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发明公开
一种基于双曲线拟合的分层介质参数估计方法审中-公开

公开(公告)号：CN120044488A

公开(公告)日：2025-05-27

申请号：CN202510082650.3

申请日：2025-01-20

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 兰天 , 孙熙韬 , 杨小鹏 , 渠晓东 , 曾小路 , 盛世文 , 陈宏畅 , 王泽熙

IPC: G01S7/41 , G01S13/88

Abstract: 本发明属于探地雷达技术领域，具体涉及一种基于双曲线拟合的分层介质参数估计方法。该方法的具体过程为：一种基于双曲线拟合的分层介质参数估计方法，具体过程为：步骤一，建立多层介质双曲线约束方程，并基于所述约束方程获取探地雷达理论测量时间约束方程；步骤二，针对雷达回波信号进行预处理并提取特征点，基于所提取的特征点计算在分层界面处的产生的折射点；步骤三：将步骤二计算的折射点代入步骤一获得的探地雷达理论测量时间约束方程中，建立电磁波传输时间误差模型，利用非线性最小二乘优化的参数估计方法实现分层介质的参数估计。

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