一种异极性双电喷头装置及其喷印方法

    公开(公告)号:CN114919291A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202210503784.4

    申请日:2022-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种异极性双电喷头装置及其喷印方法。本异极性双电喷头装置包括第一电喷印模块、第二电喷印模块、气筒、安装模块。第一电喷印模块、第二电喷印模块、气筒均分别与安装模块连接。第一电喷印模块、第二电喷印模块均分别设有电极电针。第一电喷印模块、第二电喷印模块各自的电极电针分别设为相反电性的电极。气筒设有接地极电针。接地极电针设于气筒中轴线上。气筒用于输出保护气体。第一电喷印模块、第二电喷印模块分别设于气筒的两侧。第一电喷印模块、第二电喷印模块各自喷射墨滴的方向均分别与气筒输出保护气体的方向形成夹角。本发明的有益效果在于,避免现有电流体喷印后墨滴出现滑移偏离沉积位置的问题。

    一种低温等离子后处理提高柔性氧化物TFT器件可靠性的方法

    公开(公告)号:CN114373683B

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202111531363.4

    申请日:2021-12-15

    Abstract: 本发明公开了一种低温等离子后处理提高柔性氧化物TFT器件可靠性的方法。制备方法包括如下步骤:(1)制备栅极、绝缘层和有源层;(2)在较低温度下进行氧气气氛退火;(3)进行两步掩膜版等离子处理,第一步采用高能氮气等离子处理,第二步采用低能氮气+氧气混合气体等离子处理;(4)通过直流溅射制备铝源漏电极,得到TFT器件。本发明方法具有设备简单、可大面积处理、处理时间短、工艺温度低等优势,采用两步等离子处理方法,可以充分发挥其能量传递和界面反应的优化作用。低温工艺不会对柔性衬底造成损伤,其普遍适用于柔性AOS‑TFT器件的可靠性提高。

    基于缺陷诱导调控的高性能多组分薄膜制备方法与应用

    公开(公告)号:CN118480771A

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202410453216.7

    申请日:2024-04-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于缺陷诱导调控的高性能多组分薄膜制备方法与应用,制备方法包括以下步骤:S1、将衬底放入铝腔内抽真空达到一定的腔体气压,并将铝腔加热;S2、向腔体内先脉冲注入第一金属前驱体,惰性气体吹扫,接着脉冲注入第二金属前驱体,惰性气体吹扫,通入氧化剂将前驱体氧化,惰性气体吹扫;S3、重复N次上述步骤S2,得到一定厚度的均匀掺杂薄膜。本发明提出的方法减少了多组分薄膜沉积时前驱体的原子间隙填补效应,这不仅减少了薄膜内部的原子空位,实现了无生长延迟的生长模式,同时减小了薄膜表面起伏,改善了薄膜的表面特性,有利于所制备的薄膜与其余功能层实现良好的界面接触。

    一种异极性双电喷头装置及其喷印方法

    公开(公告)号:CN114919291B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202210503784.4

    申请日:2022-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种异极性双电喷头装置及其喷印方法。本异极性双电喷头装置包括第一电喷印模块、第二电喷印模块、气筒、安装模块。第一电喷印模块、第二电喷印模块、气筒均分别与安装模块连接。第一电喷印模块、第二电喷印模块均分别设有电极电针。第一电喷印模块、第二电喷印模块各自的电极电针分别设为相反电性的电极。气筒设有接地极电针。接地极电针设于气筒中轴线上。气筒用于输出保护气体。第一电喷印模块、第二电喷印模块分别设于气筒的两侧。第一电喷印模块、第二电喷印模块各自喷射墨滴的方向均分别与气筒输出保护气体的方向形成夹角。本发明的有益效果在于,避免现有电流体喷印后墨滴出现滑移偏离沉积位置的问题。

    一种低温等离子后处理提高柔性氧化物TFT器件可靠性的方法

    公开(公告)号:CN114373683A

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202111531363.4

    申请日:2021-12-15

    Abstract: 本发明公开了一种低温等离子后处理提高柔性氧化物TFT器件可靠性的方法。制备方法包括如下步骤:(1)制备栅极、绝缘层和有源层;(2)在较低温度下进行氧气气氛退火;(3)进行两步掩膜版等离子处理,第一步采用高能氮气等离子处理,第二步采用低能氮气+氧气混合气体等离子处理;(4)通过直流溅射制备铝源漏电极,得到TFT器件。本发明方法具有设备简单、可大面积处理、处理时间短、工艺温度低等优势,采用两步等离子处理方法,可以充分发挥其能量传递和界面反应的优化作用。低温工艺不会对柔性衬底造成损伤,其普遍适用于柔性AOS‑TFT器件的可靠性提高。

Patent Agency Ranking