公开(公告)号：CN119573880A

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：CN202411717014.5

申请日：2024-11-27

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 范博昭 ,  孙腾 ,  彭月 ,  陈红 ,  苏必达 ,  代飞 ,  王凤帅

IPC: G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种用于推扫式成像光谱仪的对焦方法及系统。推扫式成像光谱仪至少包括前置成像镜和光谱探测模块；方法包括：设置与前置成像镜的像方焦平面连接的成像观测模块；在前置成像镜的后工作距中放置分光模块，分光模块用于将从前置成像镜穿出的光路分为光程相等的第一光路和第二光路，第一光路进入成像观测模块进行成像观测，第二光路进入光谱探测模块进行光谱探测；将前置成像镜设置于位移台，且前置成像镜可沿光轴方向在位移台上前后移动；工作时，通过成像观测模块观测被测目标的图像信息，并基于观测结果调整前置成像镜在位移台上的位置，直至得到清晰的图像，完成对焦。本申请可以实现成像光谱仪的实时对焦，提高成像光谱的测量效率。

公开(公告)号：CN117516886A

公开(公告)日：2024-02-06

申请号：CN202311511529.5

申请日：2023-11-13

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 孙腾 ,  范博昭 ,  代飞 ,  张亚洲 ,  苏必达 ,  马静 ,  王淑华 ,  王凤帅

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/00

Abstract: 本发明涉及点目标定量测量技术领域，特别涉及一种可见光点目标定量测试系统的误差验证方法。该方法包括：利用不同亮度值面光源照射可见光点目标定量测试系统，针对每个亮度值，可见光点目标定量测试系统均得到一个第一灰度值；基于亮度值和第一灰度值建立亮度值和灰度值的映射关系；利用已知照度值的点光源照射可见光点目标定量测试系统，可见光点目标定量测试系统得到一个第二灰度值；基于第二灰度值和映射关系，得到测量亮度值；根据测量亮度值得到测量照度值；根据测量照度值和照度值得到标定处理误差。本发明实施例提供了一种可见光点目标定量测试系统的误差验证方法，能够在地面进行可见光点目标定量测试系统的误差验证工作。

公开(公告)号：CN117782308A

公开(公告)日：2024-03-29

申请号：CN202410014369.1

申请日：2024-01-04

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 范博昭 ,  孙腾 ,  代飞 ,  王凤帅 ,  彭月 ,  陈红 ,  苏必达 ,  王广平

IPC: G01J1/02

Abstract: 本发明涉及一种室外可见光条件下目标辐射亮度特性的确定方法及装置。方法包括：确定多种测试工况；每种工况均执行：对预设范围内的每个测试点，均利用预先标定的成像亮度计对被测目标进行下视探测，得到当前测试工况下每个测试点处的图像和图像中每个像元的灰度值；成像亮度计的探测器上每个像元的灰度值与可见光辐射亮度值的转换关系是已知的；基于转换关系，确定每个测试点图像中每个像元的辐射亮度值；基于每个像元的辐射亮度值确定相应图像中不同区域的辐射亮度差值；分析每种工况下不同区域的辐射亮度差值的变化规律，确定被测目标的辐射亮度特性。本申请，可以确定目标在各种可见光条件下的辐射亮度特性，提升对目标的探测及识别能力。

公开(公告)号：CN117470376A

公开(公告)日：2024-01-30

申请号：CN202311530766.6

申请日：2023-11-16

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 范博昭 ,  孙腾 ,  彭月 ,  陈红 ,  苏必达 ,  王静 ,  代飞 ,  王凤帅

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/45 ,  G01J3/02

Abstract: 本发明涉及一种快速成像光谱测量系统及方法，测量系统包括成像物镜、微透镜面阵列、光纤束、光纤支架、透镜线阵列、柱面透镜线阵列、干涉光谱仪和数据处理系统。成像物镜对目标进行成像，微透镜面阵列将一次像面分割为N个子像面，透镜线阵列和柱面透镜线阵列对光纤线阵列的输出光线整形，并输出至干涉光谱仪得到相应干涉信息，每个柱面透镜线阵列对应一个干涉光谱仪，多个干涉光谱仪同时对相对应柱面透镜线阵列的输出光进行处理得到所有光纤的干涉信息，通过数据处理系统处理得到目标完整的光谱数据立方体。该系统利用光纤束与透镜阵列将像面拆分，将高维数据转换为低维数据，实现一次短曝光获得大信息量的数据立方体，提高成像光谱测量速度。

公开(公告)号：CN119555641A

公开(公告)日：2025-03-04

申请号：CN202411703493.5

申请日：2024-11-26

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 孙腾 ,  范博昭 ,  梁孟德 ,  苏必达 ,  彭月 ,  代飞 ,  王凤帅

IPC: G01N21/47

Abstract: 本发明涉及暗目标测试技术领域，特别涉及一种室内小相位角暗目标可见光散射特性测量评估方法。本发明实施例提供了一种室内小相位角暗目标可见光散射特性测量评估方法，其特征在于，包括：利用太阳模拟器发射出可见光照射暗目标；在背景墙上设置消光装置；将探测相机放置于小相位角观测区域，对暗目标进行拍摄，得到灰度图像。本发明实施例提供了一种室内小相位角暗目标可见光散射特性测量评估方法，能够实现小相位角暗目标可见光散射光特性的测量与评估。

公开(公告)号：CN118519123A

公开(公告)日：2024-08-20

申请号：CN202410770859.4

申请日：2024-06-14

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 孙腾 ,  余杰 ,  代飞 ,  王凤帅 ,  范博昭 ,  苏必达 ,  周志远

IPC: G01S7/48

Abstract: 本发明涉及激光雷达探测技术领域，特别涉及一种扁平目标后向LRCS测量方法、装置、设备及介质，其中方法包括：获取待测量的目标的几何数据和观测要求；根据获取的几何数据和观测要求，获得对应的观测画面，并确定目标成像形状；基于目标成像形状，判断是否满足扁平目标，是则继续执行后续步骤；基于目标成像形状，得到能够覆盖目标成像形状90％以上区域的方格组方案；分别获取基准板和目标的回波信号；结合单个方形标准板的反射率、面积以及组成基准板的方形标准板数量，计算目标的LRCS值。本发明能够有效提高扁平目标后向LRCS测量精度，减小测量误差。