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公开(公告)号:CN103901342A
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN201410101432.1
申请日:2014-03-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/3183
Abstract: 一种基于掩码文件的FPGA精确故障注入系统及方法,包括掩码文件产生模块、故障注入过程控制模块和精确故障注入模块三个模块。掩码文件产生模块根据FPGA片上可编程资源与配置码流之间的映射关系生成掩码文件,并将掩码文件提供给故障注入过程控制模块;故障注入过程控制模块对接收到的掩码文件按数据帧为单位进行分析处理,再将掩码数据帧提供给精确故障注入模块;精确故障注入模块根据接收到的掩码数据帧,生成包括故障信息的单帧码流并注入FPGA中,故障注入过程控制模块采集故障注入结果并上传给上位机。本发明根据FPGA片上可编程资源进行精确注入,可以显著提高评估FPGA单粒子效应所需效率,有更强的针对性,从而有利于FPGA抗辐射加固技术的研究。
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公开(公告)号:CN103901342B
公开(公告)日:2017-09-29
申请号:CN201410101432.1
申请日:2014-03-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/3183
Abstract: 一种基于掩码文件的FPGA精确故障注入系统及方法,包括掩码文件产生模块、故障注入过程控制模块和精确故障注入模块三个模块。掩码文件产生模块根据FPGA片上可编程资源与配置码流之间的映射关系生成掩码文件,并将掩码文件提供给故障注入过程控制模块;故障注入过程控制模块对接收到的掩码文件按数据帧为单位进行分析处理,再将掩码数据帧提供给精确故障注入模块;精确故障注入模块根据接收到的掩码数据帧,生成包括故障信息的单帧码流并注入FPGA中,故障注入过程控制模块采集故障注入结果并上传给上位机。本发明根据FPGA片上可编程资源进行精确注入,可以显著提高评估FPGA单粒子效应所需效率,有更强的针对性,从而有利于FPGA抗辐射加固技术的研究。
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公开(公告)号:CN103293468A
公开(公告)日:2013-09-11
申请号:CN201310121467.7
申请日:2013-04-09
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统及方法,注入系统包括控制芯片、待测器件和对比器件,待测器件与对比器件为相同的FPGA芯片且均与控制芯片连接,控制芯片包括待测器件故障注入模块、运行激励模块、结果比较模块和错误信息上传模块。控制芯片通过翻转配置码流的方式将故障注入进待测芯片中,同时运行待测器件和对比芯片,之后对比两者的运行结果,如果结果相同,证明待测器件没有发生错误,对该位错误不敏感,反之,证明待测器件发生错误,该位为错误敏感位。本发明可以方便的检测可编程逻辑器件的故障敏感度。
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