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公开(公告)号:CN111595458B
公开(公告)日:2021-04-30
申请号:CN202010507683.5
申请日:2020-06-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪辐射定标方法、装置、设备、系统和计算机可存储介质,其中方法包括以下步骤:获取同一曝光时间下不同黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数,再通过调整曝光时间获取各个曝光时间下不同黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数;对各个曝光时间下同一黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数进行拟合,得到当前黑体温度对应的电荷通量密度,进而获得不同黑体温度对应的电荷通量密度;对所述不同黑体温度对应的电荷通量密度进行拟合,得到辐射定标系数。本发明获得的辐射定标系数不再依赖于红外热像仪的曝光时间,同时在定标过程中采取全像元定标,消除了测量前的非均匀校正准备工作,大大减小的测量的前期准备时间。
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公开(公告)号:CN109870239B
公开(公告)日:2020-04-07
申请号:CN201910183788.7
申请日:2019-03-12
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法,包括:基于不同目标温度的标准黑体辐射源,在不同环境温度下通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像,并根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线;采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度,并根据所述定标曲线计算当前视场内最高目标温度;使进入当前视场的金属挡片达到所述最高目标温度,再通过非制冷红外焦平面探测器采集金属挡片图像;根据标准黑体辐射源图像与金属挡片图像计算获得校正参数,再根据校正参数对所述定标曲线进行校正,完成定标。本发明在环境及场景发生较大变化时,仍能保证较高的定标精度,从而可使定标后的非制冷红外焦平面探测器具备定量测温能力。
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公开(公告)号:CN105866168B
公开(公告)日:2018-06-29
申请号:CN201610176997.5
申请日:2016-03-25
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种涂层下基体材料的鉴别方法,包括:利用光脉冲对涂敷涂层的第一目标进行激励,通过红外热像仪采集红外热像图序列;针对第一目标任一点,获取该点的温度‑时间数据,进而获取该点的对数降温曲线;计算对数降温曲线的斜率,进而计算该点的分离特征值;获取第一目标每一点的分离特征值;进而得到第一目标表面灰阶图;获得多个目标中每一目标的表面灰阶图;根据表面灰阶图鉴别多个目标的基体材料;本发明能够通过分析不同基体与涂层对数降温曲线的分离程度,实现涂层下基体材料的检测和识别。
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公开(公告)号:CN107121673A
公开(公告)日:2017-09-01
申请号:CN201710249614.7
申请日:2017-04-17
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/414
Abstract: 公开了基于全极化技术的背景杂波提取方法,包括:采用全极化技术别获取四个极化通道的雷达发射信号的回波信号;针对每个极化通道的回波信号:采用曲线拟合算法,基于同相通道信号重构获取第一复信号、基于正交通道信号重构获取第二复信号;根据第一复信号的背景信号的实部信号和虚部信号,获得回波信号的背景信号的实部信号,根据第二复信号的背景信号的实部信号和虚部信号,获得回波信号的背景信号的虚部信号;以四个极化通道对应的背景信号的平均值作为背景杂波信号。本发明采用全极化技术提取雷达发射信号的回波信号,采用曲线拟合算法重构第一复信号和第二复信号,能够更准确地提取背景杂波,得到更加精确的待测目标RCS测量数据。
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公开(公告)号:CN105043547B
公开(公告)日:2017-06-16
申请号:CN201510438786.X
申请日:2015-07-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/447
Abstract: 公开了一种AOTF成像光谱仪光谱定标方法,包括:获取不同入射光角度下发生偏振时的波矢量失配依据与不同入射光角度对应的波矢量失配按照公式1对AOTF成像光谱仪的参数进行拟合,获取AOTF成像光谱仪的光谱衍射效率曲线H,作为AOTF成像光谱仪的光谱响应函数。本发明的AOTF成像光谱仪光谱定标方法,通过从矢量失配的角度分析AOTF成像光谱仪空间方向的角度特性,获取AOTF成像光谱仪的精确光谱响应函数H,能够提高光谱定标精度,有利于更精确分析成像光谱仪遥感探测所获取数据立方体信息的可靠性,为地物光谱曲线的准确获取与光谱特征的精确分析提供支撑。
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公开(公告)号:CN106092324A
公开(公告)日:2016-11-09
申请号:CN201610366208.4
申请日:2016-05-27
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/00 , G01J2005/0048
Abstract: 公开了一种用于低温面源黑体的防结霜装置,包括:气体导管、冷却单元、温度传感器和控制单元。采用气体吹扫黑体辐射面表面形成气幕,能够阻止黑体辐射面与周围空气接触,防止周围空气中的水汽在黑体辐射面表面结霜;采用冷却单元冷却气体导管中的吹扫气体,一方面能够避免吹扫气体温度过高或过低对黑体辐射面均匀性、稳定性的影响,另一方面能够去除吹扫气体中的水汽,防止吹扫气体中的水汽在黑体表面结霜。根据本发明的防结霜装置,能够提高红外热像仪测量结果的准确性。
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公开(公告)号:CN105787906A
公开(公告)日:2016-07-20
申请号:CN201610177371.6
申请日:2016-03-25
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06T5/00
CPC classification number: G06T5/002 , G06T2207/10048
Abstract: 本发明公开了一种剔除红外图像亮噪点的方法,包括:选取红外探测设备对同一目标拍摄的多帧红外图像,建立针对红外图像每一像素位置的灰度函数;计算任一像素位置灰度函数中所有函数值的平均值,选取平均值大于第一阈值的像素位置作为红外图像的初选亮噪点;选取初选亮噪点中符合预设条件的像素位置作为红外图像的亮噪点;利用邻域插值法对红外图像的亮噪点进行处理。本发明能够精确检测亮噪点,并通过对亮噪点的处理消除其对红外图像的影响,有利于测量结果的优化及图像的后续处理。
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公开(公告)号:CN117516886A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311511529.5
申请日:2023-11-13
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及点目标定量测量技术领域,特别涉及一种可见光点目标定量测试系统的误差验证方法。该方法包括:利用不同亮度值面光源照射可见光点目标定量测试系统,针对每个亮度值,可见光点目标定量测试系统均得到一个第一灰度值;基于亮度值和第一灰度值建立亮度值和灰度值的映射关系;利用已知照度值的点光源照射可见光点目标定量测试系统,可见光点目标定量测试系统得到一个第二灰度值;基于第二灰度值和映射关系,得到测量亮度值;根据测量亮度值得到测量照度值;根据测量照度值和照度值得到标定处理误差。本发明实施例提供了一种可见光点目标定量测试系统的误差验证方法,能够在地面进行可见光点目标定量测试系统的误差验证工作。
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公开(公告)号:CN114184089A
公开(公告)日:2022-03-15
申请号:CN202111527439.6
申请日:2021-12-14
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种外场靶标方位俯仰调节机构,包括进电底座、设置于所述进电底座上的汇流环、设置于所述汇流环上的第一配电箱、设置于所述第一配电箱一侧的安装架、与所述安装架顶部铰接的第二配电箱、与所述第二配电箱顶部相连的试验箱、设置于所述进电底座底部的万向轮以及设置于所述第一配电箱外侧和所述试验箱顶部之间的电动推杆。将第一配电箱作为整个结构的配重,安装在汇流环上,可以实现整体的360度无限制方位旋转;所述第二配电箱和所述安装架顶部铰接,通过所述电动推杆即可实现所述第二配电箱及所述试验箱的展开与折叠;实现了方位俯仰及旋转需求,且可快速折叠和展开,方便进行超高运输,且不会增加重量。
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