数字化水稻考种机
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101905215A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN201010234207.7

    申请日:2010-07-22

    Abstract: 本发明涉及一种适用于农业科研人员在水稻考种过程中自动测量并记录单株或单批次水稻的总粒数、实粒数、结实率、粒长、粒宽以及长宽比的在线无损检测方法。本发明所述数字化水稻考种机主要由条码识别器、谷粒传送装置、风选装置、图像采集装置、PLC控制器以及计算机系统6个功能模块组成;本发明利用风选装置分离实粒和空瘪粒,并利用机器视觉技术动态获取谷物参数,可以同时测量水稻的总粒数和实粒数,克服了目前的检测手段无法同时获取总粒数和实粒数的瓶颈;在计算水稻粒数的同时,实现了对水稻粒型参数的检测。也可广泛应用于其它粮食作物的考种工作。

    植物分蘖数自动测量装置及方法

    公开(公告)号:CN101349655A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200810048446.6

    申请日:2008-07-18

    Abstract: 本发明涉及植物分蘖数自动测量装置及测量方法,本装置包括流水线系统、X射线成像系统、电动旋转台、旋转台控制器、计算机、图像采集卡,电动旋转台依次与旋转台控制器和计算机相连,X射线成像系统依次与图像采集卡和计算机相连,本发明由计算机控制,采用流水线系统,将待提取参数的样品送上电动旋转台,由X射线成像系统拍摄投影正弦图像,由计算机将所得图像进行断层重建,从重建结果计算得到植物的分蘖数。本发明利用X射线断层成像的方法,从重建出的图像中提取出分蘖数,具有安全无损、测量结果准确可靠等优点。

    数字化水稻考种机
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101905215B

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201010234207.7

    申请日:2010-07-22

    Abstract: 本发明涉及一种适用于农业科研人员在水稻考种过程中自动测量并记录单株或单批次水稻的总粒数、实粒数、结实率、粒长、粒宽以及长宽比的在线无损检测方法。本发明所述数字化水稻考种机主要由条码识别器、谷粒传送装置、风选装置、图像采集装置、PLC控制器以及计算机系统6个功能模块组成;本发明利用风选装置分离实粒和空瘪粒,并利用机器视觉技术动态获取谷物参数,可以同时测量水稻的总粒数和实粒数,克服了目前的检测手段无法同时获取总粒数和实粒数的瓶颈;在计算水稻粒数的同时,实现了对水稻粒型参数的检测。也可广泛应用于其它粮食作物的考种工作。

    水稻穗长的自动测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN101929843A

    公开(公告)日:2010-12-29

    申请号:CN201010143094.X

    申请日:2010-04-09

    Abstract: 本发明中介绍的水稻穗长自动测量装置,包括机架、样品放置板、细节相机、全景相机、前景光源、背景光源、图像采集卡、计算机、电源,所述样品放置板安装在机架内,用于放置稻穗茎杆,所述细节相机、全景相机分别通过机架安装在样品放置板上方,细节相机用于拍摄稻穗茎杆部分的细节图像,全景相机用于拍摄稻穗的全景图像;细节相机、全景相机分别通过图像采集卡与计算机相连,所述计算机接收所述图像采集卡输入的图像,并进行图像处理,测量出稻穗长度。本发明利用机器视觉,在图像识别处理的基础上测量水稻的穗长,具有测量精度高,可重复性好,无需工作人员从穗颈节处剪下稻穗等优点。

    稻米参数自动测量装置及方法

    公开(公告)号:CN101339117B

    公开(公告)日:2011-02-09

    申请号:CN200810048740.7

    申请日:2008-08-08

    Abstract: 本发明涉及一种稻米参数自动测量装置及方法,本装置由预设的计算机控制,采用单株脱粒仪将稻穗脱粒,谷粒由单株脱粒仪通过直槽式接口落到皮带上,由运转的皮带分离谷粒;由X-ray成像系统拍摄X射线透射图,由计算机将所得图像进行处理,得到稻米的各项参数。本发明利用X射线成像的方法,用数字图像处理技术处理拍摄到的图像,得到稻米的各项参数,无需对脱粒后的谷粒进行去壳处理,且将脱粒、参数提取集成到一个系统中,具有安全无损、测量结果准确可靠,操作简单等优点。

    稻米参数自动测量装置及方法

    公开(公告)号:CN101339117A

    公开(公告)日:2009-01-07

    申请号:CN200810048740.7

    申请日:2008-08-08

    Abstract: 本发明涉及一种稻米参数自动测量装置及方法,本装置由预设的计算机控制,采用单株脱粒仪将稻穗脱粒,谷粒由单株脱粒仪通过直槽式接口落到皮带上,由运转的皮带分离谷粒;由X-ray成像系统拍摄X射线透射图,由计算机将所得图像进行处理,得到稻米的各项参数。本发明利用X射线成像的方法,用数字图像处理技术处理拍摄到的图像,得到稻米的各项参数,无需对脱粒后的谷粒进行去壳处理,且将脱粒、参数提取集成到一个系统中,具有安全无损、测量结果准确可靠,操作简单等优点。

    水稻穗长的自动测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN101929843B

    公开(公告)日:2013-02-20

    申请号:CN201010143094.X

    申请日:2010-04-09

    Abstract: 本发明中介绍的水稻穗长自动测量装置,包括机架、样品放置板、细节相机、全景相机、前景光源、背景光源、图像采集卡、计算机、电源,所述样品放置板安装在机架内,用于放置稻穗茎杆,所述细节相机、全景相机分别通过机架安装在样品放置板上方,细节相机用于拍摄稻穗茎杆部分的细节图像,全景相机用于拍摄稻穗的全景图像;细节相机、全景相机分别通过图像采集卡与计算机相连,所述计算机接收所述图像采集卡输入的图像,并进行图像处理,测量出稻穗长度。本发明利用机器视觉,在图像识别处理的基础上测量水稻的穗长,具有测量精度高,可重复性好,无需工作人员从穗颈节处剪下稻穗等优点。

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