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公开(公告)号：CN118197370A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410249797.2
申请日：2024-03-05
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G11C5/14 , G11C11/417
Abstract: 本发明公开了一种面向抗辐照SRAM型FPGA配置存储阵列供电的保护电路，包括保护电压产生电路和驱动电路。本发明利用保护电压与MOS管组成的支路为驱动电路提供额外的电流通路，在辐射条件下，当辐射电离效应导致器件产生表面缺陷，PMOS功率晶体管阈值电压升高时，供电保护电路能够保护SRAM供电电压，防止SRAM掉电损失数据。
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公开(公告)号：CN116366058A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202210992137.4
申请日：2022-08-17
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种基于采样保持的电荷泵锁相环锁定检测电路，其特征在于，包括：电压电压转换电路A、电压电压转换电路B、采样保持电路SH1、采样保持电路SH2和比较器。电荷泵锁相环中环路滤波器输出的控制电压作为锁定检测电路的输入，其分别连接到电压电压转换电路A与电压电压转换电路B的输入，其中电压电压转换电路B输出端连接压控振荡器的输入；电压电压转换电路A输出端连接采样保持电路SH1与采样保持电路SH2的输入进行信号采样，相邻时间窗口下采样保持电路SH1与SH2将采样结果分别保存在输出端，SH1的输出连接比较器的正极输入，SH2的输出连接比较器的负极输入，锁定结果由比较器的输出电压确定。
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公开(公告)号：CN116366057A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202210989374.5
申请日：2022-08-17
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于模数转换电路的抗辐照电荷泵锁相环锁定检测电路，包括：电压电压转换电路、模数转换电路和精度可调判断电路。本发明利用两个电压电压转换电路，在保证锁相环环路正常工作的条件下，将控制电压这一敏感信号引出，进而利用模数转换电路对控制电压进行量化，通过判断电路中触发器与逻辑门电路，在相邻两个时间窗口对量化结果进行比较，判断电路锁定。锁定检测精度可调，提高了控制电压波动判别容限，避免受辐照影响锁定状态误判为非锁定状态。
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公开(公告)号：CN108023587B
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN201711083475.1
申请日：2017-11-07
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K19/20
Abstract: 一种可编程配置逻辑块中的单粒子加固时钟控制电路及控制方法，摒弃传统的时钟控制电路，采用时序和LAT结构实现对行、列、数据信号的锁存和译码，并实现将使能信号与时钟信号同步，产生移位交叠时钟，控制数据的移位；在此基础上采用加固SRAM和加固RS触发器设计实现用户寄存器的抗单粒子加固功能，提高了时钟控制电路的抗单例子翻转的能力。本发明单粒子加固时钟控制电路电路中单粒子加固指标比传统寄存器提高3个数量级，使用户在使用可编程用户寄存器时具有更高的灵活性、更好的时序性能和极高的抗单粒子加固指标。
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公开(公告)号：CN111025133A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911019101.2
申请日：2019-10-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181
Abstract: 本发明涉及一种二阶Booth编码Wallace树乘法器电路的测试方法：S1、获取乘法器结构；S2、生成用于测试部分积产生电路的测试向量集合；S3、生成用于部分积压缩电路的测试向量集合：遍历部分积压缩电路中所有的压缩器单元的所有输入，得到部分积阵列输出的集合；根据乘法器拓扑结构，将部分积阵列输出的集合中的每个部分积阵列输出转换成乘法器的原始输入，从而得到用于测试部分积压缩电路的测试向量集合；S4、对比用于部分积产生电路和部分积压缩电路的测试向量，去除重复的测试向量，得到最终的测试向量集输入到乘法器中进行测试验证；S5、采用伪随机码测试方法，对最终求和电路部分的测试。本发明采用较少的测试向量，实现较高的测试覆盖率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116366057B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202210989374.5
申请日：2022-08-17
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于模数转换电路的抗辐照电荷泵锁相环锁定检测电路，包括：电压电压转换电路、模数转换电路和精度可调判断电路。本发明利用两个电压电压转换电路，在保证锁相环环路正常工作的条件下，将控制电压这一敏感信号引出，进而利用模数转换电路对控制电压进行量化，通过判断电路中触发器与逻辑门电路，在相邻两个时间窗口对量化结果进行比较，判断电路锁定。锁定检测精度可调，提高了控制电压波动判别容限，避免受辐照影响锁定状态误判为非锁定状态。
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公开(公告)号：CN113900980A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111012598.2
申请日：2021-08-31
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明提供一种面向高速数据传输的可编程通用接口电路，包括可编程延时单元、延时自校准单元、串并转换器、数据恢复单元、时钟生成器和时钟对齐电路，可实现时钟和数据的精确相移、数据串并转换、边沿检测、数据恢复等功能，采用4个时钟相位和2个数据采样组合的方式实现一个时钟周期内对数据的8次采样，从而选择最佳采样点。本发明可在温度和电压变化、抖动等情况下实时更新最佳采样点位置，有效减小数据抖动，提高采样质量，最高采样频率可达到1.25Gbps。
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公开(公告)号：CN110931074A
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201911167032.X
申请日：2019-11-25
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种用于抗单粒子翻转存储器的可选位宽纠检错电路，包括纠检错编码模块和纠检错解码模块；纠检错编码模块能够对11～64位宽的输入数据进行校验码编码操作，生成用于对数据进行纠检错的8位校验码，和输入数据一起输出给纠检错解码模块；纠检错解码模块对数据信号进行解码校验，当数据信号中存在一位错误时输出一位错误提示以及错误位置，并对错误进行纠正，当数据信号中存在两位错误时输出两位错误提示。本发明能够使用较少电路面积，在不占用过多的数据位宽前提下实现对11～64位数据的校验和纠检错，配合耐多位单粒子翻转的存储器结构实现对存储器抗单粒子翻转指标的提升，并可根据用户需求选择启用纠错和检错功能或只启用其中之一，实现更好的灵活性。
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公开(公告)号：CN108712166A
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201810161906.X
申请日：2018-02-27
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K19/0185 , H03K19/0175
CPC classification number: H03K19/018507 , H03K19/017581
Abstract: 一种自适应电平转换电路，当高电压电源输出电压不低于设定阈值时，仅开启宽范围电平转换单元，当高电压电源输出电压低于设定阈值时，再开启加速电平转换单元，宽范围电平转换单元和加速电平转换单元分别控制输出驱动单元输出与输入数据A的逻辑对应的逻辑电压。通过使用宽范围电平转换单元与加速电平转换单元的结合来满足多种电源电压对电平转换电路的需求，通过使用电源电压比较器可以动态控制加速电平转换单元，来实现不同电源电压下自适应的电平转换能力。本发明与传统电平转换电路相比，能够提供更大的电源电压转换范围，同时在不同的电源电压环境下能够提供更高的转换速度。
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公开(公告)号：CN112600547B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202011439450.2
申请日：2020-12-07
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K19/017 , H03K19/0185
Abstract: 一种宽范围输入输出接口电路，属于集成电路领域；作为输出接口的情况下，利用辅助电压产生单元(103)的开启与关闭，通过双模式电平转换单元，使输出驱动单元(101)中PMOS晶体管栅源电压等于内核工作电源电压；作为输入接口的情况下，利用辅助电压产生单元(103)的开启与关闭，通过耐压输入缓冲器单元(104)和耐压输入缓冲器单元(105)的开启与关闭，使耐压输入缓冲器单元(104)中PMOS晶体管栅源电压等于输入输出接口电源电压。
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