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公开(公告)号:CN116487474A
公开(公告)日:2023-07-25
申请号:CN202310375555.3
申请日:2023-04-10
Applicant: 北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
IPC: H01L31/18 , H01L31/0216 , H01L31/10 , H01L31/103
Abstract: 本申请提供一种光电探测器结构及其形成方法,所述结构包括:绝缘体上硅衬底,所述绝缘体上硅衬底包括顶层硅,所述顶层硅包括生长区和位于所述生长区两侧的掺杂区,所述顶层硅表面形成有介质层;所述生长区的介质层中形成有外延层,所述生长区中的外延层的宽度与所述生长区的宽度相等,所述外延层延伸至所述顶层硅中,所述外延层表面高于所述介质层表面;所述介质层中的外延层侧壁形成有保护层。本申请提供一种光电探测器结构及其形成方法,利用所述保护层保护所述介质层不被横向刻蚀,提高外延层以及介质层的准直性,进而减少外延层的应力集中和穿透位错密度,提高光电探测器结构的可靠性。