公开(公告)号：CN103293468A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310121467.7

申请日：2013-04-09

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 周婧 ,  陈雷 ,  王硕 ,  文治平 ,  李学武 ,  刘增荣 ,  陈勋 ,  齐畅 ,  孙雷 ,  陶娟娟

IPC: G01R31/3185

Abstract: 一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统及方法，注入系统包括控制芯片、待测器件和对比器件，待测器件与对比器件为相同的FPGA芯片且均与控制芯片连接，控制芯片包括待测器件故障注入模块、运行激励模块、结果比较模块和错误信息上传模块。控制芯片通过翻转配置码流的方式将故障注入进待测芯片中，同时运行待测器件和对比芯片，之后对比两者的运行结果，如果结果相同，证明待测器件没有发生错误，对该位错误不敏感，反之，证明待测器件发生错误，该位为错误敏感位。本发明可以方便的检测可编程逻辑器件的故障敏感度。

公开(公告)号：CN103744014B

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201310724722.7

申请日：2013-12-24

Applicant: 北京微电子技术研究所 ,  中国运载火箭技术研究院

Inventor： 陈雷 ,  周婧 ,  赵元富 ,  文治平 ,  齐畅 ,  刘泓 ,  武斌 ,  王硕 ,  李学武 ,  加春雷

IPC: G01R31/3181

Abstract: 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板；电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口；测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA；上位机负责流程控制和数据处理；电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流；测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块，可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新；且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试，结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。

公开(公告)号：CN103744014A

公开(公告)日：2014-04-23

申请号：CN201310724722.7

申请日：2013-12-24

Applicant: 北京微电子技术研究所 ,  中国运载火箭技术研究院

Inventor： 陈雷 ,  周婧 ,  赵元富 ,  文治平 ,  齐畅 ,  刘泓 ,  武斌 ,  王硕 ,  李学武 ,  加春雷

IPC: G01R31/3181

Abstract: 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板；电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口；测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA；上位机负责流程控制和数据处理；电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流；测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块，可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新；且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试，结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。