一种新型的大存储量高速FPGA辅助配置系统

    公开(公告)号:CN111176911B

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN201911129123.4

    申请日:2019-11-18

    Abstract: 本发明涉及一种新型的大存储量高速FPGA辅助配置系统,所述的配置存储器模块中存储配置阶段主控FPGA模块的运行配置文件;配置存储器模块在每次系统上电时,将存储的运行配置文件发送至主控FPGA模块,主控FPGA模块完成配置;在烧写阶段,从上位机将烧写阶段配置文件发送至主控FPGA模块,主控FPGA模块完成烧写控制配置,所述上位机烧写模块将配置码流通过通信模块发送至主控FPGA模块,由主控FPGA模块将配置码流烧写至码流存储器,系统断电;在配置阶段,系统上电,待主控FPGA模块运行配置文件完成配置后,接收外部发送的配置指令,从码流存储器中获取对应的配置码流,并将获取的配置码流通过通信模块发送至待测FPGA,完成待测FPGA的配置。

    一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法

    公开(公告)号:CN112597009A

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN202011480339.8

    申请日:2020-12-15

    Abstract: 本发明涉及一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法,具体步骤如下:步骤1:产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集;步骤2:使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算;步骤3:由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量;步骤4:使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的单测试向量,对原测试向量集进行排序优化,完成对测试向量集的优化。通过以上步骤,在不降低测试覆盖率的前提下,采用基于覆盖率排序的量产测试优化方法完成对测试向量集的排序优化,可以有效提高测试向量集的测试效率,缩短配置测试时间,降低配置测试成本。

    一种新型的大存储量高速FPGA辅助配置系统

    公开(公告)号:CN111176911A

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201911129123.4

    申请日:2019-11-18

    Abstract: 本发明涉及一种新型的大存储量高速FPGA辅助配置系统,所述的配置存储器模块中存储配置阶段主控FPGA模块的运行配置文件;配置存储器模块在每次系统上电时,将存储的运行配置文件发送至主控FPGA模块,主控FPGA模块完成配置;在烧写阶段,从上位机将烧写阶段配置文件发送至主控FPGA模块,主控FPGA模块完成烧写控制配置,所述上位机烧写模块将配置码流通过通信模块发送至主控FPGA模块,由主控FPGA模块将配置码流烧写至码流存储器,系统断电;在配置阶段,系统上电,待主控FPGA模块运行配置文件完成配置后,接收外部发送的配置指令,从码流存储器中获取对应的配置码流,并将获取的配置码流通过通信模块发送至待测FPGA,完成待测FPGA的配置。

    一种单粒子加固的可编程用户寄存器电路

    公开(公告)号:CN105790755B

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201610109372.7

    申请日:2016-02-26

    Abstract: 一种单粒子加固的可编程用户寄存器电路,通过对传统锁存器采用双冗余互锁结构的电路实现用户寄存器的单粒子加固设计,在此基础上加入多模可编程控制开关使用户寄存器能够在多种工作模式间切换,采用了多电源多模控制器电路,在数据路径上使用用户逻辑电源,在可编程开关上使用多模开关控制电源能够完全消除双冗余互锁结构的单粒子加固设计和可编程开关产生的时序影响。本发明单粒子加固指标比传统寄存器提高3个数量级,并且可以实现边沿触发器、电平锁存器、同步/异步的置位/复位、数据保持等可编程功能,使用户在使用可编程用户寄存器时具有更高的灵活性、更好的时序性能和极高的抗单粒子加固指标。

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