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公开(公告)号：CN106152952A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201610596188.X
申请日：2016-07-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/06
Abstract: 本发明属于带材非接触在线测厚相关领域，并公开了一种可多点修正的差动式在线激光测厚系统，该系统包括整体呈矩形框架的结构件、以及配套的激光控制器、运动控制卡和中央处理单元，其中整体呈矩形框架的结构件上分布安装有两个激光位移传感器，这两个激光位移传感器沿着同一垂直轴线相对设置且保持同步横向移动，由此实现来回扫描测量厚度。本发明还公开了相应的测量方法，其中在测厚之前可通过标准片逐点标定每个扫描位置的上下两激光头之间的距离值，在执行扫描测厚时通过每个位置的距离值计算该位置测得的待测带材的厚度值。通过本发明，能够在提供更好的结构稳定性和抗震性的同时，还可以为整个扫描测厚过程中的每个测量位置提供偏差校正。
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公开(公告)号：CN105819259A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610196686.5
申请日：2016-03-31
Applicant: 华中科技大学
IPC: B65H23/038 , B65H26/00
CPC classification number: B65H23/038 , B65H26/00 , B65H2511/242 , B65H2511/413 , B65H2513/512 , B65H2220/01 , B65H2220/02
Abstract: 本发明公开了一种带材收卷跑偏的补救纠偏系统及其控制方法，所述系统包括收卷装置、监测装置、纠偏装置、预收卷装置和控制模块，所述监测装置的图像采集器实时采集收卷辊两侧边缘刚刚收卷区域的图像并将其传输给控制模块，控制模块根据接收到的图像判断收卷带材是否跑偏，若跑偏，则控制模块控制收卷电动机停转，同时控制预收卷装置和纠偏装置运作完成纠偏过程，最后由控制模块控制预收卷装置和纠偏装置回到正常收卷时的位置。本发明能够对已经收卷跑偏的带材进行补救纠偏，从而确保带材收卷的整齐一致，使得通过一次收卷可以得到直径更大的卷带，克服了需要经常更换收卷辊的弊端，从而可提高收卷效率和收卷质量。
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公开(公告)号：CN105819259B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610196686.5
申请日：2016-03-31
Applicant: 华中科技大学
IPC: B65H23/038 , B65H26/00
Abstract: 本发明公开了一种带材收卷跑偏的补救纠偏系统及其控制方法，所述系统包括收卷装置、监测装置、纠偏装置、预收卷装置和控制模块，所述监测装置的图像采集器实时采集收卷辊两侧边缘刚刚收卷区域的图像并将其传输给控制模块，控制模块根据接收到的图像判断收卷带材是否跑偏，若跑偏，则控制模块控制收卷电动机停转，同时控制预收卷装置和纠偏装置运作完成纠偏过程，最后由控制模块控制预收卷装置和纠偏装置回到正常收卷时的位置。本发明能够对已经收卷跑偏的带材进行补救纠偏，从而确保带材收卷的整齐一致，使得通过一次收卷可以得到直径更大的卷带，克服了需要经常更换收卷辊的弊端，从而可提高收卷效率和收卷质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107796317B
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201711216778.6
申请日：2017-11-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于非接触式在线测厚领域，并具体公开了一种薄膜在线激光测厚系统及方法，包括大理石框架和设于大理石框架内部的C形架，大理石框架内顶部及底部设置有钢片和导轨；C形架具有上梁和下梁，上、下梁之间放置待测薄膜，上梁上下端部设置第一、第二激光位移传感器，第一、第二激光位移传感器分别用于测量各自发射点到钢片及待测薄膜上表面的距离，下梁上下端部设置第三激光位移传感器和滑块，第三激光位移传感器用于测量待测薄膜下表面到其发射点的距离，滑块与导轨滑动配合，并可沿导轨做来回水平直线运动。所述方法采用所述测厚系统进行厚度测量。本发明可消除测量偏差，提高测量精度，适用于微米级及以下的高精度激光测厚应用场合。
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公开(公告)号：CN106152952B
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：CN201610596188.X
申请日：2016-07-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于带材非接触在线测厚相关领域，并公开了一种可多点修正的差动式在线激光测厚系统，该系统包括整体呈矩形框架的结构件、以及配套的激光控制器、运动控制卡和中央处理单元，其中整体呈矩形框架的结构件上分布安装有两个激光位移传感器，这两个激光位移传感器沿着同一垂直轴线相对设置且保持同步横向移动，由此实现来回扫描测量厚度。本发明还公开了相应的测量方法，其中在测厚之前可通过标准片逐点标定每个扫描位置的上下两激光头之间的距离值，在执行扫描测厚时通过每个位置的距离值计算该位置测得的待测带材的厚度值。通过本发明，能够在提供更好的结构稳定性和抗震性的同时，还可以为整个扫描测厚过程中的每个测量位置提供偏差校正。
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公开(公告)号：CN106197295B
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201610573321.X
申请日：2016-07-20
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明属于测厚仪领域，并公开了一种激光测厚仪，包括C形架以及共同安装在所述C形架上的激光器、感光元件、分束镜、第二上反射镜、第二下反射镜、第一上反射镜、第一下反射镜、上透镜和下透镜，所述第一上反射镜和第一下反射镜关于水平对称面对称设置，所述第二上反射镜和第二下反射镜关于所述水平对称面对称设置，所述上透镜和下透镜关于所述水平对称面对称设置并且两者均为凸透镜，所述分束镜平行于所述水平对称面设置。本发明有效解决了上下两激光不同步的问题，使得测量更稳定、精确，且节省了制造成本。
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公开(公告)号：CN107796317A
公开(公告)日：2018-03-13
申请号：CN201711216778.6
申请日：2017-11-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/0616
Abstract: 本发明属于非接触式在线测厚领域，并具体公开了一种薄膜在线激光测厚系统及方法，包括大理石框架和设于大理石框架内部的C形架，大理石框架内顶部及底部设置有钢片和导轨；C形架具有上梁和下梁，上、下梁之间放置待测薄膜，上梁上下端部设置第一、第二激光位移传感器，第一、第二激光位移传感器分别用于测量各自发射点到钢片及待测薄膜上表面的距离，下梁上下端部设置第三激光位移传感器和滑块，第三激光位移传感器用于测量待测薄膜下表面到其发射点的距离，滑块与导轨滑动配合，并可沿导轨做来回水平直线运动。所述方法采用所述测厚系统进行厚度测量。本发明可消除测量偏差，提高测量精度，适用于微米级及以下的高精度激光测厚应用场合。
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公开(公告)号：CN106197295A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610573321.X
申请日：2016-07-20
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/06
Abstract: 本发明属于测厚仪领域，并公开了一种激光测厚仪，包括C形架以及共同安装在所述C形架上的激光器、感光元件、分束镜、第二上反射镜、第二下反射镜、第一上反射镜、第一下反射镜、上透镜和下透镜，所述第一上反射镜和第一下反射镜关于水平对称面对称设置，所述第二上反射镜和第二下反射镜关于所述水平对称面对称设置，所述上透镜和下透镜关于所述水平对称面对称设置并且两者均为凸透镜，所述分束镜平行于所述水平对称面设置。本发明有效解决了上下两激光不同步的问题，使得测量更稳定、精确，且节省了制造成本。
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