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公开(公告)号:CN118007101A
公开(公告)日:2024-05-10
申请号:CN202410004481.7
申请日:2024-01-03
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明公开了一种HZO铁电材料的制备方法,在基底上生长底电极,使用原子层沉积ALD在底电极上进行沉积,沉积完毕得非晶HZO薄膜,对HZO进行快速热退火,即得铁电薄膜,在退火过程中不需要顶电极辅助,即可获得鲁棒的铁电性。此外,通过在氧气下退火,将循环耐久性提高到了超1010个循环。通过优化HZO的生长工艺、退火工艺以及后续的电极层叠加方式,成功地提高了HZO的铁电极化和耐久性。该方法主要涉及到缺陷调控和界面工程技术,以改善HZO存在的缺陷,提高界面质量,从而降低漏电流和提高疲劳寿命。通过本方法,HZO薄膜展现出高达29μC/cm2的剩余极化强度与超过3×1010的循环性,提升了HZO的铁电性能,为其在高性能电子器件中的应用提供了可能。