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公开(公告)号：CN101788507A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201010106805.6
申请日：2010-02-03
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223 , G06F17/00
Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法，分析标样光谱，确定谱峰波长和峰位之间的关系，以及谱峰波长和谱峰宽度之间的关系；利用确定的所述关系，计算待测样品拟包含的元素的激发光谱中可能存在的所有谱峰的峰位以及谱峰宽度；在待测样品全谱范围内进行寻峰，将寻峰得到的峰位与所述计算的峰位进行比较，以及将寻峰得到的谱峰宽度与所述计算的谱峰宽度比较，确定是否存在完全重叠峰并确定重叠区域宽度；在各重叠区域内进行谱峰分解，计算高斯函数及本底函数的数学表达式；利用得到的高斯函数和本底函数进行光谱分析。本发明实施例达到谱峰分解的目的，为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102749121B
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201210247653.0
申请日：2012-07-17
Applicant: 北京矿冶研究总院
Abstract: 本发明提供了一种浓密机泥水分界面高度的在线检测方法，包括在线获取若干组浓密机的入料流量、入料浓度、出料流量和出料浓度数据组成信息矩阵；通过物料衡算方程计算每个采样时刻的泥水分界面的变化量，计算与离线取样测得的真实变化量之间的差值；计算激活矩阵对于上述差值的回归向量；将第i时刻的待测信息向量转换成激活向量并与回归向量相乘，获得误差补偿值：对于误差补偿值进行反归一化处理，得到实际的误差补偿值；将实际误差补偿值与变化量相加得到泥水界面最终的变化值；结合预设的初始时刻泥水分界面高度计算出当前浓密机泥水分界面高度。本发明能检测泥水分界面高度，提高浓密机运行效率，降低生产事故发生概率及支出，节省维护成本。
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公开(公告)号：CN102749121A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210247653.0
申请日：2012-07-17
Applicant: 北京矿冶研究总院
Abstract: 本发明提供了一种浓密机泥水分界面高度的在线检测方法，包括在线获取若干组浓密机的入料流量、入料浓度、出料流量和出料浓度数据组成信息矩阵；通过物料衡算方程计算每个采样时刻的泥水分界面的变化量，计算与离线取样测得的真实变化量之间的差值；计算激活矩阵对于上述差值的回归向量；将第i时刻的待测信息向量转换成激活向量并与回归向量相乘，获得误差补偿值：对于误差补偿值进行反归一化处理，得到实际的误差补偿值；将实际误差补偿值与变化量相加得到泥水界面最终的变化值；结合预设的初始时刻泥水分界面高度计算出当前浓密机泥水分界面高度。本发明能检测泥水分界面高度，提高浓密机运行效率，降低生产事故发生概率及支出，节省维护成本。
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公开(公告)号：CN101788508A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201019114043.1
申请日：2010-02-03
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种矿浆品位在线测量装置，包括X射线管、高压电源、X射线探测装置、矿浆样品承载装置、信号处理单元、温度控制系统、人机接口等。通过在X射线管上加以高压电源产生X射线，采用X射线做为激发源，照射到矿浆样品承载器内的矿浆上产生特征X射线。特征X射线被X射线探测装置接收并探测到产生特征X射线对应的信号，特征X射线信号被信号处理单元接收并分析计算出矿样元素的品位，激发能力高、测量精度高，而且不存在核污染。矿浆元素品位通过人机接口显示或输出，温度控制系统控制X光管和X射线探测装置的温度，保障温度恒定，以保障测量稳定。
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公开(公告)号：CN101788507B
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201010106805.6
申请日：2010-02-03
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223 , G06F17/00
Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法，分析标样光谱，确定谱峰波长和峰位之间的关系，以及谱峰波长和谱峰宽度之间的关系； 利用确定的所述关系，计算待测样品拟包含的元素的激发光谱中可能存在的所有谱峰的峰位以及谱峰宽度；在待测样品全谱范围内进行寻峰，将寻峰得到的峰位与所述计算的峰位进行比较，以及将寻峰得到的谱峰宽度与所述计算的谱峰宽度比较，确定是否存在完全重叠峰并确定重叠区域宽度；在各重叠区域内进行谱峰分解，计算高斯函数及本底函数的数学表达式；利用得到的高斯函数和本底函数进行光谱分析。本发明实施例达到谱峰分解的目的，为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。
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公开(公告)号：CN101806757A
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN201010126507.3
申请日：2010-03-16
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明提供一种提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备，属光学测量技术领域。该方法适用的分光器包括：壳体、入射狭缝组件、分光晶体和出射狭缝组件；其中，所述入射狭缝组件和出射狭缝组件均设置在壳体上，所述分光晶体设置在壳体内作为入射狭缝组件与出射狭缝组件之间的反射体；该方法包括：在分光器壳体内设置射线挡块，使所述射线挡块设置在壳体内分光晶体周围，通过射线挡块吸收或阻挡从入射狭缝组件进入的能照射到壳体内壁上的部分X射线，及吸收或阻挡通过分光晶体反射后能照射到壳体内壁上的部分X射线。采用该方法后，可以对射线在分光器内的传播路径进行校正，避免漫反射的X射线的影响，显著提高分光器的性能。
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