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公开(公告)号：CN115639514A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211318390.8
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明实施例涉及电磁测试技术领域，特别涉及一种微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法。方法包括：利用所述微波倍频测试系统对待测样本进行电磁散射特性测试，以获得所述待测样本在预设频率、预设角域范围内的RCS测量值；对所述待测样本进行电磁散射特性仿真计算，以获得所述待测样本在所述预设频率、所述预设角域范围内的RCS理论值；确定所述微波倍频测试系统的开环测量误差，所述开环测量误差包括背景噪声误差；根据所述RCS测量值、所述RCS理论值以及所述开环测量误差，确定所述微波倍频测试系统的非线性误差。本发明提供的方法不需要引入具有波导端口的可调衰减器，测试成本低。
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公开(公告)号：CN114089049A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202111373706.9
申请日：2021-11-19
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本申请涉及天线校准技术领域，特别涉及一种天线测试的校准方法、装置、电子设备和存储介质。该方法首先对发射天线和接收天线进行第1次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第1次测量值；利用第1次测量值，获得多通道开关箱中各通道的修正值；对发射天线和接收天线进行第i次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第i次测量值，其中，i大于等于2；利用各通道的修正值对各通道的第i次测量值进行校准，得到多通道开关箱中各通道在第i次天线测试时的校准值。本申请提供的校准方法能够将真实测试环境纳入校准范围内，实现在开环状态下对多通道开关箱中各通道之间的差异进行修正，从而获得多通道开关箱中各通道在天线测试时的校准值。
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公开(公告)号：CN108872643B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201810438421.0
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明涉及一种用于反射率测试的三自由度磁性工装结构。该工装结构包括固定板、俯仰调节板、方位调节板和磁性座，其中，俯仰调节板通过俯仰转轴固定在固定板上，俯仰转轴使俯仰调节板能够相对固定板俯仰转动。方位调节板的一端通过方位转轴可转动地固定在俯仰调节板上，且方位转轴的轴向垂直于俯仰转轴的轴向设置，磁性座通过横滚转轴可转动地固定在方位调节板的另一端，且横滚转轴的轴向垂直于方位转轴的轴向设置，所述磁性座设有电磁铁及控制电磁铁的电磁开关，用于将具有磁性的待测材料板或供待测材料贴附的磁性金属板吸附于工作面，使用该工装结构，使待测材料摆放定位和重复摆放的精度高，降低对操作人员的操作要求，减小人为因素的影响。
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公开(公告)号：CN113834975B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202111114253.8
申请日：2021-09-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明提供了一种紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置，其中方法包括：确定反射面的类型；根据确定的该类型，确定馈源相位中心未偏焦时，该馈源发射的电磁波所对应未偏焦路径的第一绝对相位；根据确定的该类型，确定馈源相位中心偏焦时，该馈源发射的电磁波所对应偏焦路径的第二绝对相位；将所述第一绝对相位与所述第二绝对相位的差值，确定为紧缩场馈源偏焦量化值。本方案，能够快速得到紧缩场馈源偏焦量化值，提高了计算时效性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115639413A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211285715.7
申请日：2022-10-20
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明提供了一种口面平滑的混合卷绕边缘反射面及其构建方法，其中方法包括：确定平滑口面所对应反射面的投影轮廓边缘线表达式；基于所述投影轮廓边缘线表达式构建局部坐标系；基于所述局部坐标系与全局坐标系的变换关系，生成混合卷绕边缘在全局坐标系中以γ为自变量的严格参数方程；其中，γ为局部坐标系中从ye轴负向朝xe轴正向旋转的角度对应的弧度；根据所述严格参数方程构建二维曲率连续的曲率半径残差表达式；利用所述残差表达式生成口面平滑的混合卷绕边缘反射面。本方案，能够提高反射面在进行紧缩场测量过程中电磁特性参数测量准确性。
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公开(公告)号：CN112070697A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010927685.X
申请日：2020-09-07
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于逆二维像的局部散射特性评估方法、装置、计算机设备以及计算机可读存储介质，该方法包括：对角度‑频率域的原始RCS数据，采用滤波‑逆投影方法进行成像，获取目标的二维像；对获取的二维像进行处理，选中感兴趣的局部区域图像；采用二维傅里叶变换再投影的方法，先将局部区域图像从空间域变换到对应的变换域，再反变换到角度‑频率域，得到局部区域图像所对应的转角扫频RCS数据；将得到的转角扫频RCS数据与原始RCS数据进行比较，评估局部区域图像对原始RCS数据的贡献程度。本发明能够用于分析目标的局部散射特性，且数据有效利用率高、处理时间短。
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公开(公告)号：CN109471057A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201910006982.8
申请日：2019-01-04
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种检测紧缩场反射面性能的方法和装置，所述方法的一实施方式包括：在紧缩场静区横截面进行采样获取二维电场分布数据；对所述二维电场分布数据进行二维傅立叶逆变换，获得测量信号的平面波谱分布数据；确定电磁波在从采样点到反射面的传播过程中的空间变换函数，并利用所述空间变换函数对所述平面波谱分布数据进行处理，得到反射面的平面波谱分布数据；对所述反射面的平面波谱分布数据进行二维傅立叶变换，得到反射面的二维电场分布数据；依据所述反射面的二维电场分布数据检测反射面性能。该实施方式能够获取反射面的二维电场分布数据从而有效检测紧缩场反射面的性能。
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公开(公告)号：CN108872643A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810438421.0
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明涉及一种用于反射率测试的三自由度磁性工装结构。该工装结构包括固定板、俯仰调节板、方位调节板和磁性座，其中，俯仰调节板通过俯仰转轴固定在固定板上，俯仰转轴使俯仰调节板能够相对固定板俯仰转动。方位调节板的一端通过方位转轴可转动地固定在俯仰调节板上，且方位转轴的轴向垂直于俯仰转轴的轴向设置，磁性座通过横滚转轴可转动地固定在方位调节板的另一端，且横滚转轴的轴向垂直于方位转轴的轴向设置，所述磁性座设有电磁铁及控制电磁铁的电磁开关，用于将具有磁性的待测材料板或供待测材料贴附的磁性金属板吸附于工作面，使用该工装结构，使待测材料摆放定位和重复摆放的精度高，降低对操作人员的操作要求，减小人为因素的影响。
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公开(公告)号：CN106841825A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710002325.7
申请日：2017-01-03
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 公开了一种基于吸波腔结构的近场天线波束控制系统，包括：转台、设置在转台上的待测目标、用于对待测目标近区电磁场的幅度和相位数据进行扫描的馈源天线、以及吸波腔；吸波腔罩设在馈源天线口面方向以外的周边，为半封闭腔体，吸波腔的内壁设置有吸波单元，吸波腔朝向待测目标的一侧设置有开孔；馈源天线设置在吸波腔内，且口面朝向开口方向。通过在馈源天线口面方向以外的周边罩设吸波腔，能够对已完成设计加工的馈源天线进行波束控制，从而降低馈源天线旁瓣及测试环境等客观因素对近场电磁测量的影响，提高测试精度；同时，通过在吸波腔内部铺设吸波单元，能够大面积减少室内吸波材料的铺设范围，降低测试环境搭建成本。
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