-
公开(公告)号:CN110895134A
公开(公告)日:2020-03-20
申请号:CN201911209797.5
申请日:2019-12-01
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于相移轮廓术在日光灯下进行高速三维形状测量的方法,对相机与投影仪进行标定,获得相机和投影仪的内参与外参;采用双四步相位轮廓测量技术,消除由日光灯所引起的相位误差,获得物体的理想相位信息;根据消除日光灯影响后的理想相位信息,获取物体在投影仪下的像素坐标,并结合相机和投影仪的内参与外参,将二维信息还原至真实的三维信息。本发明采用双四步相位轮廓测量技术,消除了由日光灯所引起的相位误差,提高了三维测量的精度。
-
公开(公告)号:CN110895134B
公开(公告)日:2021-06-29
申请号:CN201911209797.5
申请日:2019-12-01
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于相移轮廓术在日光灯下进行高速三维形状测量的方法,对相机与投影仪进行标定,获得相机和投影仪的内参与外参;采用双四步相位轮廓测量技术,消除由日光灯所引起的相位误差,获得物体的理想相位信息;根据消除日光灯影响后的理想相位信息,获取物体在投影仪下的像素坐标,并结合相机和投影仪的内参与外参,将二维信息还原至真实的三维信息。本发明采用双四步相位轮廓测量技术,消除了由日光灯所引起的相位误差,提高了三维测量的精度。
-