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公开(公告)号:CN108649094B
公开(公告)日:2020-08-14
申请号:CN201810454313.2
申请日:2018-05-14
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H01L31/109 , H01L31/0352 , H01L31/18
Abstract: 本发明涉及一种Cu/CuI/ZnO结构的紫外光探测器及其制备方法,在柔性、透明的衬底上通过喷涂沉积一层铜纳米线(Cu NWs)导电网络薄膜,然后通过碘化,使单质碘与Cu NWs表面反应得到CuI的外层。接下来用溶胶‑凝胶法在Cu/CuI结构上面预生长一层氧化锌的晶种,再采用低温水热的方法在Cu/CuI结构上面生长氧化锌纳米材料的活性层,然后在上面制备电极制得紫外传感器件。该紫外传感器的透光度在60%以上,在2v的电压下具有良好的紫外传感性能,而且具有良好的机械性能,在弯折1000次后还可以保持原来的传感性能不发生衰减。本发明工艺简单,成功的制备了一种异质结结构,可以大规模制备。
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公开(公告)号:CN108649094A
公开(公告)日:2018-10-12
申请号:CN201810454313.2
申请日:2018-05-14
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H01L31/109 , H01L31/0352 , H01L31/18
CPC classification number: H01L31/109 , H01L31/035227 , H01L31/18
Abstract: 本发明涉及一种Cu/CuI/ZnO结构的紫外光探测器及其制备方法,在柔性、透明的衬底上通过喷涂沉积一层铜纳米线(Cu NWs)导电网络薄膜,然后通过碘化,使单质碘与Cu NWs表面反应得到CuI的外层。接下来用溶胶-凝胶法在Cu/CuI结构上面预生长一层氧化锌的晶种,再采用低温水热的方法在Cu/CuI结构上面生长氧化锌纳米材料的活性层,然后在上面制备电极制得紫外传感器件。该紫外传感器的透光度在60%以上,在2v的电压下具有良好的紫外传感性能,而且具有良好的机械性能,在弯折1000次后还可以保持原来的传感性能不发生衰减。本发明工艺简单,成功的制备了一种异质结结构,可以大规模制备。
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公开(公告)号:CN107402068B
公开(公告)日:2019-02-19
申请号:CN201710533167.8
申请日:2017-07-03
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于金属纳米线/氧化锌纳米材料的紫外光传感器,包含平面型和“三明治”型两种结构。平面型紫外光传感器包括衬底、金属纳米线层、氧化锌纳米材料层;“三明治”结构包含顶电极层。制备时首先在柔性、透明的衬底上通过喷涂沉积一层金属纳米线导电薄膜为基底,然后用溶胶‑凝胶法在掩膜板覆盖的金属纳米线/衬底上生长一层氧化锌的晶种,再采用低温水热法在金属纳米线上生长氧化锌纳米材料层作为活性层,引出电极引线制得器件。本发明提出的紫外传感器的透光度大于50%,在0.5V操作电压下具有良好的灵敏度,而且具有工艺简单,成本低廉,易于大规模制备等特点。
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公开(公告)号:CN107402068A
公开(公告)日:2017-11-28
申请号:CN201710533167.8
申请日:2017-07-03
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于金属纳米线/氧化锌纳米材料的紫外光传感器,包含平面型和“三明治”型两种结构。平面型紫外光传感器包括衬底、金属纳米线层、氧化锌纳米材料层;“三明治”结构包含顶电极层。制备时首先在柔性、透明的衬底上通过喷涂沉积一层金属纳米线导电薄膜为基底,然后用溶胶-凝胶法在掩膜板覆盖的金属纳米线/衬底上生长一层氧化锌的晶种,再采用低温水热法在金属纳米线上生长氧化锌纳米材料层作为活性层,引出电极引线制得器件。本发明提出的紫外传感器的透光度大于50%,在0.5V操作电压下具有良好的灵敏度,而且具有工艺简单,成本低廉,易于大规模制备等特点。
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公开(公告)号:CN207336250U
公开(公告)日:2018-05-08
申请号:CN201720826787.6
申请日:2017-07-10
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于柔性有机光电器件耐弯折和抗拉伸测试的装置,包括高精度步进电机、限位器、计数器、滚轴丝杆、滑块、固定夹具、支架、样品台、可编程控制器、触摸屏、电源开关和指示灯。将样品经由夹具固定于柔性光电器件样品台上的滑块,通过高精度步进电机和限位器,操作滑块在滚轴丝杆上的运动状态,从而精确控制柔性光电器件的弯折角度、速度和拉伸程度;利用与步进电机滚轴丝杆连接的计数器准确计量弯折和拉伸次数;结合可编程触摸屏控制盒的自编程功能,实现样品耐弯折和抗拉伸性能的准确测试。本实用新型具有定位精确,误差小,可高速测试,耐久使用等特点,可广泛用于柔性透明电极等电子器件的耐弯折和抗拉伸性能测试。
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