公开(公告)号：CN118068198A

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202410465267.1

申请日：2024-04-18

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 王乐红 ,  宋海飞 ,  陈捷 ,  贾国强 ,  闪俊杰 ,  宋亚楠 ,  李红飞 ,  于亚运 ,  原义栋 ,  李学森

IPC: G01R31/367 ,  G01R31/3835 ,  G01R31/392

Abstract: 本公开涉及电池电压采样技术领域，具体涉及一种基于多重修正卡尔曼滤波的电池电压采样方法和装置、电子设备、介质及产品。所述方法包括：根据基本状态方程和基本观测方程建立电池电压采样电路的卡尔曼滤波状态方程、卡尔曼滤波观测方程和卡尔曼增益计算方程，然后利用所建立的方程计算电池电压采样电路在指定采样时刻的电压估计值以及在多个历史采样时刻的电压状态偏差和卡尔曼增益，并利用多个历史采样时刻的电压状态偏差和卡尔曼增益，对指定采样时刻的电压估计值进行多重修正，获得电池电压采样电路在指定采样时刻的最优电压估计值，作为在指定采样时刻的电压采样值。本公开提高了电池电压采样时结果的准确性，对周期性噪声的滤波效果明显。

公开(公告)号：CN118502201A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410485289.4

申请日：2024-04-22

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 连亚军 ,  安铁雷 ,  王凯 ,  吴波 ,  刘芳 ,  陈燕宁 ,  赵东艳 ,  李学森 ,  左阿惠

IPC: G03F7/20 ,  G03F7/16 ,  G06F30/12

Abstract: 本发明涉及半导体工艺技术领域，提供一种光刻胶均匀覆盖晶圆表面的仿真方法，包括：在仿真工具中输入沉积光刻胶和硬掩膜的命令，在晶圆表面形成均匀厚度的第一光刻胶和第一掩膜版；利用仿真工具中的photo命令，在第一掩膜版表面形成具有预设图形窗口的第二光刻胶第二掩膜版；输入刻蚀命令，在第二掩膜版的保护下对第一掩膜版进行刻蚀，在第一掩膜版形成刻蚀窗口；输入刻蚀命令，在第一掩膜版的保护下沿第一掩膜版的刻蚀窗口对第一光刻胶进行刻蚀；输入刻蚀命令，刻蚀掉第一光刻胶表面剩余的第一掩膜版，得到均匀覆盖晶圆表面的光刻胶。本发明解决了仿真工具中photo命令下涂覆光刻胶的高度不能随晶圆表面的高度变化而变化的问题。

公开(公告)号：CN118068198B

公开(公告)日：2024-08-02

申请号：CN202410465267.1

申请日：2024-04-18

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 王乐红 ,  宋海飞 ,  陈捷 ,  贾国强 ,  闪俊杰 ,  宋亚楠 ,  李红飞 ,  于亚运 ,  原义栋 ,  李学森

IPC: G01R31/367 ,  G01R31/3835 ,  G01R31/392

Abstract: 本公开涉及电池电压采样技术领域，具体涉及一种基于多重修正卡尔曼滤波的电池电压采样方法和装置、电子设备、介质及产品。所述方法包括：根据基本状态方程和基本观测方程建立电池电压采样电路的卡尔曼滤波状态方程、卡尔曼滤波观测方程和卡尔曼增益计算方程，然后利用所建立的方程计算电池电压采样电路在指定采样时刻的电压估计值以及在多个历史采样时刻的电压状态偏差和卡尔曼增益，并利用多个历史采样时刻的电压状态偏差和卡尔曼增益，对指定采样时刻的电压估计值进行多重修正，获得电池电压采样电路在指定采样时刻的最优电压估计值，作为在指定采样时刻的电压采样值。本公开提高了电池电压采样时结果的准确性，对周期性噪声的滤波效果明显。