。
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公开(公告)号：CN116883689A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310657732.7
申请日：2023-06-05
Applicant: 厦门华联电子股份有限公司
Abstract: 本申请公开了一种基于梯度直方图特征的团块关联方法及装置，方法包括获取待关联团块组中的每个团块对应的轮廓点集，以得到特征点位置集合；根据特征点位置集合提取对应的特征点信息；从第一关联团块组对应的特征点信息集合中随机抽取n个特征点信息，将n个特征点信息分别与第二关联团块组对应的所有特征点信息进行距离判断，以得到对应的匹配对象；根据n个特征点信息对应的特征点位置和匹配对象对应的特征点位置计算仿射矩阵；采用仿射矩阵对第二关联团块组的特征点位置集合进行仿射变换以得到变换结果，并采用最邻近搜索策略分别搜索所有特征点信息对应的特征点位置在变换结果中的最邻近位置，以完成关联；从而提高了关联的准确性。
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公开(公告)号：CN114627194A
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202210157889.9
申请日：2022-02-21
Applicant: 厦门华联电子股份有限公司
Abstract: 本发明提出了一种LED灯发光状态检测方法及装置，其中该方法包括：获取多个样本图像；对多个样本图像进行处理以得到每个样本图像对应的各个通道的变化区域特征图，以及根据每个样本图像对应的各个通道的变化区域特征图得到每个样本图像对应的未变换特征值；对每个样本图像对应的未变换特征值进行计算以得到均值，并根据均值构建旋转矩阵；采用旋转矩阵对均值进行旋转变换得到样本基准特征值；获取待检测样本的未变换特征值，并采用旋转矩阵对未变换特征值进行旋转变换得到待检测样本特征值；最后计算样本基准特征值与待检测样本特征值之间的颜色差和亮度差，以便根据颜色差和亮度差检测待检测样本对应的LED灯是否异常，从而准确检测LED灯的发光状态。
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