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公开(公告)号：CN117740872A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311729034.X
申请日：2023-12-15
Applicant: 南京大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了一种热电材料薄膜面外方向塞贝克系数的检测方法及系统，该检测方法包括：(1)进行激光调制，使待测样品内部产生热波，在热波传播的不同时间，测量反射光信号和电压信号；(2)对反射光信号和电压信号进行处理，利用多层膜结构传热计算模型计算出测量时刻待测样品中热电材料薄膜与两个电极界面处的温度差，并用电压值除以温度差得到热电材料薄膜的塞贝克系数。本发明解决了薄膜面外方向塞贝克系数无法测量的问题，并利用调制激光的方式提升了TDTR系统的测量能力。
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