一种发光器件激子特性参数反演方法及装置

    公开(公告)号:CN113465887B

    公开(公告)日:2022-05-20

    申请号:CN202110705702.X

    申请日:2021-06-24

    Abstract: 本发明提供了一种发光器件激子特性参数反演方法及装置,属于发光器件领域,方法包括:构建基于发光器件TM/TE偏振态远场视角光谱、激子特性参数以及ETL膜层厚度的正向模型;调整正向模型中ETL膜层厚度,筛选出对激子分布函数敏感的第一ETL膜层厚度集;基于实际测量的TE偏振态远场视角光谱与基于最终ETL膜层厚度获取的理论TE偏振态远场视角光谱,结合线性拟合方法与非线性拟合方法,获取发光器件最终的激子分布函数;基于最终的激子分布函数和实际测量的TE偏振态远场视角光谱,采用最小二乘法反演得到激子取向参数。本发明无需提前获取激子分布初始形貌,实现了发光器件特性参数的准确、鲁棒性良好地反演。

    一种有机光伏器件性能分析优化方法和系统

    公开(公告)号:CN112952008A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN202110248535.0

    申请日:2021-03-08

    Abstract: 本发明公开了一种有机光伏器件性能分析优化方法和系统,属于有机光伏器件领域。本发明针对OPV器件内可能出现的多种膜层特征(各向同性膜层、各向异性膜层、表面粗糙度层、界面层、纳米结构)建立全面的光学模拟方法,通过优化器件产生的短路电流密度得到器件最优结构尺寸,适用于对包含不均匀膜层、各向异性膜层、周期性纳米结构等复杂特征的OPV器件进行结构尺寸优化以提高OPV的光电转化效率,原理简单、易于操作,在OPV结构优化设计领域有广泛的应用前景。

    一种OLED器件多个目标的协同优化方法

    公开(公告)号:CN112487623A

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN202011321669.2

    申请日:2020-11-23

    Abstract: 本发明属于OLED器件相关技术领域,其公开了一种OLED器件多个目标协同优化方法,该方法首先分别获取多个目标与OLED器件膜层的厚度矩阵的关系式;然后分别获取多个关系式与其对应的预设目标期望值的偏差,并建立多个偏差的联合函数以获取联合优化函数;接着改变联合优化函数中膜层厚度矩阵中的第k个膜层的厚度,分别获取多个膜层厚度的全局灵敏度函数;最后改变全局灵敏度函数中的膜层厚度计算对应的灵敏度函数值,将灵敏度函数值大于预设值的膜层作为待优化层,联合调节待优化层的膜层厚度使得联合优化函数达到极值或常数最大值,即可获得膜层厚度优化后的OLED器件。本申请从多维度对OLED器件的厚度进行优化,获得各方面性能均较优的器件。

    一种跨尺度光电器件快速光学仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN115470644A

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202211159829.7

    申请日:2022-09-22

    Abstract: 本发明属于光电器件技术领域,并具体公开了一种跨尺度光电器件快速光学仿真方法和系统,其包括:S1、根据光电器件各膜层区域的尺寸划分功能层和非功能层;S2、对功能层,判断其复杂特征类型,采用相应的物理光学仿真方法处理复杂特征,得到界面处的光学特性;S3、根据光电器件的功能判断该光电器件是有源器件还是无源器件,进而确定光源特性;S4、根据光源特性以及界面处的光学特性,并对非功能层采用几何光学仿真方法,计算整个光电器件的光学特性参数,完成对光电器件的快速光学仿真。本发明针对实际三维跨尺度光电器件中可能存在的复杂特征建立了快速光学模拟方法,能够反映器件光学性能的变化规律及趋势。

    一种基于OLED器件光电耦合仿真模型的电极优化方法和系统

    公开(公告)号:CN118364628A

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202410489400.7

    申请日:2024-04-23

    Abstract: 本申请属于OLED器件的优化设计领域,具体公开了一种基于OLED器件光电耦合仿真模型的电极优化方法和系统。通过本申请,利用OLED器件的光电耦合仿真模型对器件电极功函数进行扫描,再根据仿真得到的优化目标变量的综合表现筛选最优的器件电极材料。通过将电学仿真结果的电流密度和电致激子分布输入光学模型,实现更科学准确的器件光电耦合仿真模拟。不需要耗时费力的膜层制备与实验,不仅分析优化了器件光学特性,还考虑了有机半导体电学参数对于仿真与优化的影响,仿真计算更准确,优化目标更全面,为OLED器件光电耦合的电极优化及后续的制备实验奠定了基础。

    一种OLED器件多个目标的协同优化方法

    公开(公告)号:CN112487623B

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202011321669.2

    申请日:2020-11-23

    Abstract: 本发明属于OLED器件相关技术领域,其公开了一种OLED器件多个目标协同优化方法,该方法首先分别获取多个目标与OLED器件膜层的厚度矩阵的关系式;然后分别获取多个关系式与其对应的预设目标期望值的偏差,并建立多个偏差的联合函数以获取联合优化函数;接着改变联合优化函数中膜层厚度矩阵中的第k个膜层的厚度,分别获取多个膜层厚度的全局灵敏度函数;最后改变全局灵敏度函数中的膜层厚度计算对应的灵敏度函数值,将灵敏度函数值大于预设值的膜层作为待优化层,联合调节待优化层的膜层厚度使得联合优化函数达到极值或常数最大值,即可获得膜层厚度优化后的OLED器件。本申请从多维度对OLED器件的厚度进行优化,获得各方面性能均较优的器件。

    含非均匀厚度膜层的有机发光器件光学仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN118350219B

    公开(公告)日:2024-11-19

    申请号:CN202410585875.6

    申请日:2024-05-11

    Abstract: 本申请属于光电器件仿真领域,具体公开了含非均匀厚度膜层的有机发光器件光学仿真方法和系统。通过本申请,在对均匀厚度膜层仿真时,仅对偶极子辐射场展开为多个平面波展开的级次进行积分,保留位置坐标项,从而建立水平方向宽度有限的半解析均匀厚度膜层OLED器件电场仿真模型,突破了传统光学模型只能计算水平方向尺寸无限OLED器件的局限;结合等效膜层法对含缺陷的无源多层膜系进行快速光学仿真分析的思想,将OLED器件以偶极子为原点,分为上半部分膜系和下半部分膜系,分别计算不同膜层厚度时上下膜系的反射和透射系数,再结合真空中偶极子的平面波展开、微腔效应分别计算每小份表面的电场分布,在计算中引入厚度不均匀引起的平面波相位差修正系数。

    一种基于OLED器件光电耦合仿真模型的电极优化方法和系统

    公开(公告)号:CN118364628B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202410489400.7

    申请日:2024-04-23

    Abstract: 本申请属于OLED器件的优化设计领域,具体公开了一种基于OLED器件光电耦合仿真模型的电极优化方法和系统。通过本申请,利用OLED器件的光电耦合仿真模型对器件电极功函数进行扫描,再根据仿真得到的优化目标变量的综合表现筛选最优的器件电极材料。通过将电学仿真结果的电流密度和电致激子分布输入光学模型,实现更科学准确的器件光电耦合仿真模拟。不需要耗时费力的膜层制备与实验,不仅分析优化了器件光学特性,还考虑了有机半导体电学参数对于仿真与优化的影响,仿真计算更准确,优化目标更全面,为OLED器件光电耦合的电极优化及后续的制备实验奠定了基础。

    含非均匀厚度膜层的有机发光器件光学仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN118350219A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410585875.6

    申请日:2024-05-11

    Abstract: 本申请属于光电器件仿真领域,具体公开了含非均匀厚度膜层的有机发光器件光学仿真方法和系统。通过本申请,在对均匀厚度膜层仿真时,仅对偶极子辐射场展开为多个平面波展开的级次进行积分,保留位置坐标项,从而建立水平方向宽度有限的半解析均匀厚度膜层OLED器件电场仿真模型,突破了传统光学模型只能计算水平方向尺寸无限OLED器件的局限;结合等效膜层法对含缺陷的无源多层膜系进行快速光学仿真分析的思想,将OLED器件以偶极子为原点,分为上半部分膜系和下半部分膜系,分别计算不同膜层厚度时上下膜系的反射和透射系数,再结合真空中偶极子的平面波展开、微腔效应分别计算每小份表面的电场分布,在计算中引入厚度不均匀引起的平面波相位差修正系数。

    一种发光器件激子特性参数反演方法及装置

    公开(公告)号:CN113465887A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110705702.X

    申请日:2021-06-24

    Abstract: 本发明提供了一种发光器件激子特性参数反演方法及装置,属于发光器件领域,方法包括:构建基于发光器件TM/TE偏振态远场视角光谱、激子特性参数以及ETL膜层厚度的正向模型;调整正向模型中ETL膜层厚度,筛选出对激子分布函数敏感的第一ETL膜层厚度集;基于实际测量的TE偏振态远场视角光谱与基于最终ETL膜层厚度获取的理论TE偏振态远场视角光谱,结合线性拟合方法与非线性拟合方法,获取发光器件最终的激子分布函数;基于最终的激子分布函数和实际测量的TE偏振态远场视角光谱,采用最小二乘法反演得到激子取向参数。本发明无需提前获取激子分布初始形貌,实现了发光器件特性参数的准确、鲁棒性良好地反演。

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