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公开(公告)号：CN104596410B
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201510016621.3
申请日：2015-01-13
Applicant: 北京航天控制仪器研究所
Abstract: 本发明涉及航天惯性器件精密检测技术领域，特别涉及一种六面体高精度形位测量装置及方法。该装置包括电感测微仪、大理石定位平板、电感测头、第一测头固定块、第二测头固定块、标准平行刀口尺或标准棒、测头连接线、第一支架和第二支架。本发明的方法，检测时间短，检测效率高。一组平面的形位关系检测时间只需2分钟，而进口高精度三坐标测试仪检测时间约为20分钟以上，检测效率提高了10倍以上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115615460A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211177452.8
申请日：2022-09-26
Applicant: 北京航天控制仪器研究所
Abstract: 本申请涉及磁悬浮领域，具体公开了一种磁悬浮定子检测装置，磁悬浮定子具有导电轴体和绝缘环体，绝缘环体环绕在导电轴体的外周，导电轴体的一端具有引出线；其特征在于，检测装置包括用于承载磁悬浮定子的底座，底座具有一第一空腔，第一空腔用于与磁悬浮定子配合，其中，第一空腔具有台阶面，当磁悬浮定子设置于第一空腔内时，台阶面与绝缘环体的靠近引出线的端面接触，导电轴体的远离引出线的端面和绝缘环体的远离引出线的端面外露出第一空腔。本申请的方案克服定子组件电感不易检、易误检的现象，达到了高效率、高准确性的检测效果。
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公开(公告)号：CN104858721A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201510218285.0
申请日：2015-04-30
Applicant: 北京航天控制仪器研究所
IPC: B24B1/00
CPC classification number: B24B1/00
Abstract: 本发明涉及特种材料高精度研磨技术领域，特别涉及一种铍材动压马达半球零件通孔的研磨方法。本发明提出了选择合理的磨料配方、改进研具形状、材料等切实有效的方法，满足了半球通孔圆柱度精度0.5μm以内和表面粗糙度Ra0.02μm的设计图纸要求，解决了半球孔与轴的研配关键。实践证明：此种方法满足了设计精度要求，并且效率高，操作方便，目前已广泛应用到实际工作中。
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公开(公告)号：CN104596410A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201510016621.3
申请日：2015-01-13
Applicant: 北京航天控制仪器研究所
Abstract: 本发明涉及航天惯性器件精密检测技术领域，特别涉及一种六面体高精度形位测量装置及方法。该装置包括电感测微仪、大理石定位平板、电感测头、第一测头固定块、第二测头固定块、标准平行刀口尺或标准棒、测头连接线、第一支架和第二支架。本发明的方法，检测时间短，检测效率高。一组平面的形位关系检测时间只需2分钟，而进口高精度三坐标测试仪检测时间约为20分钟以上，检测效率提高了10倍以上。
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公开(公告)号：CN115615460B
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202211177452.8
申请日：2022-09-26
Applicant: 北京航天控制仪器研究所
Abstract: 本申请涉及磁悬浮领域，具体公开了一种磁悬浮定子检测装置，磁悬浮定子具有导电轴体和绝缘环体，绝缘环体环绕在导电轴体的外周，导电轴体的一端具有引出线；其特征在于，检测装置包括用于承载磁悬浮定子的底座，底座具有一第一空腔，第一空腔用于与磁悬浮定子配合，其中，第一空腔具有台阶面，当磁悬浮定子设置于第一空腔内时，台阶面与绝缘环体的靠近引出线的端面接触，导电轴体的远离引出线的端面和绝缘环体的远离引出线的端面外露出第一空腔。本申请的方案克服定子组件电感不易检、易误检的现象，达到了高效率、高准确性的检测效果。
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公开(公告)号：CN104858721B
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201510218285.0
申请日：2015-04-30
Applicant: 北京航天控制仪器研究所
IPC: B24B1/00
Abstract: 本发明涉及特种材料高精度研磨技术领域，特别涉及一种铍材动压马达半球零件通孔的研磨方法。本发明提出了选择合理的磨料配方、改进研具形状、材料等切实有效的方法，满足了半球通孔圆柱度精度0.5μm以内和表面粗糙度Ra0.02μm的设计图纸要求，解决了半球孔与轴的研配关键。实践证明：此种方法满足了设计精度要求，并且效率高，操作方便，目前已广泛应用到实际工作中。
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