一种衍射光栅干涉光路合束装置及方法

    公开(公告)号:CN115755420A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211173231.3

    申请日:2022-09-26

    Abstract: 本发明涉及衍射光干涉测量系统技术领域,特别是涉及一种衍射光栅干涉光路合束装置及方法。包括激光器、平凸透镜、光电接收器、不规则五角棱镜组、衍射光栅。所述平凸透镜安装于所述激光器的前端,所述不规则五角棱镜组安装于所述平凸透镜的前端,所述衍射光栅安装于所述不规则五角棱镜组的前端,所述激光器、平凸透镜、不规则五角棱镜组、衍射光栅的中心在一条直线上,两个所述光电接收器分别对称安装于不规则五角棱镜组靠近所述平凸透镜的两个平面上。本发明利用不规则五角镜对称安放,实现同级衍射光准确发生干涉,将两个五角镜的接触面之间胶合设置,大大简化了光路调整工作。

    一种触针式轮廓参数校准器具、轮廓测量仪及校准方法

    公开(公告)号:CN115655184A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211175456.2

    申请日:2022-09-26

    Abstract: 本发明涉及轮廓参数校准技术领域,特别是涉及一种触针式轮廓参数校准器具、轮廓测量仪及校准方法。包括第一基底材料和第二基底材料,第一基底材料上铣削加工出高度不同的台阶块组,第二基底材料上铣削加工出四种特征,四种所述特征依次分别包括标准球、锐角等腰三角形刃尖、等直径的贯通圆柱凹槽组、梯形台阶,所述第一基底材料上设置有至少一个第一螺纹孔,所述第二基底材料上设置有与所述第一螺纹孔相对应的第二螺纹孔,所述第一基底材料通过所述第一螺纹孔和第二螺纹孔装配于所述第二基底材料的侧面。本发明能够将不同器具的面型特征在同一实物标准中体现,减少了标准器数量,优化特征种类,将具有相同功能的特征进行删减,保留可溯源特征。

    一种基于X射线的低温形变测量方法及系统

    公开(公告)号:CN117907361A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202311680898.7

    申请日:2023-12-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于X射线的低温形变测量方法及系统,包括:样品扫描模块、图像预处理模块、图像分割模块、点云拟合模块和尺寸测量模块;样品扫描模块,以X射线对浸泡在液氮中的被测样品进行透射得到CT图像数据;图像预处理模块,对CT图像数据进行引导滤波去噪,得到突出图像边缘特征的预处理数据;图像分割模块,对预处理数据进行图像轮廓提取,得到被测样品的轮廓数据;点云拟合模块,根据设定的几何元素对轮廓数据进行拟合得到被测样品的三维模型;尺寸测量模块,根据测量需求对三维模型进行尺寸参数的测量;使用本发明能够提升在低温环境下对目标器件的外部及内部微小形变进行测量的准确性。

    一种衍射光栅干涉光路合束装置及方法

    公开(公告)号:CN115755420B

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202211173231.3

    申请日:2022-09-26

    Abstract: 本发明涉及衍射光干涉测量系统技术领域,特别是涉及一种衍射光栅干涉光路合束装置及方法。包括激光器、平凸透镜、光电接收器、不规则五角棱镜组、衍射光栅。所述平凸透镜安装于所述激光器的前端,所述不规则五角棱镜组安装于所述平凸透镜的前端,所述衍射光栅安装于所述不规则五角棱镜组的前端,所述激光器、平凸透镜、不规则五角棱镜组、衍射光栅的中心在一条直线上,两个所述光电接收器分别对称安装于不规则五角棱镜组靠近所述平凸透镜的两个平面上。本发明利用不规则五角镜对称安放,实现同级衍射光准确发生干涉,将两个五角镜的接触面之间胶合设置,大大简化了光路调整工作。

    一种大尺寸气浮圆弧导轨半径测试系统

    公开(公告)号:CN221238361U

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202322832383.6

    申请日:2023-10-20

    Abstract: 一种大尺寸气浮圆弧导轨半径测试系统,包括:激光测距仪、重力倾角仪、反射镜和半径测试单元。重力倾角仪和反射镜固定安装在气浮动子平台,重力倾角仪和反射镜随气浮动子平台同步运动;激光测距仪用于利用反射镜,检测反射镜位置改变前后的弦长变化数据,并传输给半径测试单元;重力倾角仪用于检测反射镜位置改变前后的角度变化数据,并传输给半径测试单元;半径测试单元接收弦长变化数据和角度变化数据,解算获得气浮导轨的半径。本实用新型采用测量运动气浮圆弧的角度变化和弦长变化来间接测量大尺寸气浮导轨的动态半径,适用于大直径动态半径测量。

    一种卡尺检定用孔距规
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204788101U

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201420643916.4

    申请日:2014-11-02

    Inventor: 尹琨 刘娅欣 赵宾

    Abstract: 本实用新型属于长度计量技术领域,具体涉及一种卡尺检定用孔距规,目的是解决对于非标准类型的卡尺无法通过直接接触测量量块量值来实现检定的问题。其特征在于:它为长方形尺状,其垂直度不大于10μm,在其短边中心线上布置有几个同直径的通孔,通孔的直径和间距根据通用卡尺检定规程JJG30-2012确定。本实用新型采用其垂直度不大于10μm,短边中心线上布置相同直径通孔的长方形尺状结构,可对被检测的中心距卡尺进行直接比较测量,读取被检测的中心距卡尺的示值误差,测量方便准确,显著提高了对非标准类型卡尺的测量能力和范围。

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