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公开(公告)号：CN103744014B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201310724722.7
申请日：2013-12-24
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01R31/3181
Abstract: 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板；电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口；测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA；上位机负责流程控制和数据处理；电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流；测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块，可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新；且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试，结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。
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公开(公告)号：CN103744014A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201310724722.7
申请日：2013-12-24
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01R31/3181
Abstract: 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板；电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口；测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA；上位机负责流程控制和数据处理；电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流；测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块，可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新；且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试，结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。
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公开(公告)号：CN113505561B
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202110738637.0
申请日：2021-06-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/394 , G06F30/398
Abstract: 本发明涉及一种软错误感知的FPGA布局布线方法，先完成对FPGA内布线资源发生的软错误的分析与建模；基于对软错误模型的研究，在布局布线过程中引入抗辐射因子，增加布局布线方法的软错误感知能力；针对布局过程中因随机过程和迭代而导致的收敛慢的问题，使用直接过程加强化学习的方法对布局流程进行优化，使布局过程更加智能高效；针对布线速度慢的问题，在新型重布线策略的基础上对不同特征的线网进行递归划分，进而采取不同的并行布线策略完成并行布线过程。该布局布线方法具有软错误感知的能力，可以缓解因FPGA内布线资源发生软错误而对电路性能造成的影响，同时能够在增加系统智能化程度的基础上，降低系统编译时间。
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公开(公告)号：CN113886158B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202111145489.8
申请日：2021-09-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种自动化的FPGA故障注入测试系统以及方法，该方法包括通过上位机软件读取待测电路文件；提取其中的输入输出信号等用户设计相关的信息；根据提取的信息自动生成用户设计控制电路，并与预定义的故障注入控制电路进行互连结合，自动生成完整的故障注入系统文件；通过Tcl脚本自动执行下位机硬件的综合实现过程；从而实现故障注入系统的自动化生成。本发明降低了故障注入系统的开发难度和使用门槛，节省了手工搭建故障注入系统的繁琐，使得设计人员无需深入研究复杂的FPGA设计方法，无需具备电路设计基础，即可方便进行故障注入系统的开发与搭建，提升了故障注入系统的使用范围，设计人员可以快速便捷地评估FPGA电路的可靠性。
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公开(公告)号：CN117131811A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311035740.4
申请日：2023-08-16
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/30 , G06F115/12
Abstract: 本发明涉及一种面向Verilog中Case语句的综合方法，首先对器件工艺库和包含Case语句的网表文件进行解析，得到描述Case语句的数据矩阵和地址矩阵，并构建保留“default”项的矩阵MatD和将“default”项展开的矩阵MatE；根据当前Case语句的规模，确定分解策略并分解；循环直至Case语句分解完毕，最后对分解得到的网络进行通用优化，并输出网表文件。本发明能够有效处理不同规模的Case语句，在给定工艺下，减小门级网表的延迟和面积，提升网表运行效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116992801A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202211093426.7
申请日：2022-09-06
Applicant: 杭州电子科技大学 , 北京微电子技术研究所 , 北京卓芯半导体科技有限公司
IPC: G06F30/3308 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了一种考虑TDDB效应的电路评估方法。本发明包括如下步骤：1、首先进行电路仿真，得到该仿真时间段内电路的电压波形；然后根据该波形计算TDDB效应造成电路失效的时间，并将该失效时间转换为退化指标；2、判断步骤1中得到的退化指标是否小于1，若小于1则说明该电路的裕量过小，需重新设计；若大于等于1，说明该电路在TDDB效应的影响下仍可以在设计的裕量下正常工作，未超出预期。本发明基于电压实时波形计算TDDB效应引起的退化，将其转化为退化指标来评估电路性能，具有灵活性、高可靠性以及易于实现的优点，能够在电路超出预期失效时间前准确地给出提示信号，更好地评估TDDB效应对电路性能的影响，有利于在设计阶段加强电路的可靠性。
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公开(公告)号：CN116886275A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310484311.9
申请日：2023-04-28
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: H04L9/08
Abstract: 本发明属于FPGA安全领域，具体涉及一种FPGA比特流加解密系统安全性评估的方法和装置，旨在解决现有的FPGA芯片存在加密比特流被解析的风险，若无法有效检测，会造成极大的安全性隐患的问题。本发明方法包括：获取加密比特流，作为第一比特流；基于明文比特流中各子功能对应的位置，对第一比特流进行密文修改，得到第二比特流；对第二比特流进行解密，并读取解密后的第二比特流的片段，作为第三比特流；将第三比特流与明文比特流进行比对，根据比对结果得到目标FPGA芯片其对应的比特流加解密系统的安全性。本发明实现了对FPGA芯片中可能被解析的加密比特流的有效检测，即评估，提升了FPGA芯片的安全性。
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公开(公告)号：CN115080318A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210674247.6
申请日：2022-06-14
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263 , G11C19/28
Abstract: 本发明提供了一种FPGA故障注入与故障定位方法、装置、设备、存储介质，方法包括：获取用户设计所使用FPGA中资源的Tile级坐标；利用FPGA的特征参数将资源的Tile级坐标转化为相应的帧地址和起始位偏移；对所使用资源的配置位进行逐位翻转注入，并记录每一配置位注入之后FPGA输出的数据；根据FPGA输出的数据确定会导致FPGA功能异常的配置位，反推出所有由于故障注入而出错的Tile级资源坐标，进而反推出资源对应的用户设计。本发明通过通用的Tile级资源坐标转化方式，使故障注入与故障定位适用于不同型号的SRAM型FPGA，大大提高了通用性，并且根据故障注入之后的结果信息能够自动反推出敏感的用户设计，方便设计人员对FPGA设计的可靠性进行评估，为后续的加固措施提供依据。
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公开(公告)号：CN114970422A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210333437.1
申请日：2022-03-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/347
Abstract: 本发明属于集成电路领域，具体涉及一种基于强化学习的FPGA布局方法:首先,根据输入的网表文件，提取出FPGA设计电路中所包含的逻辑单元，进而完成逻辑单元的初始化布局操作；针对传统模拟退火方法布局收敛慢的问题，提出了多种搜索区域构建方法，能够有效提升布局解空间的搜索效率；在此基础上，提出了一种基于强化学习的最优搜索区域选择方法，能够自适应地选择出最优的搜索区域执行逻辑单元的交换操作。该布局方法能够在保持所需要的线长与关键路径延时的情形下，大幅度降低FPGA布局所需花费的时间。
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公开(公告)号：CN113505561A
公开(公告)日：2021-10-15
申请号：CN202110738637.0
申请日：2021-06-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/394 , G06F30/398
Abstract: 本发明涉及一种软错误感知的FPGA布局布线方法，先完成对FPGA内布线资源发生的软错误的分析与建模；基于对软错误模型的研究，在布局布线过程中引入抗辐射因子，增加布局布线方法的软错误感知能力；针对布局过程中因随机过程和迭代而导致的收敛慢的问题，使用直接过程加强化学习的方法对布局流程进行优化，使布局过程更加智能高效；针对布线速度慢的问题，在新型重布线策略的基础上对不同特征的线网进行递归划分，进而采取不同的并行布线策略完成并行布线过程。该布局布线方法具有软错误感知的能力，可以缓解因FPGA内布线资源发生软错误而对电路性能造成的影响，同时能够在增加系统智能化程度的基础上，降低系统编译时间。
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