一种近抛物面的环形凹非球面的快速面形检测方法

    公开(公告)号:CN103196391A

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201310132015.9

    申请日:2013-04-16

    Abstract: 本发明公开了一种近抛物面的环形凹非球面的快速面形检测方法。通过光学设计软件,用球面自准直法仿真出凹非球面相对于最接近抛物面的理论波像差,在极坐标下利用Zernike多项式对波像差进行拟合,将极坐标下的波像差方程转化为直角坐标下的形式;使用数字波面干涉仪测量出非球面相对于抛物面的波像差,将实际波像差的矩阵和理论波像差的矩阵统一到同一坐标系下,让两个波像差的像素一一对应,然后将两个波像差的矢高做差法运算,即可得到非球面实际面形与理论面形的残差分布。本发明检测非球面的最大非球面度和非球面度梯度取决于数字波面干涉仪内CCD阵列像元的大小和数目。本发明具有快速、准确、检测范围广等优点,具有广阔的市场前景。

    一种薄层流体式低应力抛光装置

    公开(公告)号:CN103317393B

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201310214081.0

    申请日:2013-05-31

    Abstract: 一种薄层流体式低应力抛光装置,属于超精密光学表面加工领域。包括密封工作舱、转台、阳极板、阳极探头、阴极平台、工件、第一导管、升压泵、升降台、第二导管、塑形嘴、液体收集装置等。工作时,将工件固定于转台,阳极板或阳极探头和阴极平台之间产生电场;电流变抛光液经搅拌均匀后由升压泵升压,流经第一、第二导管进入液体收集装置;在压力的作用下,液体流经塑形嘴进入薄层区域,在流动动力和剪切力的作用下,实现表面材料去除。本发明解决了薄型光学元件由于较大正向压力易导致工件破碎的问题,同时改善了小工具加工易导致中高频误差残留的情况,在高精度、无亚表面损伤、中高频可控的光学元件加工中发挥重要的作用。

    一种薄层流体式低应力抛光装置

    公开(公告)号:CN103317393A

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201310214081.0

    申请日:2013-05-31

    Abstract: 一种薄层流体式低应力抛光装置,属于超精密光学表面加工领域。包括密封工作舱、转台、阳极板、阳极探头、阴极平台、工件、第一导管、升压泵、升降台、第二导管、塑形嘴、液体收集装置等。工作时,将工件固定于转台,阳极板或阳极探头和阴极平台之间产生电场;电流变抛光液经搅拌均匀后由升压泵升压,流经第一、第二导管进入液体收集装置;在压力的作用下,液体流经塑形嘴进入薄层区域,在流动动力和剪切力的作用下,实现表面材料去除。本发明解决了薄型光学元件由于较大正向压力易导致工件破碎的问题,同时改善了小工具加工易导致中高频误差残留的情况,在高精度、无亚表面损伤、中高频可控的光学元件加工中发挥重要的作用。

    一种环形凸非球面的快速面形检测方法

    公开(公告)号:CN103234480A

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201310132121.7

    申请日:2013-04-16

    Abstract: 本发明公开了一种环形凸非球面的快速面形检测方法,基于球面自准直法利用光学设计软件仿真出凸非球面相对于最接近双曲面的波像差,在极坐标下利用Zernike多项式对波像差进行拟合,将极坐标下的波像差方程转化为直角坐标下的形式;使用数字波面干涉仪测量出非球面相对于双曲面的波像差,将实际波像差的矩阵和理论波像差的矩阵统一到同一坐标系下,让两个波像差的像素一一对应,然后将两个波像差的矢高做差法运算,即可得到非球面实际面形与理论面形的残差分布。本检测方法检测非球面的最大非球面度和非球面度梯度不仅取决于数字波面干涉仪内CCD阵列像元的大小和数目,还依赖于所选择的最接近双曲面的参数。本发明具有快速、准确、检测范围广等优点,具有广阔的市场前景。

    一种用于夹持光学镜片的装置

    公开(公告)号:CN206848546U

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201720665995.2

    申请日:2017-06-08

    Abstract: 本实用新型提供一种用于夹持光学镜片的装置,主要由两片夹持片构成,所述两片夹持片平行放置,且通过螺栓和螺母固定;所述夹持片上设有开孔。本实用新型可以根据所需夹持的镜片厚度调节螺母的位置,使得该装置所夹持的厚度范围十分宽大;对于组合镜片等较厚镜片在空间有限的情况下,用此夹持器夹持十分方便,若遇到镜片厚度超过夹持器夹持范围情况,只需更换加长螺栓即可。

    一种光学模拟式教学测色仪的光源

    公开(公告)号:CN207052169U

    公开(公告)日:2018-02-27

    申请号:CN201720552854.X

    申请日:2017-05-18

    Abstract: 本实用新型提供一种光学模拟式教学测色仪的光源,包括溴钨灯、光源夹持座、遮光罩、风扇及电源,所述遮光罩为柱状结构,其侧面设有光源出射口和风扇安装口;其中,所述溴钨灯固定于光源夹持座上,所述遮光罩罩在溴钨灯外,且其底部与光源夹持座紧密闭合,所述风扇固定于遮光罩侧面的风扇安装口上,所述光源与溴钨灯和风扇分别相连。本实用新型利用光源夹持座来固定溴钨灯,利用遮光罩来固定用于降温的风扇,通过夹持座与遮光罩的配合,实现简易、直观的用于光学模拟式教学测色仪的光源。

Patent Agency Ranking