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公开(公告)号:CN112070697B
公开(公告)日:2024-01-19
申请号:CN202010927685.X
申请日:2020-09-07
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于逆二维像的局部散射特性评估方法、装置、计算机设备以及计算机可读存储介质,该方法包括:对角度‑频率域的原始RCS数据,采用滤波‑逆投影方法进行成像,获取目标的二维像;对获取的二维像进行处理,选中感兴趣的局部区域图像;采用二维傅里叶变换再投影的方法,先将局部区域图像从空间域变换到对应的变换域,再反变换到角度‑频率域,得到局部区域图像所对应的转角扫频RCS数据;将得到的转角扫频RCS数据与原始RCS数据进行比较,评估局部区域图像对原始RCS数据的贡献程度。本
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公开(公告)号:CN113063991B
公开(公告)日:2022-10-21
申请号:CN202110274462.2
申请日:2021-03-15
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/00
Abstract: 本发明涉及一种紧缩场极化偏转角的检测方法及装置,该方法包括:对极化敏感标准目标进行单频点转角RCS测量,获取RCS实测曲线;在仿真软件中创建模型,用平面波代替紧缩场馈源,进行单频点转角RCS仿真,且在仿真过程中通过改变平面波的极化方向角度获取多条不同极化方向角度下的RCS仿真曲线;将RCS实测曲线分别与各条RCS仿真曲线进行比较,找到与RCS实测曲线最接近的RCS仿真曲线;若RCS实测曲线与该最接近的RCS仿真曲线之间的偏差不超过设定阈值,则得到紧缩场馈源的极化偏转角等于该最接近的RCS仿真曲线对应的极化方向角度。本发明提供了一种简单易行的紧缩场极化偏转角量化检测技术。
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公开(公告)号:CN113834975A
公开(公告)日:2021-12-24
申请号:CN202111114253.8
申请日:2021-09-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明提供了一种紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置,其中方法包括:确定反射面的类型;根据确定的该类型,确定馈源相位中心未偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应未偏焦路径的第一绝对相位;根据确定的该类型,确定馈源相位中心偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应偏焦路径的第二绝对相位;将所述第一绝对相位与所述第二绝对相位的差值,确定为紧缩场馈源偏焦量化值。本方案,能够快速得到紧缩场馈源偏焦量化值,提高了计算时效性。
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公开(公告)号:CN111208359B
公开(公告)日:2021-11-02
申请号:CN202010081167.0
申请日:2020-02-06
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及一种紧缩场反射面边齿及设计方法,该方法包括:确定所需紧缩场反射面静区尺寸及工作频率,并设计至少三种具有不同类型边齿的反射面;对各反射面分别进行仿真,并在其静区前、中、后三个位置分别得到幅度和相位的仿真数据,进而确定各反射面之中静区纵向一致性最佳的反射面及静区横向一致性最佳的反射面;结合静区纵向一致性最佳的反射面及静区横向一致性最佳的反射面的边齿类型设计优化反射面,并确定其边齿的各项可调节参数;对于优化反射面边齿的各项可调节参数分别进行优化,得到优化反射面边齿的具体数值。本发明能够减小反射面边缘对静区性能的影响,提高待测目标电磁特性测试的准确性。
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公开(公告)号:CN113063991A
公开(公告)日:2021-07-02
申请号:CN202110274462.2
申请日:2021-03-15
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/00
Abstract: 本发明涉及一种紧缩场极化偏转角的检测方法及装置,该方法包括:对极化敏感标准目标进行单频点转角RCS测量,获取RCS实测曲线;在仿真软件中创建模型,用平面波代替紧缩场馈源,进行单频点转角RCS仿真,且在仿真过程中通过改变平面波的极化方向角度获取多条不同极化方向角度下的RCS仿真曲线;将RCS实测曲线分别与各条RCS仿真曲线进行比较,找到与RCS实测曲线最接近的RCS仿真曲线;若RCS实测曲线与该最接近的RCS仿真曲线之间的偏差不超过设定阈值,则得到紧缩场馈源的极化偏转角等于该最接近的RCS仿真曲线对应的极化方向角度。本发明提供了一种简单易行的紧缩场极化偏转角量化检测技术。
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公开(公告)号:CN111398919A
公开(公告)日:2020-07-10
申请号:CN202010202623.2
申请日:2020-03-20
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种电磁散射测试链路系统及抑制视频泄露干扰的方法,该测试链路系统包括:第一相干信号源、第二相干信号源、发射混频单元、接收混频单元、参考混频单元、发射单元、发射馈源、接收单元、接收馈源、参考接收机和测试接收机;所述第一相干信号源和第二相干信号源分别用于产生射频测试信号和本振信号;所述第一相干信号源产生的射频测试信号经所述发射混频单元进行硬件门通断调制并与本振信号混频形成中频信号。本发明的测试链路系统采用变频方式,从硬件上实现对视频泄露干扰的抑制,避免了传统方式造成的频率偏移和插值引入的误差,从而在利用硬件门抑制环境干扰的同时,避免了由硬件门引入的视频泄露干扰。
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公开(公告)号:CN108468449B
公开(公告)日:2019-09-24
申请号:CN201810366520.2
申请日:2018-04-23
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及微波暗室技术领域,尤其涉及一种用于微波暗室地坑的翻转盖板。该翻转盖板包括盖板本体、第一伸缩机构和第二伸缩机构,其中,盖板本体的上侧面覆盖有盖板吸波材料层,两个伸缩机构与盖板本体转动连接,并且通过两个伸缩机构伸缩高度差,实现打开翻转盖板时,盖板本体的先上升和翻转,关闭翻转盖板时,先回转后下降,避免了盖板吸波材料层与附近地面吸波材料层之的干涉,无需因预留盖板翻转空间而切除部分吸波材料层,使盖板本体与周边的地面能够全部被吸波材料层覆盖,并且能够方便的控制盖板本体的开闭。
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公开(公告)号:CN108647183A
公开(公告)日:2018-10-12
申请号:CN201810284053.9
申请日:2018-04-02
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及基于压缩感知的复RCS数据插值方法,属于综合试验测试技术领域。该方法的一具体实施方式包括:根据RCS测量数据,构建复数域重构模型;求解所述复数域重构模型,获取所述RCS数据的稀疏分布;基于所述稀疏分布重构目标频域数据,实现复RCS数据插值。相对于传统的对复矩阵进行简单对角化处理的方法,本发明不减少也不增加原始约束范围,处理速度快和精度高,能够有效缩短测量时间以提高RCS测量效率。
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公开(公告)号:CN117990996A
公开(公告)日:2024-05-07
申请号:CN202410155158.X
申请日:2024-02-02
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明提供了一种紧缩场环境杂散分布的检测方法及装置,其中方法包括:获取紧缩场暗室空间下杂散源的原始数据;其中,所述原始数据是通过极平面扫描的方式得到的,所述原始数据包括多个所述杂散源的总电磁回波数据;对所述原始数据进行二维加窗处理,得到所述杂散源的优化数据;基于空间投影算法对所述优化数据进行计算,得到杂散源的空间分布函数。本方案,能够使变换后得到的空间分布图像的点扩展函数抗锯齿效果更优,同时算法本身误差更少,精度更高。
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公开(公告)号:CN113834975B
公开(公告)日:2024-01-19
申请号:CN202111114253.8
申请日:2021-09-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明提供了一种紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置,其中方法包括:确定反射面的类型;根据确定的该类型,确定馈源相位中心未偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应未偏焦路径的第一绝对相位;根据确定的该类型,确定馈源相位中心偏焦时,该馈源发射的电磁波所对应偏焦路径的第二绝对相位;将所述第一绝对相位与所述第二绝对相位的差值,确定为紧缩场馈源偏焦量化值。本方案,能够快速得到紧缩场馈源偏焦量化值,提高了计算时效性。
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