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公开(公告)号：CN108802754B
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN201810341457.7
申请日：2018-04-17
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种光学特性测量系统及其应用方法，该系统包括：测量目标、探测器和控制器；其中，测量目标和探测器位于同一水平面内；控制器，用于接收测量指令，根据测量指令中携带的目标入射角和目标探测角，确定测量目标的目标运动姿态和探测器的目标位置信息；根据目标运动姿态，控制测量目标调整运动姿态；根据目标位置信息，控制探测器进行移动；测量目标，用于在控制器的控制下调整自身的运动姿态；探测器，用于在控制器的控制下移动至与目标位置信息对应的目标位置，并在目标位置上对调整运动姿态后的测量目标进行测量。本方案能降低探测器高度的调整范围，减小了光学特性测量系统所占空间，减少了光学特性测量系统的建设经费。
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公开(公告)号：CN108802754A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810341457.7
申请日：2018-04-17
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种光学特性测量系统及其应用方法，该系统包括：测量目标、探测器和控制器；其中，测量目标和探测器位于同一水平面内；控制器，用于接收测量指令，根据测量指令中携带的目标入射角和目标探测角，确定测量目标的目标运动姿态和探测器的目标位置信息；根据目标运动姿态，控制测量目标调整运动姿态；根据目标位置信息，控制探测器进行移动；测量目标，用于在控制器的控制下调整自身的运动姿态；探测器，用于在控制器的控制下移动至与目标位置信息对应的目标位置，并在目标位置上对调整运动姿态后的测量目标进行测量。本方案能降低探测器高度的调整范围，减小了光学特性测量系统所占空间，减少了光学特性测量系统的建设经费。
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公开(公告)号：CN107084787A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710136229.1
申请日：2017-03-08
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/2823
Abstract: 公开了一种AOTF成像光谱仪光谱定标的温度修正方法，包括：S1、根据声光可调谐滤光器AOTF的工作波段范围选择线性光源，其中，所述线性光源的波长位于AOTF的工作波段范围内；S2、针对每个定标温度，获取光谱定标过程中与所述定标温度对应的超声波驱动频率；S3、基于线性光源的波长、所述每个定标温度以及与每个定标温度对应的超声波驱动频率，拟合调谐曲线中的调谐参数，得到温度修正的调谐曲线。与现有技术相比，本发明能够对传统光谱定标结果进行温度修正，通过将AOTF温度引入定标结果光谱调谐曲线可减小因环境温度变化引入的光谱定标误差，减小外场测量误差、提高成像光谱仪光谱测量精度。
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公开(公告)号：CN104834938A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510213540.2
申请日：2015-04-30
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06K9/62
CPC classification number: G06K9/6239
Abstract: 本发明公开了一种基于主成分和聚类分析的高光谱信息提取法方法，包括：确定n个样品的数据的标准化矩阵Z；确定标准化矩阵Z的相关系数矩阵R，计算相关系数矩阵R的特征根和与每一个特征根对应的特征向量将标准化后的样品数据变量转换为主成分，贡献率最高的变量U1为第一主成分,贡献率第二高的变量U2为第二主成分,…,贡献率排名为p的变量为第p主成分；将贡献率最高的m个主成分加权求和以获取累计贡献率，并将累计贡献率超过预定阈值的m个主成分作为聚类分析主成分；对聚类分析主成分进行分类尺度计算以确定样品的相似性，并根据确定的样品相似性对样品进行分类。本发明结合主成分分析法和聚类分析法，实现对高光谱图像信息的有效提取。
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公开(公告)号：CN107024436A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201710395663.1
申请日：2017-05-27
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/25
CPC classification number: G01N21/25
Abstract: 本发明提供了一种分析药物对细胞作用点的方法。该方法包括：将细胞分为两类，第一类细胞正常培养，第二类细胞用药物对细胞进行作用；用光谱对两类细胞进行探测，分别获取两类细胞的光谱数据；对获取的光谱数据进行标准化，得到标准化矩阵；根据标准化矩阵计算得到相关系数矩阵；计算得到相关系数矩阵的特征方程的特征根，并对每个特征根计算得到对应的特征向量；根据各个特征向量，将标准化后的光谱数据转变为主成分；根据得到的主成分，计算主成分载荷曲线；根据主成分载荷曲线分析得到药物对细胞的作用点。应用本发明可以得出更为精确的分析结果，保证分析结果的精确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106949975A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201710297117.4
申请日：2017-04-28
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/00 , G01J2005/0048
Abstract: 本发明公开长波红外成像光谱仪的辐射和光谱一体化定标方法，采用黑体和聚丙烯材料对傅里叶变换式长波红外成像光谱仪进行辐射和光谱一体化定标；分别测量若干组温度下黑体以及将聚丙烯薄膜覆盖在黑体前的干涉数据，对干涉数据进行傅里叶变换，得到若干组温度下黑体及聚丙烯薄膜的光谱数据，采用两点定标法求取长波红外成像光谱仪的辐射增益和辐射偏置，得到长波红外成像光谱仪的响应函数，实现辐射定标；对同一温度下聚丙烯薄膜以及黑体光谱数据求差值，得到聚丙烯薄膜的特征吸收峰位置坐标，通过光谱定标原理计算特征吸收峰位置坐标在长波红外波段范围内对应的光谱位置，并与聚丙烯材料的标准谱线进行比较，实现光谱定标。
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公开(公告)号：CN106056543A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610339909.9
申请日：2016-05-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于主成分分析法的高光谱图像增强方法，利用一个正交的变换T，将原本有一定相关关系的原始数据转化成彼此之间正交的新的向量，从代数学角度上说，表现为用对角矩阵替代了原始变量X的协方差矩阵，在几何上角度上说，是用新的正交坐标系替代了原坐标系，使之沿着样本点散布在最远的p个互不相关的方向，然后用降维的方法对多维变量系统进行变换，使得在大量降维以后，还能保留原始数据的许多信息。将原始数据转换为特征空间的投影，形成新的空间向量，在新的空间向量的基础之上优化图像，从而有效的达到图像增强的目的。
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公开(公告)号：CN105043547A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510438786.X
申请日：2015-07-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/447
Abstract: 公开了一种AOTF成像光谱仪光谱定标方法，包括：获取不同入射光角度下发生偏振时的波矢量失配；依据与不同入射光角度对应的波矢量失配，按照公式1对AOTF成像光谱仪的参数进行拟合，获取AOTF成像光谱仪的光谱衍射效率曲线H，作为AOTF成像光谱仪的光谱响应函数。本发明的AOTF成像光谱仪光谱定标方法，通过从矢量失配的角度分析AOTF成像光谱仪空间方向的角度特性，获取AOTF成像光谱仪的精确光谱响应函数H，能够提高光谱定标精度，有利于更精确分析成像光谱仪遥感探测所获取数据立方体信息的可靠性，为地物光谱曲线的准确获取与光谱特征的精确分析提供支撑。
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公开(公告)号：CN105866168B
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201610176997.5
申请日：2016-03-25
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种涂层下基体材料的鉴别方法，包括：利用光脉冲对涂敷涂层的第一目标进行激励，通过红外热像仪采集红外热像图序列；针对第一目标任一点，获取该点的温度‑时间数据，进而获取该点的对数降温曲线；计算对数降温曲线的斜率，进而计算该点的分离特征值；获取第一目标每一点的分离特征值；进而得到第一目标表面灰阶图；获得多个目标中每一目标的表面灰阶图；根据表面灰阶图鉴别多个目标的基体材料；本发明能够通过分析不同基体与涂层对数降温曲线的分离程度，实现涂层下基体材料的检测和识别。
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公开(公告)号：CN105043547B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201510438786.X
申请日：2015-07-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/447
Abstract: 公开了一种AOTF成像光谱仪光谱定标方法，包括：获取不同入射光角度下发生偏振时的波矢量失配依据与不同入射光角度对应的波矢量失配按照公式1对AOTF成像光谱仪的参数进行拟合，获取AOTF成像光谱仪的光谱衍射效率曲线H，作为AOTF成像光谱仪的光谱响应函数。本发明的AOTF成像光谱仪光谱定标方法，通过从矢量失配的角度分析AOTF成像光谱仪空间方向的角度特性，获取AOTF成像光谱仪的精确光谱响应函数H，能够提高光谱定标精度，有利于更精确分析成像光谱仪遥感探测所获取数据立方体信息的可靠性，为地物光谱曲线的准确获取与光谱特征的精确分析提供支撑。
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