微孔光学元件的偏置角测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN115218832A

    公开(公告)日:2022-10-21

    申请号:CN202110401414.5

    申请日:2021-04-14

    Abstract: 本发明提供一种微孔光学元件的偏置角测量装置及测量方法,装置包括:可见光光源、X射线源、半反透镜以及探测器;其中,待测量的微孔光学元件安装在所述半反透镜与所述X射线源之间,且所述微孔光学元件的凹面面向所述半反透镜;所述X射线源所发出的X射线依次穿过待测量的微孔光学元件以及所述半反透镜,照射到所述探测器上;可见光光源所发出的可见光经所述半反透镜反射后到达所述微孔光学元件的凹面,经所述微孔光学元件的凹面反射的可见光与所述X射线同轴,并穿过所述半反透镜,照射到所述探测器上;探测器用于采集可见光聚焦图像的焦点位置以及X射线聚焦图像的焦点位置。

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