公开(公告)号：CN116155406A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202211732908.2

申请日：2022-12-30

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 王硕 ,  高启轩 ,  李犇 ,  刘星汛 ,  齐万泉 ,  马蔚宇

IPC: H04B17/15

Abstract: 本说明书涉及信号测量领域，公开了一种针对大功率发射机产品的测试方法和系统，用以解决现有技术中大功率发射机谐波、乱真幅值测量结果准确性不足的问题。本发明包括：将待测发射机、大功率衰减器和EMI接收机顺次通过电缆连接；使待测发射机出预设的工作信号；调整EMI接收机的扫描参数，获得基波功率电平最大指示值；将适配阻带频段的带阻滤波器替换大功率衰减器，抑制基波幅值，获得传递信号；扫描获得天线端口谐波和乱真传导发射电平；比对预设的测试标准获得测试结果。本发明通过完善试验方法，将有效提高对于关键发射机产品的天线端口谐波和乱真传导发射电平的测量和评估。提升实验室对天线端口传导发射试验过程中的准确性和可操作性。

公开(公告)号：CN104597331A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201410800313.5

申请日：2014-12-18

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 马永光 ,  韩玉峰 ,  钱冰华 ,  高启轩

IPC: G01R29/10 ,  G06F19/00

Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和处于测试区内的待测天线所在位置为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到到处于测试区任意位置的待测天线的传播路径长为长轴长度，在紧缩场暗室中构建一个椭球面；椭球面与紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为同步反射点位置。该方法快速的找到紧缩场内反射信号与直射波信号同时到达接收天线的同步反射点位置。

公开(公告)号：CN119827850A

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202411966082.5

申请日：2024-12-30

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 高启轩 ,  王楠 ,  何锦 ,  尚柱冈

IPC: G01R29/10 ,  G01R35/00 ,  G01R35/02

Abstract: 本申请公开了一种用于场均匀面测试的测试系统，包括：探头支撑装置以及软件控制设备，探头支撑装置包括：机械结构和控制器，其中，机械结构，设置为使探头在辐射天线主波束覆盖的空间范围内行进和驻留，以获取辐射空间内各测试点位的场强；控制器，与机械结构通信连接，设置为对机械结构进行控制；软件控制设备，与控制器连接，设置为运行扫描架控制软件以及场均匀性测试软件，扫描架控制软件用于设置机械结构的运动参数，场均匀性测试软件用于根据辐射空间内各测试点位的场强对辐射空间内的场均匀性进行测试。本申请解决了现有的场均匀性测量方法所使用的探头支撑装置常用在与辐射源固定距离下的定位，不具备自动更换扫描位置的扫描功能的问题。

公开(公告)号：CN119827847A

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202411966073.6

申请日：2024-12-30

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 王硕 ,  高启轩 ,  纪翔 ,  李小青 ,  刘星汛 ,  齐万泉

IPC: G01R29/08 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明公开一种针对芯片引脚传导发射电压的测试装置及方法，包括设置有供电电源的测试电路板、测试探头、和接收机，测试探头包含测试探针和阻抗匹配网络，测试探针直接接触待测芯片的待测引脚，阻抗匹配网络的输入端连接测试探针，输出端连接接收机，待测芯片放置于测试电路板上，供电电源给待测芯片供电形成噪声源，接收机在预设频率范围内扫频得到芯片发射电压测试数据。利用芯片级测试探头测量芯片引脚处的对外发射电压幅值，为芯片的集成电路设计阶段，对无用信号的传导发射输出抑制能力和电路间的电磁兼容性提供评估方法和测量手段，也可作为芯片电磁兼容性筛选的依据。

公开(公告)号：CN118133597A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202311855190.0

申请日：2023-12-29

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 王硕 ,  唐元贵 ,  高启轩 ,  刘星汛 ,  齐万泉 ,  赵镇帅

IPC: G06F30/23 ,  G06F17/13

Abstract: 本发明提供一种芯片校准夹具的阻抗特性仿真分析方法及装置，所述方法包括：通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型；对所述仿真模型进行有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。本发明通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型并开展有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，可并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。

公开(公告)号：CN118130919A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202311855194.9

申请日：2023-12-29

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 王硕 ,  高启轩 ,  纪翔 ,  韩玉峰 ,  齐万泉 ,  赵镇帅

IPC: G01R29/10 ,  G01R31/00 ,  G01S7/40

Abstract: 本发明提供一种基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置，方法包括：搭建紧缩场测试暗室，所述紧缩场测试暗室包括：反射面、馈源和馈源转台，利用焦点处高性能馈源照射高精度反射面形成平面波信号，反射面边缘的处理和微波暗室的配合以在空间测试区域创造出一个静区，所述静区用于模拟被测物在无反射的自由空间中的辐射特性；在所述紧缩场测试暗室创造的无反射的自由空间的辐射特性条件下，对待测试的雷达天线进行谐波乱真测量。本发明在紧缩场的测量暗室环境下，利用反馈面形成平面波以等效远场测试条件，有效避免了外场测试条件的复杂电磁环境干扰，使其能够准确的测量由天线端辐射发射出的谐波、乱真干扰信号。