一种分析α-Ga2O3生长情况的雾化学气相沉积系统及方法

    公开(公告)号:CN117926217A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410090329.5

    申请日:2024-01-23

    Abstract: 本发明公开了一种半导体材料技术领域的分析α‑Ga2O3生长情况的雾化学气相沉积系统及方法,旨在解决现有技术中Mist‑CVD系统连续生长亚稳定相α‑Ga2O3的初始成核过程中存在生成物均匀性较差的问题,其包括构建雾化学气相沉积系统的三维模型,对三维模型进行网格划分生成网格文件;将网格文件导入计算流体力学仿真软件中,设定三维模型的边界条件,并选定多相流求解器;利用多相流求解器对三维模型内反应进行计算;根据计算结果对α‑Ga2O3生长情况进行分析等步骤。本发明可以有效对α‑Ga2O3在雾化学气相沉积系统在的生长情况进行分析,促进生成物α‑Ga2O3的生长均匀性。

    一种研究α-Ga2O3生长的雾化学沉积系统及其构建方法

    公开(公告)号:CN115862750A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211661988.7

    申请日:2022-12-23

    Abstract: 本发明公开了一种半导体材料技术领域的研究α‑Ga2O3生长的雾化学沉积系统及其构建方法,旨在解决现有技术中所使用的Mist‑CVD系统以水平式系统为主,存在大尺寸生长时均匀性较差的问题,其构建方法包括以下步骤:建立二维腔体模型,设定其边界类型,并进行网格划分,生成网格文件;用计算流体力学仿真软件读取网格文件,设置相应条件及参数,并选定计算模型和求解器;利用求解器进行迭代求解;查看求解得到的各项计算结果。本发明通过Mist‑CVD反应腔进行二维网格建模,分析其流场和反应物分布,并深入研究壁面温度等生长参数对生成物质量及均匀性的影响,进而对实现大面积均匀外延提供优化参数。

    一种研究α-Ga2O3生长的雾化学沉积系统及其构建方法

    公开(公告)号:CN115862750B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202211661988.7

    申请日:2022-12-23

    Abstract: 本发明公开了一种半导体材料技术领域的研究α‑Ga2O3生长的雾化学沉积系统及其构建方法,旨在解决现有技术中所使用的Mist‑CVD系统以水平式系统为主,存在大尺寸生长时均匀性较差的问题,其构建方法包括以下步骤:建立二维腔体模型,设定其边界类型,并进行网格划分,生成网格文件;用计算流体力学仿真软件读取网格文件,设置相应条件及参数,并选定计算模型和求解器;利用求解器进行迭代求解;查看求解得到的各项计算结果。本发明通过Mist‑CVD反应腔进行二维网格建模,分析其流场和反应物分布,并深入研究壁面温度等生长参数对生成物质量及均匀性的影响,进而对实现大面积均匀外延提供优化参数。

    一种分析α-Ga2O3生长情况的氢化物气相外延系统及方法

    公开(公告)号:CN117912611A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202410090348.8

    申请日:2024-01-23

    Abstract: 本发明公开了一种半导体材料技术领域的分析α‑Ga2O3生长情况的氢化物气相外延系统及方法,其包括对氢化物气相外延系统进行三维建模得到三维腔体模型;对三维腔体模型进行网格划分;将网格划分文件导入计算流体力学仿真软件,设定三维腔体模型的边界条件和材料参数,并选定计算模型和求解器;设置求解器控制参数,利用求解器对仿真反应过程进行迭代求解,得到计算结果;根据计算结果对α‑Ga2O3生长情况进行分析,得到α‑Ga2O3生长情况的分析结果。本发明通过对氢化物气相外延系统进行三维网格建模,分析其流场和反应物分布,并深入研究壁面温度等生长参数对生成物质量及均匀性的影响,进而对实现大面积均匀外延提供优化参数。

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