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公开(公告)号：CN113259656B
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202110513183.7
申请日：2021-05-11
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种图像传感器的残像测试方法及装置，涉及残像测试技术领域，该方法包括以下步骤：利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像，其中，第二图像与第一图像相邻且位于第一图像之后；确定第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置，获取第二图像上第一像素位置处的第一响应值。其中，宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息；根据第一响应值，得到待测试的图像传感器的残像，本发明实现在普通环境下即可开展的图像传感器残像测试。
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公开(公告)号：CN113259656A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110513183.7
申请日：2021-05-11
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种图像传感器的残像测试方法及装置，涉及残像测试技术领域，该方法包括以下步骤：利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像，其中，第二图像与第一图像相邻且位于第一图像之后；确定第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置，获取第二图像上第一像素位置处的第一响应值。其中，宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息；根据第一响应值，得到待测试的图像传感器的残像，本发明实现在普通环境下即可开展的图像传感器残像测试。
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公开(公告)号：CN112073712A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010871607.2
申请日：2020-08-26
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置；采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像；在图像传感器的感光图像上查找第一像素，记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值；根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到图像传感器的串扰值。本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像，通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值，使用方法简单，测试成本低，不易受到光学衍射的影响，结果准确。
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公开(公告)号：CN112073712B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202010871607.2
申请日：2020-08-26
Applicant: 中国科学院国家天文台
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置；采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像；在图像传感器的感光图像上查找第一像素，记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值；根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到图像传感器的串扰值。本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像，通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值，使用方法简单，测试成本低，不易受到光学衍射的影响，结果准确。
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