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公开(公告)号：CN119581090A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411708994.2
申请日：2024-11-27
Applicant: 北方夜视科技(南京)研究院有限公司 , 中国科学院国家天文台
IPC: G21K1/06 , C23C16/455 , C23C16/06
Abstract: 本发明提供一种高反射率双层膜的龙虾眼型X射线微孔光学器件及制备方法。该高反射率双层膜的龙虾眼型X射线微孔光学器件包括：玻璃基的微通道毛细阵列基底；在微通道表面镀制的金属Ir薄膜；以及在金属Ir薄膜表面镀制的吸收层薄膜，所述吸收层薄膜与金属Ir薄膜形成连续膜层且不发生相互反应，并且膜层界面相互扩散小于2nm。通过本发明的设计可进一步提高MPO光学器件有效面积及其一致性，解决现有龙虾眼型X射线微孔光学器件的Ir金属反射膜的吸收边问题，改进龙虾眼型X射线光学系统的性能。
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公开(公告)号：CN112073712B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202010871607.2
申请日：2020-08-26
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置；采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像；在图像传感器的感光图像上查找第一像素，记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值；根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到图像传感器的串扰值。本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像，通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值，使用方法简单，测试成本低，不易受到光学衍射的影响，结果准确。
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公开(公告)号：CN113262940B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202110469536.8
申请日：2021-04-28
Applicant: 中国科学院国家天文台
Abstract: 本发明提供一种MPO镜片低应力预处理装置及其应用方法，该装置包括：基底；固定设置于基底上方的镜片支撑模块，镜片支撑模块包括成对对称排布的多个镜片支撑单元；多个设置于基底上方且位于任意两个镜片支撑单元之间的连接脚置位单元，各连接脚置位单元的内侧面均设有至少一个的用于装载相应连接脚的置位突起；多个水平运动控制单元，各水平运动控制单元分别用于将各连接脚置位单元与基底活动连接；其中，多个镜片支撑单元支撑MPO镜片的高度与置位突起装载连接脚的高度相适应。该装置结构简单优化，各部件相互关联，配合工作，可将多个连接脚以低应力形式安装至MPO镜片上并避免MPO镜片损坏或变形，可应用性强。
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公开(公告)号：CN113259656B
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202110513183.7
申请日：2021-05-11
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种图像传感器的残像测试方法及装置，涉及残像测试技术领域，该方法包括以下步骤：利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像，其中，第二图像与第一图像相邻且位于第一图像之后；确定第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置，获取第二图像上第一像素位置处的第一响应值。其中，宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息；根据第一响应值，得到待测试的图像传感器的残像，本发明实现在普通环境下即可开展的图像传感器残像测试。
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公开(公告)号：CN113259656A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110513183.7
申请日：2021-05-11
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种图像传感器的残像测试方法及装置，涉及残像测试技术领域，该方法包括以下步骤：利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像，其中，第二图像与第一图像相邻且位于第一图像之后；确定第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置，获取第二图像上第一像素位置处的第一响应值。其中，宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息；根据第一响应值，得到待测试的图像传感器的残像，本发明实现在普通环境下即可开展的图像传感器残像测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112073712A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010871607.2
申请日：2020-08-26
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置；采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像；在图像传感器的感光图像上查找第一像素，记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值；根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到图像传感器的串扰值。本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像，通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值，使用方法简单，测试成本低，不易受到光学衍射的影响，结果准确。
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公开(公告)号：CN115278222A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210921449.6
申请日：2022-08-02
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种图像传感器响应不一致性的测试方法、装置与电子设备，方法包括：采用放射性光源照射待测试的图像传感器，记录照射过程中所述图像传感器所接收到的各个电子团的位置以及对应的灰度值；在所述照射过程结束后，根据所记录的所有电子团的位置以及对应的灰度值，确定所述图像传感器中的各个像素所接收到的多个特定电子团对应的灰度值；其中，所述特定电子团具有预先确定的电子数量；根据所述图像传感器中的各个像素所接收到的多个特定电子团对应的灰度值，为所述各个像素分别进行拟合，得到所述各个像素各自的增益值；根据所述各个像素各自的增益值，确定所述图像传感器的响应不一致性。
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公开(公告)号：CN118583449A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410647502.7
申请日：2024-05-23
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供一种装调望远镜光轴稳定性检测系统及检测方法；系统包括激光跟踪仪、光学反射器件、装调望远镜固定机构以及光学反射器件移动机构；其中，待检测的装调望远镜安装在装调望远镜固定机构上；光学反射器件安装在光学反射器件移动机构上；光学反射器件在光学反射器件移动机构的作用下能够沿着装调望远镜的光轴移动，以及在光学反射器件移动机构的作用下能够在光轴附近移动；激光跟踪仪用于记录光学反射器件的空间位置数据；装调望远镜用于记录光学反射器件相对于装调望远镜1的光轴的偏转位移量。本发明实现了对装调望远镜光轴稳定性的检测，具有检测精度高的优点。
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公开(公告)号：CN115297318A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210922671.8
申请日：2022-08-02
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种修正图像传感器能量分辨率的方法、装置与电子设备，方法包括：根据待修正的图像传感器中的各个像素各自所接收到的多个特定电子团对应的灰度值以及能量值，为所述各个像素分别建立能量修正公式；其中，所述特定电子团具有预先确定的电子数量；根据所述各个像素各自的能量修正公式，对所述各个像素各自所接收到的多个特定电子团的能量值分别进行修正；根据所述图像传感器中的各个像素所接收到的所述多个特定电子团的修正后的能量值，确定所述图像传感器的修正后的能量分辨率。本发明有效克服了图像传感器因为多种原因所造成的偏差，提高了图像传感器的能量分辨率。
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公开(公告)号：CN115218832A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202110401414.5
申请日：2021-04-14
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明提供一种微孔光学元件的偏置角测量装置及测量方法，装置包括：可见光光源、X射线源、半反透镜以及探测器；其中，待测量的微孔光学元件安装在所述半反透镜与所述X射线源之间，且所述微孔光学元件的凹面面向所述半反透镜；所述X射线源所发出的X射线依次穿过待测量的微孔光学元件以及所述半反透镜，照射到所述探测器上；可见光光源所发出的可见光经所述半反透镜反射后到达所述微孔光学元件的凹面，经所述微孔光学元件的凹面反射的可见光与所述X射线同轴，并穿过所述半反透镜，照射到所述探测器上；探测器用于采集可见光聚焦图像的焦点位置以及X射线聚焦图像的焦点位置。
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