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公开(公告)号：CN118914599A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411346328.9
申请日：2024-09-26
Abstract: 本申请属于近场光学测试技术领域，具体公开了一种基于近场光学测试的物质信息获取方法及装置，该方法包括：引入泵浦光聚焦在近场光学显微镜的针尖的下方以及引入探测光照射在针尖的下方，在针尖的下方设置有被测样品；在不同泵浦探测延迟下，通过近场光学显微镜测得被测样品的一组光谱；将被测样品的一组光谱输入至深度学习模型，获取深度学习模型输出的物质信息。本申请通过将不同泵浦探测延迟下测得被测样品光谱的手段和利用深度学习模型做预测的手段相结合，能够保障测试的高效性同时确保预测的准确性，实现利用近场光学信号高效准确地获取被测样品的物质信息。
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公开(公告)号：CN114018176A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111255246.X
申请日：2021-10-27
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种投影图像处理模块、三维重构方法及其系统，该方法包括将通过三步相移法生成的正弦条纹光栅图案编码进RGB信道，获得彩色图像并投影至被测物体以获取原始投影图像；计算原始投影图像相邻像素点间展开相位差值与相邻像素点间包裹相位差值的最小二乘解，得到第一包裹相位；对原始投影图像进行希尔伯特变换后计算相邻像素点间展开相位差值与相邻像素点间包裹相位差值的最小二乘解，得到第二包裹相位；对第一包裹相位和第二包裹相位进行加权计算，得到修正包裹相位并进行相位展开以被测物体的三维高度值。本申请只需要一帧彩色条纹相移图片，获取相位过程快速，且基于希尔伯特变换对非正弦误差进行补偿，可以将非正弦误差降低80％。
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公开(公告)号：CN118914599B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411346328.9
申请日：2024-09-26
Abstract: 本申请属于近场光学测试技术领域，具体公开了一种基于近场光学测试的物质信息获取方法及装置，该方法包括：引入泵浦光聚焦在近场光学显微镜的针尖的下方以及引入探测光照射在针尖的下方，在针尖的下方设置有被测样品；在不同泵浦探测延迟下，通过近场光学显微镜测得被测样品的一组光谱；将被测样品的一组光谱输入至深度学习模型，获取深度学习模型输出的物质信息。本申请通过将不同泵浦探测延迟下测得被测样品光谱的手段和利用深度学习模型做预测的手段相结合，能够保障测试的高效性同时确保预测的准确性，实现利用近场光学信号高效准确地获取被测样品的物质信息。
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