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公开(公告)号:CN112179874B
公开(公告)日:2021-11-19
申请号:CN202011047182.X
申请日:2020-09-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于光电测量相关技术领域,其公开了一种发光材料激子取向的测量方法及装置,所述方法包括以下步骤:(1)构建发光材料分辨光致发光谱的正向发光计算模型,所述正向发光计算模型首先将激子跃迁的量子力学描述等效为微腔结构中电偶极子辐射的经典电磁理论描述,然后基于电偶激子辐射模型及微腔相干模型,并采用传输矩阵形式,利用菲涅尔系数在所有涉及的界面上进行传输及反射以求解出电磁场,进而得到发光材料角分辨的出射光谱;(2)采用发光材料激子取向的测量装置测量材料的角分辨光谱,基于测量得到的角分辨光谱,结合正向发光计算模型进行逆向反演以得到材料的分子取向。本发明能对掺杂材料体系的分子取向进行准确测量与表征。
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公开(公告)号:CN112179874A
公开(公告)日:2021-01-05
申请号:CN202011047182.X
申请日:2020-09-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于光电测量相关技术领域,其公开了一种发光材料激子取向的测量方法及装置,所述方法包括以下步骤:(1)构建发光材料分辨光致发光谱的正向发光计算模型,所述正向发光计算模型首先将激子跃迁的量子力学描述等效为微腔结构中电偶极子辐射的经典电磁理论描述,然后基于电偶激子辐射模型及微腔相干模型,并采用传输矩阵形式,利用菲涅尔系数在所有涉及的界面上进行传输及反射以求解出电磁场,进而得到发光材料角分辨的出射光谱;(2)采用发光材料激子取向的测量装置测量材料的角分辨光谱,基于测量得到的角分辨光谱,结合正向发光计算模型进行逆向反演以得到材料的分子取向。本发明能对掺杂材料体系的分子取向进行准确测量与表征。
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