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公开(公告)号：CN119410103A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411656788.1
申请日：2024-11-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种含异质结构填料的复合材料及其制备与应用，所述复合填料包括体积份数为65～95份的聚合物基体和体积份数为5～35份的异质结构填料；其中，所述异质结构填料包括负热膨胀填料和导热填料，所述导热填料包覆在所述负热膨胀填料的外层。本发明的复合材料选用具有负热膨胀系数的异质结构填料与聚合物基体复合，在较低的填充量下将复合材料的热膨胀系数降低到合适范围内，避免了在正热膨胀填料在使用过程中因高填充量所导致的高加工黏度问题。
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公开(公告)号：CN111044771B
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201911408223.0
申请日：2019-12-31
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于光纤电流传感领域，并具体公开了一种非闭合光纤环电流传感装置及电流测量方法，包括光源、起偏器、光纤环形器、非闭合传感光纤环、法拉第反射镜、偏振分束器、光电探测器，其中非闭合传感光纤环由数个光纤环单元组成，每个光纤环单元由同一根光纤正反向来回环绕形成，同时使光纤返回端产生半波片的效果；光纤环单元整体对被测电缆呈非闭合包围；偏振分束器与光纤环形器相连，光电探测器用于获取经偏振分束器分束后的光。本发明可实现电流传感器的带电校准，并降低了光纤电流传感器安装、调试、维护的难度，拓展了其应用范围，有利于光纤电流传感器的工程化研制和实际应用。
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公开(公告)号：CN109387851B
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN201811406179.5
申请日：2018-11-23
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于激光测距领域，并公开了一种三角测距点焦成像中利用分波面移像抑制散斑效应的装置，该装置包括发射单元和接收单元，其中：发射单元中聚焦透镜组置于激光器和被测目标之间，用于将激光器产生的激光聚焦形成点焦斑，照射到所述被测目标表面；接收单元中二维玻璃片阵列和接收透镜组置于光电图像探测器与被测目标之间，被测目标发出的散射光被二维玻璃片阵列分波面移像，形成多个点焦斑像并被所述光电图像探测器接收。本发明通过设置二维玻璃片阵列能够将散射光分波面移像形成多个点焦斑的像，利用平均的方法有效降低了激光三角测距中测量的不确定度，并且不会牺牲测量装置的横向分辨率，具有更广的应用场景。
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公开(公告)号：CN106546178B
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201610956898.9
申请日：2016-10-27
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于白光干涉测厚领域，并公开了共焦白光偏振干涉的多层透明介质厚度测量装置和方法。包括被测物、第三透镜、第二透镜、第二小孔构成共焦结构，平行白光经第二棱镜后，一束作为测量光束经第三透镜汇聚到被测表面，另一束作为参考光束经过多次反射后与从被测表面反射回来的测量光束发生干涉，在第二棱镜和第二透镜之间设置提高干涉条纹的对比度的可旋转偏振片，实现在第一图像传感器上形成高对比度干涉条纹。本发明还公开了利用上述装置进行测量的方法。通过本发明，采用参考光束和测量光束在横向微小的偏离量，同时利用共焦和白光干涉技术，简单快速地形成了有限宽度的白光干涉条纹，从而实现了多层透明介质厚度的测量。
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公开(公告)号：CN104570341B
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201310505005.5
申请日：2013-10-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G02B27/00
Abstract: 本发明提供了一种在圆锥透镜阴影区合成无衍射光束的方法，包括如下步骤：（1）将平行激光束照射在圆锥透镜上；所述平行激光束与圆锥透镜的轴线平行；（2）将聚焦透镜组置于圆锥透镜的阴影区的截面上，并调整聚焦透镜组的焦距，使得圆锥透镜处在聚焦透镜组的焦平面上；（3）在聚焦透镜组后得到无衍射光束。本发明可以获得超长范围内的近似无衍射光束；消除了无衍射光束传播距离对圆锥透镜锥面与底面的锥角小难以加工的局限；结构简洁，安装便捷、实现方便。本发明还同时提供了一种在圆锥透镜阴影区无衍射光束合成装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106483359A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610859372.9
申请日：2016-09-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于偏振态调节的单模光纤电流传感器，其包括依次相连接的超辐射二极管、起偏器、保偏耦合器、偏振控制器、检偏器、光电探测器及降噪放大器、以及法拉第反射镜。所述单模光纤电流传感器还包括两端分别连接所述法拉第反射镜及所述保偏耦合器的单模光纤，所述单模光纤绕待测件的中心轴缠绕形成单模光纤环，所述待测件穿过所述单模光纤环。
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公开(公告)号：CN106226822A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610859703.9
申请日：2016-09-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01V3/02
CPC classification number: G01V3/02
Abstract: 本发明公开了一种基于双路电流平衡及隧道掘进机的地质超前探测方法，其包括以下步骤：(1)提供位于待测地质体内的隧道掘进机及光纤电流传感器，所述隧道掘进机包括护盾、刀盘及连接所述护盾及所述刀盘的主驱动轴承；所述光纤电流传感器缠绕在所述主驱动轴承上，其用于测量流经所述主驱动轴承的电流值；(2)提供双路恒流源，所述双路恒流源的两路电流同时分别施加于所述护盾及所述刀盘；(3)调节两路电流的大小，使所述光纤电流传感器的示数保持为0；(4)根据电压与电流的关系分别计算出所述隧道掘进机的侧向地质体及前方地质体的视电阻率，进而依据计算结果分别分析所述侧向地质体及所述前方地质体的地质状况。
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公开(公告)号：CN102122062B
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN201110051765.4
申请日：2011-03-04
Applicant: 华中科技大学
Inventor： 赵斌
Abstract: 本发明公开了一种平板移束超衍射分辨率显微镜装置，包括依次位于同一光路上的准直物镜、横向移束平板、纵向移束平板、聚焦物镜和目镜。物点发出的光经准直物镜后成为平行光，该平行光经横向移束平板的多次反射和透射后，产生多束透射光，合成光束在横向扩束，再经纵向移束平板后，合成光束在纵向扩束，经扩束后的平行光透过聚焦物镜后，会形成更小的衍射斑，从而突破普通显微镜的衍射分辨率限制。
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公开(公告)号：CN101825438B
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN201010181864.X
申请日：2010-05-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种板材厚度的激光测量装置，包括激光器、摄像机、黑屏和计算机。使用时，激光器和黑屏分别位于被测板的两侧，激光出光点S在被测板底面上方，激光器的出射光路上设置有挡板，挡板挡住约三分之一光斑直径的激光光束；摄像机与激光器位于被测板的同一侧，且摄像机的入射光孔T位于被测板的底面下方，摄像机的镜头前安装有滤光片，计算机与摄像机相连；本发明综合利用激光三角法和光学成像法原理，激光器倾斜照射到被测物体的侧面，形成“光带”，经滤光片滤除激光波长以外的杂散光后，成像于CCD靶面上，经图像处理得到被测物体厚度值。相对于目前工业现场采用的双激光三角测量激光测厚仪而言，安装方便，受被测物体高温热辐射影响大大减小。
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公开(公告)号：CN113739917B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202111009157.7
申请日：2021-08-31
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于光谱仪相关技术领域，并公开了一种基于旋光纤的光谱测量系统。该测量系统包括滤光片、起偏器、旋光纤、检偏器和功率计，其中，滤光片使得待测量光中特定频谱的光通过；经过滤光片的光在该起偏器的作用下变为线偏振光，旋光纤设置在滤光片后方，线偏振光进入旋光纤，在该旋光纤的横截面上按照其偏振方位角分散开来，即在空间上各频率分量单色光沿圆周方向分散分布；所检偏器设置在旋光纤的后方，该检偏器以预设步距角旋转，并将光能量耦合至设置在检偏器后方的功率计中，该功率计用于测量在每个旋转角下的总的光功率，利用该光功率计算获得待测量光的光谱。通过本发明，解决现有光谱仪测量分辨率低以及尺寸大的问题。
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