公开(公告)号：CN115790451A

公开(公告)日：2023-03-14

申请号：CN202211474123.X

申请日：2022-11-22

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 严飞 ,  文杰 ,  刘佳 ,  路长秋 ,  肖雨倩 ,  祁键 ,  吴迪 ,  于强 ,  刘银萍

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明公开了光学测量技术领域的一种基于相位值化的叠加编码相位展开方法，包括以下步骤：确认图像中每个周期的像素宽度W1，生成N步相移条纹；设计辅助相位展开的叠加编码条纹，将其每个周期统一赋值，生成黑白条纹图像；采集调制后的投影条纹传入计算机；提取包裹相位，提取级次条纹k1；通过级次k1叠加二值条纹确定另一组条纹级次k2；对包裹相位进行相位解包裹操作，获取被测物体的绝对相位。本发明方法在获取级次的过程中，编码条纹通过数字叠加运算即可获取阶梯级次，算法简单，不需进制运算、映射数组或相位计算等繁琐计算，且利用包裹相位二值化的方法辅助修正跳变误差，提高包裹相位利用率，减少额外编码的投影。