发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法及新光源设备

    公开(公告)号:CN100447556C

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:CN200410102514.4

    申请日:2004-12-24

    Abstract: 一种发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法:首先将被测样品置入电极穴中;选定对应值的大电容并入控制电路中;充入氩气并启动光源发生装置,激发高能量大火花,在高能量大火花下激励样品使之辐射。一种实现该方法的新光源设备,包括光源发生装置及其一对发射电极,光源发生装置内置的控制电路包括:一电源,其一路输出接至两阻隔高频保护电源电感的一端,该电感的另一端并入一大电容;电源的另一路输出接高压变压器,高压变压器的次级线圈再接至电感可调的高频变压器,高频变压器的次级线圈一端经保护电路接至分析间隙的一端,其另一端接至分析间隙的另一端。该设备还配有一带有上下气孔的旋流气室,在旋流气室的两相对侧各开一进气口。

    发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法及新光源设备

    公开(公告)号:CN1796983A

    公开(公告)日:2006-07-05

    申请号:CN200410102514.4

    申请日:2004-12-24

    Abstract: 一种发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法:首先将被测样品置入电极穴中;选定对应值的大电容并入控制电路中;充入氩气并启动光源发生装置,激发高能量大火花,在高能量大火花下激励样品使之辐射。一种实现该方法的新光源设备,包括光源发生装置及其一对发射电极,光源发生装置内置的控制电路包括:一电源,其一路输出接至两阻隔高频保护电源电感的一端,该电感的另一端并入一大电容;电源的另一路输出接高压变压器,高压变压器的次级线圈再接至电感可调的高频变压器,高频变压器的次级线圈一端经保护电路接至分析间隙的一端,其另一端接至分析间隙的另一端。该设备还配有一带有上下气孔的旋流气室,在旋流气室的两相对侧各开一进气口。

    一种光谱标准配制方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101769833A

    公开(公告)日:2010-07-07

    申请号:CN200810247481.0

    申请日:2008-12-31

    Abstract: 一种光谱标准配制方法,该方法包括以下步骤:(1)以纯碳粉为基体,以碳标中所含金属杂质元素计算,向其中加入相应杂质元素氧化物,配制1wt%的主标准点,然后用纯碳粉依次冲稀得到一系列碳标;(2)将所要分析的样品分别与步骤(1)中的一系列碳标及纯碳粉按重量比1∶1混合,制得一套样品标准和样品空白;将样品标准和样品空白磨成粉末并混合均匀进行摄谱;测量分析线的黑度S,用S-logC绘制工作曲线;用直线拉直法分析低含量元素,用计算法估算较高含量杂质。本发明利用普适标准-碳标,得到一套样品分析用标准,完全适合日常合金样品中杂质的分析,不受样品基体的限制,也无需各种化工工艺提纯光谱基体,该标准稳定性好,分析结果误差小,因而简单、方便,应用范围广泛。

    铪酸镧中杂质的发射光谱分析方法

    公开(公告)号:CN101769861A

    公开(公告)日:2010-07-07

    申请号:CN200810247480.6

    申请日:2008-12-31

    Abstract: 一种铪酸镧中杂质的光谱分析方法,该方法包括:(1)以样品标准中各单质元素含量为1wt%计算各单质相应氧化物的质量并称量,其总质量为X,称取为样品标准4wt%的碳粉,二者混合后形成碳标,向该碳标中加入质量为Y的铪酸镧,其中X+Y为样品标准的90wt%,再加入为样品标准6wt%的光谱载体AgCl和Ga2O3,得到样品标准,AgCl与Ga2O3的质量比为2∶1;(2)按照步骤(1)配制各单质元素的含量为0.1~0.0001wt%的样品标准;(3)称取90重量份的铪酸镧样品及4重量份的碳粉,4重量份的AgCl和2重量份的Ga2O3混合得到样品空白;(4)对所得样品标准和样品空白进行摄谱;测量分析线的黑度S,用S-logC绘制工作曲线;用直线拉直法与计算法确定分析结果,该方法不受样品基体形式的限制,减少了光谱分析条件的干扰,提高了分析的精确度。

    易挥发主体中的微量杂质的光谱分析法

    公开(公告)号:CN1721837A

    公开(公告)日:2006-01-18

    申请号:CN200410069321.3

    申请日:2004-07-16

    Abstract: 一种易挥发主体中微量杂质的光谱分析法,该方法包括下述步骤:(1)用纯碳粉加入所要测的目标杂质的氧化物,配制不同目标杂质含量的碳标样;(2)样品与纯碳粉及步骤(1)所得到的碳标样分别按重量比例1∶1混匀,装入电极穴,压紧待摄谱;(3)进行光谱分析;(4)进行直线拉直法,求出增量值,即为样品中杂质含量;或者,通过公式C0=(Ci×Io)/(Ii-Io)进行计算分析法,求出增量值,即为样品中杂质含量。或者,两种增量结合应用能得到更准确度的结果。本发明的方法适用于易挥发主体,如Sn、In、ITO、Zn、Pb、Bi、Sb、Cd、Cu等。本发明的方法应用范围广,而且不用考虑第三元素影响,提高了分析的准确度和可靠性。

    光谱分析用旋流气室
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2769882Y

    公开(公告)日:2006-04-05

    申请号:CN200420120102.9

    申请日:2004-12-23

    Abstract: 本实用新型公开了一种光谱分析用旋流气室,包括带有上下气孔的气氛控制室本体,在气氛控制室的两相对侧各开一进气口切向进入Ar气。在气氛控制室的非进气口侧设一石英窗。采用该旋流气室可将通入的Ar气形成涡流进气,由电极周围出气,消除了以往直通式气氛控制箱的弊端,产生一种高效的气氛控制效果。

    光谱分析新光源装置
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2760548Y

    公开(公告)日:2006-02-22

    申请号:CN200420120103.3

    申请日:2004-12-23

    Abstract: 本实用新型公开了一种发射光谱分析新光源装置,由内置控制电路的电控箱构成,所述的控制电路包括:一电源,电源一路输出接至两阻隔高频保护电感的一端,两阻隔高频保护电感的另一端并入一大电容;电源的另一路输出接高压变压器,高压变压器的次级线圈再接至电感可调的高频变压器,高频变压器的次级线圈一端经保护电路的电容、电阻接至分析间隙的一端,另一端接至分析间隙的另一端。

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