绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法

    公开(公告)号:CN101201330B

    公开(公告)日:2010-11-10

    申请号:CN200610165285.X

    申请日:2006-12-15

    Abstract: 一种绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法,它包括:(1)根据所要检测的应变硅异质结的晶体学结构特征,按X射线双晶对称衍射几何进行实验布置;(2)利用同步辐射单色光对样品进行双晶对称衍射获得摇摆曲线,得到应变硅异质结的衍射峰;(3)将样品以表面法线为轴旋转180°,再次获得摇摆曲线;(4)比较旋转180°前后的双晶摇摆曲线,判断各衍射峰与衍射结构的对应关系;(5)调整入射线的入射角度,以使Si层衍射合峰呈现非对称性或出现分立的峰;(6)固定入射线的入射角度,在各衍射峰上拍摄对应衍射结构的同步辐射形貌像。本发明的优点是:实验程序简单、快捷,无须破坏样品即可获得应变硅异质结中位错的空间分布情况以及相关晶体学信息。

    绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法

    公开(公告)号:CN101201330A

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN200610165285.X

    申请日:2006-12-15

    Abstract: 一种绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法,它包括:(1)、根据所要检测的应变硅异质结的晶体学结构特征,按X射线双晶对称衍射几何进行实验布置;(2)、利用同步辐射单色光对样品进行双晶对称衍射获得摇摆曲线,得到应变硅异质结的衍射峰;(3)、将样品以表面法线为轴旋转180°,再次获得摇摆曲线;(4)、比较旋转180°前后的双晶摇摆曲线,判断各衍射峰与衍射结构的对应关系;(5)、调整入射线的入射角度,以使Si层衍射合峰呈现非对称性或出现分立的峰;(6)、固定入射线的入射角度,在各衍射峰上拍摄对应衍射结构的同步辐射形貌像。本发明的优点是:实验程序简单、快捷,无须破坏样品即可获得应变硅异质结中位错的空间分布情况以及相关晶体学信息。

    X射线衍射数据采集与处理系统

    公开(公告)号:CN101256159A

    公开(公告)日:2008-09-03

    申请号:CN200710064106.8

    申请日:2007-02-28

    Abstract: 本发明公开了一种X射线衍射数据采集与处理系统,它包括计算机、控制电路、测角仪、探测器、定标器、信号处理系统及X射线窗,计算机、信号处理系统、X射线窗、测角仪与控制电路相连;探测器置于测角仪上,其与信号处理系统相连;定标器置于测角仪上,其与控制电路相连。控制电路包括单片机、用于记录X射线光子数的计数器等器件。本发明采用高精度的步进电机,可控性好、定位精度高,本发明具有常规X射线衍射检测与分析功能,由于增加了控制电路,从而使系统实现了由计算机实时控制的微机化测试,提高了工作效率及质量。

    无磁性立方织构铜镍合金基带及其制备方法

    公开(公告)号:CN1239725C

    公开(公告)日:2006-02-01

    申请号:CN01141893.1

    申请日:2001-09-18

    Abstract: 一种多晶立方织构无磁性铜镍合金基带,其特征在于:该铜镍合金基带中的镍的重量百分比为15%-40%,该基带在涂层超导带材应用条件下不具有磁性;该基带具有单一组分立方织构或双轴织构{100} 。其方法将高纯度铜和镍采用中频感应熔炼成锭坯;室温下锻造成坯料;定向轧制总加工率≥95%,道次变形量为10%-20%;高温高真空或者N2中结晶退火,退火温度为750℃-1000℃。该基带以满足在此类基带上外延生长高质量钇钡铜氧YBCO厚膜的需要。

    无磁性立方织构铜镍合金基带及其制备方法

    公开(公告)号:CN1408889A

    公开(公告)日:2003-04-09

    申请号:CN01141893.1

    申请日:2001-09-18

    Abstract: 一种多晶立方织构无磁性铜镍合金基带,其特征在于:该铜镍合金基带中的镍的含量小于40重量%,该基带在涂层超导带材应用条件下不具有磁性;该基带具有单一组分立方织构或双轴织构{100} 。其方法将高纯度铜和镍采用中频感应熔炼成锭坯;室温下锻造成坯料;定向轧制总加工率≥95%,道次变形量为10%-20%;高温高真空或者N2或A2中结晶退火,退火温度为750℃-1000℃。该基带以满足在此类基带上外延生长高质量钇钡铜氧YBCO厚膜的需要。

    扫描电镜的接收装置
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2443366Y

    公开(公告)日:2001-08-15

    申请号:CN00257222.2

    申请日:2000-10-12

    Abstract: 本实用新型涉及一种背散射衍射图像接收装置,属于电子光学仪器。该仪器主要由电光转换器、X-射线防护装置、摄像机、摄像机控制单元、电子束扫描控制单元及计算机构成。电光转换器、X-射线防护装置、摄像机通过连接装置固定安装于扫描电镜窗口处,摄像机控制单元和电子束扫描控制单元由采集卡及扫描卡构成,并插装于计算机内,摄像机通过连接线与计算机连接。本实用新型结构合理,扩大电镜的工作范围,有利于对现有电镜改造。

    X射线衍射仪水平测角仪的改良结构

    公开(公告)号:CN200993580Y

    公开(公告)日:2007-12-19

    申请号:CN200620167543.3

    申请日:2006-12-18

    Abstract: 本实用新型公开了一种X射线衍射仪水平测角仪的改良结构由带有驱动马达及离合器的驱动箱、转盘、探测器、欧拉环组合构成;所述的驱动马达为步进电机,其通过驱动接线外接马达驱动控制器。在测角仪上还可设置供步进电机与外接马达驱动控制器连接的步进电机驱动接口。可采用连续或步进多种扫描形式,以期配合外接的计算机控制系统实现联机自动控制。

    一种X射线衍射数据采集系统

    公开(公告)号:CN201016944Y

    公开(公告)日:2008-02-06

    申请号:CN200720103683.9

    申请日:2007-02-28

    Abstract: 本实用新型公开了一种X射线衍射数据采集系统,它包括计算机、控制电路、测角仪、探测器、定标器、信号处理系统及X射线窗,计算机、信号处理系统、X射线窗、测角仪与控制电路相连;探测器置于测角仪上,其与信号处理系统相连;定标器置于测角仪上,其与控制电路相连。控制电路包括单片机、用于记录X射线光子数的计数器等器件。本实用新型采用高精度的步进电机,可控性好、定位精度高,本实用新型具有常规X射线衍射检测与分析功能,由于增加了控制电路,从而使系统实现了由计算机实时控制的微机化测试,提高了工作效率及质量。

    电子背散射衍射系统气动推进装置

    公开(公告)号:CN2856997Y

    公开(公告)日:2007-01-10

    申请号:CN200520107666.3

    申请日:2005-05-30

    Abstract: 本实用新型公开了一种电子背散射衍射系统气动推进装置,包括一带有进出口的法兰,一固定在法兰上带有水平导向槽的导轨及通过滑动驱动装置能沿导轨移动的滑动支架和固定在支架上随其一起运动的入像管;所述的入像管和滑动支架一块置于水平导轨上且穿过法兰的进出口伸入电镜真空工作室内;入像管前端上方装有旋转背反射衍射系统的背反射探头支座,其后端装有X-射线防护窗口;所述的滑动驱动装置,包括一固定于法兰上的气缸及上下分别固定着入像管和连杆且位于水平导轨上能够沿着导轨槽做往返移动的滑动支架,气缸活塞杆头部与连杆固定联接;入像管在气缸活塞杆的作用下通过连杆驱动滑动支架沿水平导弹轨的运动而实现其在电镜工作室内的往复移动。

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