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公开(公告)号:CN116664530A
公开(公告)日:2023-08-29
申请号:CN202310653572.9
申请日:2023-06-05
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于下开口扫描的双曲线线性化识别方法。本发明将双曲线转化为等间距模型,将目标点簇是否为双曲线的问题转化为点簇是否呈现出等间距特性的问题,使得双曲线的待估计参数减少为一个的同时,还保留了原本双曲线形状的全部信息,与传统的最小二乘法相比具有更好的准确性。
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公开(公告)号:CN117630919A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311486133.X
申请日:2023-11-08
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
Abstract: 本发明提供一种探地雷达逆时偏移伪影抑制方法,包括:通过给定激励源和速度模型,计算不同时刻正传电磁波场,并加载接收的探地雷达数据,计算不同时刻反传电磁波场,基于得到的正传电磁波场和反传电磁波场,采用归一化互相关成像条件,获取每个源点的逆时偏移成像结果,将获取的逆时偏移成像结果进行拉普拉斯滤波,去除偏移剖面中的低频噪声,并对所有源点逆时偏移成像结果中对应位置处的值进行两两相乘再相加的相关计算,得到最终偏移成像剖面。本发明能够有效抑制常规探地雷达逆时偏移剖面中的伪影杂波干扰,大幅度提高了偏移成像精度,以便于为后续探地雷达的探测解释工作提供科学依据。
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公开(公告)号:CN120044488A
公开(公告)日:2025-05-27
申请号:CN202510082650.3
申请日:2025-01-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于探地雷达技术领域,具体涉及一种基于双曲线拟合的分层介质参数估计方法。该方法的具体过程为:一种基于双曲线拟合的分层介质参数估计方法,具体过程为:步骤一,建立多层介质双曲线约束方程,并基于所述约束方程获取探地雷达理论测量时间约束方程;步骤二,针对雷达回波信号进行预处理并提取特征点,基于所提取的特征点计算在分层界面处的产生的折射点;步骤三:将步骤二计算的折射点代入步骤一获得的探地雷达理论测量时间约束方程中,建立电磁波传输时间误差模型,利用非线性最小二乘优化的参数估计方法实现分层介质的参数估计。
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