公开(公告)号：CN117740872A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202311729034.X

申请日：2023-12-15

Applicant: 南京大学

Inventor： 颜学俊 ,  杨溯 ,  耿志明 ,  卢明辉 ,  陈延峰

IPC: G01N25/20

Abstract: 本发明公开了一种热电材料薄膜面外方向塞贝克系数的检测方法及系统，该检测方法包括：(1)进行激光调制，使待测样品内部产生热波，在热波传播的不同时间，测量反射光信号和电压信号；(2)对反射光信号和电压信号进行处理，利用多层膜结构传热计算模型计算出测量时刻待测样品中热电材料薄膜与两个电极界面处的温度差，并用电压值除以温度差得到热电材料薄膜的塞贝克系数。本发明解决了薄膜面外方向塞贝克系数无法测量的问题，并利用调制激光的方式提升了TDTR系统的测量能力。

公开(公告)号：CN114005875B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202111282552.2

申请日：2021-11-01

Applicant: 南京大学

Inventor： 聂越峰 ,  臧一鹏 ,  卢明辉 ,  颜学俊 ,  狄琛 ,  耿志明

IPC: H01L29/49 ,  H01L29/51

Abstract: 本发明公开了一种调控金属/绝缘体界面热导的方法，属于材料科学技术领域。它包括将金属设置于绝缘体表面，所述金属与绝缘体的接触面为金属/绝缘体界面；所述绝缘体包括铁电体；对铁电体施加外电场或应力，通过调节外电场或应力的大小或其方向与金属/绝缘体界面之间的夹角来调控金属/绝缘体界面热导。本发明能通过调控界面聚集电荷调控金属/绝缘体界面热导，从而有效提升界面热导率的调控效率和便捷度，这对于电力电子器件的热管理具有重要意义。

公开(公告)号：CN114005875A

公开(公告)日：2022-02-01

申请号：CN202111282552.2

申请日：2021-11-01

Applicant: 南京大学

Inventor： 聂越峰 ,  臧一鹏 ,  卢明辉 ,  颜学俊 ,  狄琛 ,  耿志明

IPC: H01L29/49 ,  H01L29/51

Abstract: 本发明公开了一种调控金属/绝缘体界面热导的方法，属于材料科学技术领域。它包括将金属设置于绝缘体表面，所述金属与绝缘体的接触面为金属/绝缘体界面；所述绝缘体包括铁电体；对铁电体施加外电场或应力，通过调节外电场或应力的大小或其方向与金属/绝缘体界面之间的夹角来调控金属/绝缘体界面热导。本发明能通过调控界面聚集电荷调控金属/绝缘体界面热导，从而有效提升界面热导率的调控效率和便捷度，这对于电力电子器件的热管理具有重要意义。