-
公开(公告)号：CN114910773A
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210422378.5
申请日：2022-04-21
Applicant: 南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种放大器的变温在片测试系统及测试方法，通过一套测试系统实现散射参数、功率性能、噪声系数的变温测试，测试系统主要涉及控制软件通过程控矢网、电源、探针台等仪表，实现对系统的校准，输入条件的设定，测试数据的采集，图像的绘制等功能。根据该测试方法建立完整的软硬件测试平台，用于放大芯片的在片测试。该系统避免了另外需要信号源、噪声仪等一系列仪表搭建功率测试系统及噪声测试系统的问题；同时避免了传统利用烘箱测试高低温时需要将芯片进行装架，由于测试架引入的测试误差。
Search Results
1
records
(took 0.029 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
