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公开(公告)号:CN115763311A
公开(公告)日:2023-03-07
申请号:CN202211474117.4
申请日:2022-11-22
Applicant: 南开大学
IPC: H01L21/67
Abstract: 本发明属于集成电路领域,公开了面向集成电路先进制程中晶圆处理的超临界干燥/清洗设备,其特征在于,该设备包括外腔体、外腔体顶盖、内胆、内胆提拉装置、手套箱、烘箱、地线;所述外腔体与外腔体顶盖使用机械密封,如螺丝、机械锁扣等;所述内胆在外腔体内部,承载待处理的晶圆;所述内胆提拉装置顶部设有牵引环;所述手套箱包含烘箱;所述内胆提拉装置、外腔体、手套箱都通过地线接地。本发明利用超临界流体几乎为零的表面张力、极强的溶剂化能力和类似气体的扩散性,可以在集成电路加工制造过程中实现对湿法清洗残留物的干燥/清洗,克服流体的表面张力对器件或芯片的破坏等问题。
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公开(公告)号:CN115763311B
公开(公告)日:2023-09-12
申请号:CN202211474117.4
申请日:2022-11-22
Applicant: 南开大学
IPC: H01L21/67
Abstract: 本发明属于集成电路领域,公开了面向集成电路先进制程中晶圆处理的超临界干燥/清洗设备,其特征在于,该设备包括外腔体、外腔体顶盖、内胆、内胆提拉装置、手套箱、烘箱、地线;所述外腔体与外腔体顶盖使用机械密封,如螺丝、机械锁扣等;所述内胆在外腔体内部,承载待处理的晶圆;所述内胆提拉装置顶部设有牵引环;所述手套箱包含烘箱;所述内胆提拉装置、外腔体、手套箱都通过地线接地。本发明利用超临界流体几乎为零的表面张力、极强的溶剂化能力和类似气体的扩散性,可以在集成电路加工制造过程中实现对湿法清洗残留物的干燥/清洗,克服流体的表面张力对器件或芯片的破坏等问题。
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