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公开(公告)号:CN106325073A
公开(公告)日:2017-01-11
申请号:CN201610933884.5
申请日:2016-10-31
Applicant: 华中科技大学 , 武汉久同智能科技有限公司
IPC: G05B13/04
CPC classification number: G05B13/042
Abstract: 本发明公开了一种基于分数阶的伺服系统位置IP控制器无模型自校正方法,包括以下步骤:设定参考模型,激励系统获取离线数据库,初始化系统相关参数,然后根据当前时刻新采集的输入和输出数据进行数据库的更新,接着根据相似度准则函数进行相似数据队列的选择,之后进行分数阶控制器阶次的选取,最后采用粒子群优化算法对分数阶IP控制器参数进行自校正。本发明提出的无模型自校正方法考虑了系统的分数阶特性,综合衡量了超调量、上升时间、误差收敛速度以及控制器参数的变化量等方面的性能,并且使用相似度准则函数保证了系统的实时性,另外不受未建模动态的影响,提高了系统的鲁棒性、抗扰动能力和控制精度。
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公开(公告)号:CN105136031B
公开(公告)日:2017-09-29
申请号:CN201510527050.X
申请日:2015-08-25
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种五轴联动机床旋转轴的几何误差连续测量方法,其包括如下步骤:在五轴联动机床的主轴上安装激光位移传感器,并在其工作台上安装三个不共线的标定球,设定标定球的齐次坐标表达式;分别以摆动轴A和回转轴C为标定轴,利用激光位移传感器测量摆动轴A及回转轴C在不同转角时,各标定球圆心在X、Y、Z方向上的位置偏差;根据标定球圆心的位置偏差及标定球的齐次坐标表达式,计算获得摆动轴A和回转轴C的几何误差值。本发明利用斜曲面建立待测刚体X、Y、Z三个方向位置偏差的映射关系,将X、Y、Z三个维度的平移映射为单一维度的距离变化,在一次装卡的同时实现了连续采样,具有测量效率高、精度高等优点。
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公开(公告)号:CN107037726A
公开(公告)日:2017-08-11
申请号:CN201610969568.3
申请日:2016-10-31
Applicant: 华中科技大学 , 武汉久同智能科技有限公司
IPC: G05B13/04
CPC classification number: G05B13/04 , G05B13/045
Abstract: 本发明公开了一种非同元分数阶系统滑膜干扰观测器设计方法,其具体步骤包括:激励系统获取相关数据,离线辨识系统非同元分数阶模型,然后根据系统的非同元分数阶阶次,设计滑膜干扰观测器在线观测当前时刻的扰动。本发明还公开了应用相应方法设计的产品。本发明还公开了应用相应产品对非同元分数阶系统进行控制的方法。相对于传统的抗扰动方法,本发明方法利用非同元分数阶系统模型进行滑膜干扰观测器的设计,提高了扰动观测的准确度;能够在有限时间内收敛,保证观测结果的实时性;在遇到强干扰的作用下,增强非同元分数阶系统的鲁棒性与稳定性,此外,本发明提出的方法也适用于同元分数阶系统。
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公开(公告)号:CN105371793B
公开(公告)日:2018-01-09
申请号:CN201510715780.2
申请日:2015-10-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明提出一种五轴机床旋转轴几何误差一次装卡测量方法。本发明通过分别测量两条运动链理想位姿与实际位姿间的偏差,然后基于机构的空间误差模型,反算出双运动链上待标定运动副的几何误差值,能够实现单摆头—单转台五轴联动机床两个旋转轴共十二项几何误差参数的一次装卡连续测量,在保证测量精度的前提下,避免了测量仪器及试件的多次装卡,提高了测量效率,填补了本领域的空白。该方法可应用于单摆头—单转台结构五轴联动机床两个旋转轴几何误差的测量。
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公开(公告)号:CN103793712B
公开(公告)日:2017-02-08
申请号:CN201410055598.4
申请日:2014-02-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于边缘几何特征的图像识别方法,包括对工件的原始图像进行滤波处理;对上述滤波处理后的图像进行二值化处理;对二值化处理后的图像查找获得轮廓序列集;从上述轮廓序列集中筛选出合格的工件轮廓;确定上述工件轮廓的最小外接矩形,并确定上述工件轮廓的中心点;沿上述最小外接矩形的四条边的方向截取上述工件轮廓的四个子序列;使用边缘几何特征算子计算上述四个子序列中各子序列的能量值;确定上述四个子序列中能量值最大的子序列,并确定工件的方向角。本发明还提供了相应的图像识别系统。本发明无需建立工件的模板数据库,降低了存储消耗,减少了计算时间,能够满足高速实时性要求;同时具有较高的快速识别能力。
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公开(公告)号:CN105371793A
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201510715780.2
申请日:2015-10-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B21/00
Abstract: 本发明提出一种五轴机床旋转轴几何误差一次装卡测量方法。本发明通过分别测量两条运动链理想位姿与实际位姿间的偏差,然后基于机构的空间误差模型,反算出双运动链上待标定运动副的几何误差值,能够实现单摆头—单转台五轴联动机床两个旋转轴共十二项几何误差参数的一次装卡连续测量,在保证测量精度的前提下,避免了测量仪器及试件的多次装卡,提高了测量效率,填补了本领域的空白。该方法可应用于单摆头—单转台结构五轴联动机床两个旋转轴几何误差的测量。
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公开(公告)号:CN105136031A
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201510527050.X
申请日:2015-08-25
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种五轴联动机床旋转轴的几何误差连续测量方法,其包括如下步骤:在五轴联动机床的主轴上安装激光位移传感器,并在其工作台上安装三个不共线的标定球,设定标定球的齐次坐标表达式;分别以摆动轴A和回转轴C为标定轴,利用激光位移传感器测量摆动轴A及回转轴C在不同转角时,各标定球圆心在X、Y、Z方向上的位置偏差;根据标定球圆心的位置偏差及标定球的齐次坐标表达式,计算获得摆动轴A和回转轴C的几何误差值。本发明利用斜曲面建立待测刚体X、Y、Z三个方向位置偏差的映射关系,将X、Y、Z三个维度的平移映射为单一维度的距离变化,在一次装卡的同时实现了连续采样,具有测量效率高、精度高等优点。
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公开(公告)号:CN103793712A
公开(公告)日:2014-05-14
申请号:CN201410055598.4
申请日:2014-02-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于边缘几何特征的图像识别方法,包括对工件的原始图像进行滤波处理;对上述滤波处理后的图像进行二值化处理;对二值化处理后的图像查找获得轮廓序列集;从上述轮廓序列集中筛选出合格的工件轮廓;确定上述工件轮廓的最小外接矩形,并确定上述工件轮廓的中心点;沿上述最小外接矩形的四条边的方向截取上述工件轮廓的四个子序列;使用边缘几何特征算子计算上述四个子序列中各子序列的能量值;确定上述四个子序列中能量值最大的子序列,并确定工件的方向角。本发明还提供了相应的图像识别系统。本发明无需建立工件的模板数据库,降低了存储消耗,减少了计算时间,能够满足高速实时性要求;同时具有较高的快速识别能力。
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公开(公告)号:CN107037726B
公开(公告)日:2019-08-13
申请号:CN201610969568.3
申请日:2016-10-31
Applicant: 华中科技大学 , 武汉久同智能科技有限公司
IPC: G05B13/04
Abstract: 本发明公开了一种非同元分数阶系统滑膜干扰观测器设计方法,其具体步骤包括:激励系统获取相关数据,离线辨识系统非同元分数阶模型,然后根据系统的非同元分数阶阶次,设计滑膜干扰观测器在线观测当前时刻的扰动。本发明还公开了应用相应方法设计的产品。本发明还公开了应用相应产品对非同元分数阶系统进行控制的方法。相对于传统的抗扰动方法,本发明方法利用非同元分数阶系统模型进行滑膜干扰观测器的设计,提高了扰动观测的准确度;能够在有限时间内收敛,保证观测结果的实时性;在遇到强干扰的作用下,增强非同元分数阶系统的鲁棒性与稳定性,此外,本发明提出的方法也适用于同元分数阶系统。
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公开(公告)号:CN106325073B
公开(公告)日:2018-11-30
申请号:CN201610933884.5
申请日:2016-10-31
Applicant: 华中科技大学 , 武汉久同智能科技有限公司
IPC: G05B13/04
Abstract: 本发明公开了一种基于分数阶的伺服系统位置环IP控制器无模型自校正方法,包括以下步骤:设定参考模型,激励系统获取离线数据库,初始化系统相关参数,然后根据当前时刻新采集的输入和输出数据进行数据库的更新,接着根据相似度准则函数进行相似数据队列的选择,之后进行分数阶控制器阶次的选取,最后采用粒子群优化算法对分数阶IP控制器参数进行自校正。本发明提出的无模型自校正方法考虑了系统的分数阶特性,综合衡量了超调量、上升时间、误差收敛速度以及控制器参数的变化量等方面的性能,并且使用相似度准则函数保证了系统的实时性,另外不受未建模动态的影响,提高了系统的鲁棒性、抗扰动能力和控制精度。
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